絕緣柵雙極晶體管(IGBT)作為電力電子系統(tǒng)的核心開關(guān)器件，廣泛應(yīng)用于工業(yè)變頻、新能源發(fā)電、軌道交通等領(lǐng)域。在實際運行中，過流引發(fā)的芯片燒毀是最常見的失效模式之一，而燒點位置的差異往往對應(yīng)著不同的失效機(jī)理。其中，芯片正中心出現(xiàn)燒點的現(xiàn)象在三相全橋等大功率應(yīng)用場景中尤為典型，其形成并非單一因素導(dǎo)致，而是電流分布、熱傳導(dǎo)、封裝結(jié)構(gòu)及保護(hù)機(jī)制等多因素協(xié)同作用的結(jié)果。本文將深入剖析IGBT過流時芯片正中心產(chǎn)生燒點的具體工況與內(nèi)在機(jī)理，為失效診斷與系統(tǒng)優(yōu)化提供參考。

芯片正中心燒點的核心成因是過流狀態(tài)下芯片中心區(qū)域形成局部熱失控，而熱失控的前提是中心區(qū)域的電流密度與溫度顯著高于周邊區(qū)域。正常工況下，IGBT芯片通過柵極電壓控制導(dǎo)電溝道的形成，電流均勻分布于整個芯片有源區(qū)，熱量通過焊層、基板向散熱器傳導(dǎo)，溫度分布相對均衡。但在特定過流條件下，這種均衡狀態(tài)被打破，中心區(qū)域成為能量集中的薄弱環(huán)節(jié)，最終形成燒點。

對稱式過流與電流集中是導(dǎo)致中心燒點的首要工況。在三相全橋IGBT模塊中，若發(fā)生負(fù)載短路或橋臂誤導(dǎo)通導(dǎo)致的對稱過流，電流會沿芯片對稱路徑流動，此時芯片中心區(qū)域成為電流匯聚的核心。這種對稱式電流分布常見于負(fù)載三相短路、驅(qū)動信號同步異常等場景，電流并非均勻分散于芯片邊緣，而是向中心區(qū)域集中，導(dǎo)致中心區(qū)域電流密度驟增。根據(jù)焦耳定律，功率損耗與電流密度的平方成正比，中心區(qū)域的功率損耗會呈指數(shù)級上升，形成局部高溫區(qū)。當(dāng)溫度超過硅材料的耐受極限(通常超過300℃)時，硅晶格結(jié)構(gòu)被破壞，最終形成中心燒點。與邊緣燒點多由單側(cè)電流沖擊不同，中心燒點對應(yīng)的過流往往具有對稱性，這也是其區(qū)別于其他燒點形態(tài)的關(guān)鍵特征。

封裝與熱傳導(dǎo)缺陷加劇中心熱積聚，是形成中心燒點的重要輔助條件。IGBT芯片通過焊料層與基板連接，若焊料層存在中心區(qū)域空洞或厚度不均的缺陷，會嚴(yán)重阻礙中心區(qū)域的熱傳導(dǎo)?？斩醋鳛闊峤^緣體，會迫使熱量在中心區(qū)域繞行傳導(dǎo)，導(dǎo)致熱阻急劇增大。實驗數(shù)據(jù)表明，當(dāng)焊料層中心空洞率超過20%時，芯片中心結(jié)溫可較正常情況升高15-25℃，在過流條件下，這種溫升效應(yīng)會被進(jìn)一步放大。此外，散熱器設(shè)計不合理導(dǎo)致的中心散熱薄弱也會加劇這一現(xiàn)象，若散熱器接觸壓力不均或中心區(qū)域?qū)峤橘|(zhì)缺失，會使中心區(qū)域產(chǎn)生的熱量無法及時散發(fā)，形成熱積聚循環(huán)。這種“電流集中+熱傳導(dǎo)受阻”的疊加效應(yīng)，會使中心區(qū)域溫度快速突破極限，最終形成燒點。在實際應(yīng)用中，空調(diào)、工業(yè)變頻器等長期高負(fù)荷運行的設(shè)備，焊料層易出現(xiàn)老化空洞，因此更易出現(xiàn)此類失效。

