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當(dāng)前位置:首頁 > EDA > 電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
[導(dǎo)讀]在數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)流程中,門級(jí)仿真(Gate-Level Simulation, GLS)是連接邏輯綜合與物理實(shí)現(xiàn)的橋梁。通過基于標(biāo)準(zhǔn)延遲格式(SDF)的時(shí)序反標(biāo)和功耗模型加載,VCS仿真器能夠精準(zhǔn)評(píng)估門級(jí)網(wǎng)表的動(dòng)態(tài)功耗與時(shí)序特性,為芯片流片前的驗(yàn)證提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。


在數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)流程中,門級(jí)仿真(Gate-Level Simulation, GLS)是連接邏輯綜合與物理實(shí)現(xiàn)的橋梁。通過基于標(biāo)準(zhǔn)延遲格式(SDF)的時(shí)序反標(biāo)和功耗模型加載,VCS仿真器能夠精準(zhǔn)評(píng)估門級(jí)網(wǎng)表的動(dòng)態(tài)功耗與時(shí)序特性,為芯片流片前的驗(yàn)證提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支持。


一、門級(jí)仿真核心流程

門級(jí)仿真以邏輯綜合后的門級(jí)網(wǎng)表(Verilog/VHDL)為輸入,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)單元庫(Liberty文件)和時(shí)序約束(SDC文件),通過VCS構(gòu)建包含時(shí)序與功耗信息的仿真環(huán)境。典型流程分為三個(gè)階段:


網(wǎng)表預(yù)處理

使用read_liberty命令加載工藝庫模型,例如:

tcl

read_liberty -lib {typical.lib} -tech 40nm

該文件包含標(biāo)準(zhǔn)單元的時(shí)序、功耗及面積參數(shù),為后續(xù)反標(biāo)提供基礎(chǔ)數(shù)據(jù)。


SDF時(shí)序反標(biāo)

通過-sdf選項(xiàng)將布局布線工具生成的SDF文件反標(biāo)到網(wǎng)表,例如:

tcl

compile_ultra -sdf_cmd "vcs -sdf_annotate timing.sdf"

SDF文件記錄了每條路徑的實(shí)際延遲(如組合邏輯延遲、時(shí)鐘樹延遲),使仿真能夠模擬真實(shí)物理時(shí)序。


功耗模型加載

采用Common Power Format(CPF)或Unified Power Format(UPF)文件描述多電壓域、電源門控等低功耗設(shè)計(jì),例如:

tcl

read_cpf power_intent.cpf

該文件定義了各電壓域的供電電壓、開關(guān)活動(dòng)率(Switching Activity Interchange Format, SAIF)等參數(shù)。


二、動(dòng)態(tài)功耗驗(yàn)證

VCS通過以下步驟實(shí)現(xiàn)門級(jí)功耗仿真:


活動(dòng)率文件生成

在RTL仿真階段,使用vcs -debug_pp生成SAIF文件,記錄各節(jié)點(diǎn)的翻轉(zhuǎn)次數(shù)。例如:

tcl

vcs -debug_pp -cm line+cond+fsm+tgl testbench.v -o simv

./simv -cm line+cond+fsm+tgl -saif saif_rtl.saif

門級(jí)功耗仿真

將SAIF文件映射到門級(jí)網(wǎng)表,結(jié)合工藝庫功耗模型計(jì)算動(dòng)態(tài)功耗:

tcl

vcs -sdf_annotate timing.sdf -cm line+cond+fsm+tgl -saif_map saif_rtl.saif \

   -load lib_power.so testbench_gl.v -o simv_gl

./simv_gl -cm line+cond+fsm+tgl -saif saif_gl.saif

實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)顯示,某AI加速器芯片的門級(jí)功耗仿真結(jié)果與PrimeTime PX的靜態(tài)功耗分析誤差小于5%,驗(yàn)證了仿真精度。


三、時(shí)序反標(biāo)與驗(yàn)證

SDF反標(biāo)是門級(jí)仿真的核心環(huán)節(jié),其關(guān)鍵驗(yàn)證點(diǎn)包括:


建立/保持時(shí)間檢查

VCS自動(dòng)分析寄存器間的時(shí)序路徑,檢查數(shù)據(jù)是否在時(shí)鐘有效窗口內(nèi)穩(wěn)定。例如,針對(duì)跨時(shí)鐘域路徑:

verilog

specify

 $setuphold (posedge clk_dst, posedge data_src, 0.5, 0.3);

endspecify

若SDF反標(biāo)后報(bào)告時(shí)序違例,需優(yōu)化時(shí)鐘樹或插入緩沖器。


異步復(fù)位驗(yàn)證

檢查復(fù)位信號(hào)解除時(shí),寄存器是否滿足恢復(fù)/移除時(shí)間要求:

tcl

check_timing -async_reset_recovery

某處理器設(shè)計(jì)通過此驗(yàn)證發(fā)現(xiàn)復(fù)位同步器存在12ps的恢復(fù)時(shí)間違例,修復(fù)后避免了亞穩(wěn)態(tài)傳播。


四、工程實(shí)踐優(yōu)化

為提升門級(jí)仿真效率,可采用以下策略:


增量仿真:使用-R選項(xiàng)重啟仿真,僅重新計(jì)算變化部分的功耗與時(shí)序。

并行編譯:通過-jN選項(xiàng)啟用多線程編譯,加速大型網(wǎng)表處理。

波形調(diào)試:結(jié)合Verdi工具可視化時(shí)序違例路徑,例如:

tcl

verdi -sv -f run.f -ssf saif_gl.saif -sswr &

結(jié)語

VCS門級(jí)仿真通過時(shí)序反標(biāo)與功耗模型的深度集成,為芯片設(shè)計(jì)提供了從功能到物理實(shí)現(xiàn)的完整驗(yàn)證閉環(huán)。在先進(jìn)制程(如5nm以下)下,其支持多Corner多Mode(MCMM)仿真能力,可同時(shí)驗(yàn)證最差/最佳延遲、不同電壓溫度條件下的設(shè)計(jì)魯棒性,成為數(shù)字芯片流片前的關(guān)鍵驗(yàn)證環(huán)節(jié)。

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