柵極驅(qū)動均勻性不足與擎住效應(yīng)的疊加，會進(jìn)一步鎖定中心燒點的形成。IGBT的導(dǎo)通狀態(tài)由柵極電壓控制，若柵極驅(qū)動電路設(shè)計不當(dāng)，導(dǎo)致柵極電壓在芯片表面分布不均，中心區(qū)域柵極電壓略高于周邊時，會使中心區(qū)域?qū)щ姕系栏鼘挘娏鞲紫蛑行膮R聚。更關(guān)鍵的是，過流時的擎住效應(yīng)會加劇這一過程。IGBT內(nèi)部存在寄生晶閘管結(jié)構(gòu)，當(dāng)過流導(dǎo)致電流密度超過臨界值時，寄生晶閘管會被觸發(fā)導(dǎo)通，此時柵極失去控制作用，電流持續(xù)增大。由于中心區(qū)域電流密度已處于峰值，擎住效應(yīng)會優(yōu)先在中心區(qū)域發(fā)生，導(dǎo)致中心區(qū)域功率損耗持續(xù)攀升，形成熱失控。這種情況下，即使過流時間較短，也會在中心區(qū)域形成明顯燒點，且燒點多呈方形，與柵極控制的導(dǎo)電溝道分布規(guī)律相符。

過流保護(hù)機(jī)制失效是中心燒點形成的必要條件。IGBT具有一定的抗過流能力，但耐受時間極短(通常不超過10μs)，有效的過流保護(hù)是避免燒毀的關(guān)鍵。若過流保護(hù)電路響應(yīng)延遲、檢測閾值設(shè)置過高，或因電磁干擾導(dǎo)致保護(hù)信號失效，會使IGBT在過流狀態(tài)下持續(xù)工作，給中心區(qū)域熱積聚提供足夠時間。在對稱過流場景中，保護(hù)機(jī)制的失效會讓中心區(qū)域的電流集中與熱積聚過程不受干預(yù)地持續(xù)，最終導(dǎo)致芯片中心燒毀。實際案例中，多起三相全橋IGBT模塊中心燒點失效均伴隨過流保護(hù)未及時動作的現(xiàn)象，印證了保護(hù)機(jī)制失效的關(guān)鍵作用。

需要注意的是，并非所有過流都會導(dǎo)致中心燒點。若過流具有單側(cè)沖擊特性，如單相短路、PCB布局不對稱導(dǎo)致的電流偏移，燒點多出現(xiàn)于芯片邊緣;若高溫環(huán)境下的非對稱過流，燒點位置則相對分散。而中心燒點的特異性在于其對應(yīng)的過流工況具有對稱性、電流匯聚性，且伴隨熱傳導(dǎo)或驅(qū)動系統(tǒng)的對稱缺陷。在失效復(fù)現(xiàn)試驗中，若僅通過降低門極電壓或高溫過流無法復(fù)現(xiàn)中心燒點，需重點模擬對稱式過流與焊料層中心缺陷的疊加工況，才能精準(zhǔn)復(fù)現(xiàn)失效現(xiàn)象。

綜上所述，IGBT過流時芯片正中心出現(xiàn)燒點，核心工況是對稱式過流導(dǎo)致的電流中心集中，同時需滿足熱傳導(dǎo)缺陷(如焊料中心空洞)、柵極驅(qū)動均勻性不足及過流保護(hù)失效等輔助條件。這一失效模式的本質(zhì)是“電流集中-熱積聚-熱失控”的惡性循環(huán)，且各環(huán)節(jié)均呈現(xiàn)對稱分布特征。在工程實踐中，針對此類失效，可通過優(yōu)化PCB布局保證電流對稱分布、提升焊料工藝減少中心空洞、優(yōu)化柵極驅(qū)動電路保證電壓均勻性、增強過流保護(hù)的響應(yīng)速度等措施，提升IGBT模塊的可靠性，降低失效風(fēng)險。對燒點位置的精準(zhǔn)判斷，也能為失效溯源提供關(guān)鍵依據(jù)，幫助快速定位系統(tǒng)設(shè)計或工藝中的薄弱環(huán)節(jié)。