磁阻隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(MRAM)的新型存儲(chǔ)技術(shù)
在人工智能、自動(dòng)駕駛、邊緣計(jì)算等新興應(yīng)用的驅(qū)動(dòng)下,計(jì)算系統(tǒng)對(duì)存儲(chǔ)體系的速度、功耗與穩(wěn)定性提出了更高要求。傳統(tǒng)由SRAM、DRAM構(gòu)成的高速緩存層級(jí),因易失性、高功耗、集成度瓶頸等問題,逐漸難以滿足“后DRAM時(shí)代”的發(fā)展需求。磁阻隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(MRAM)作為兼具高速、低功耗與非易失性的新型存儲(chǔ)技術(shù),憑借其獨(dú)特的技術(shù)優(yōu)勢(shì),正成為重構(gòu)各級(jí)高速緩存架構(gòu)的理想候選方案,為存儲(chǔ)體系變革注入新活力。
MRAM的核心優(yōu)勢(shì)奠定了其緩存應(yīng)用的基礎(chǔ)。與傳統(tǒng)電荷存儲(chǔ)型存儲(chǔ)器不同,MRAM利用磁性材料的磁化方向變化存儲(chǔ)數(shù)據(jù),實(shí)現(xiàn)了斷電后數(shù)據(jù)的永久保存,從根本上解決了SRAM、DRAM的易失性痛點(diǎn)。在性能層面,新一代自旋軌道力矩磁阻隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(SOT-MRAM)已實(shí)現(xiàn)1納秒級(jí)數(shù)據(jù)切換速度,接近SRAM的響應(yīng)水平,遠(yuǎn)超DRAM的毫秒級(jí)延遲。功耗控制上,MRAM的三端結(jié)構(gòu)將讀寫電流路徑完全分離,待機(jī)功耗近乎為零,相比需要持續(xù)供電刷新的DRAM和高靜態(tài)功耗的SRAM,能耗優(yōu)勢(shì)顯著,尤其適配移動(dòng)終端、邊緣計(jì)算等功耗敏感場(chǎng)景。此外,MRAM具備優(yōu)異的工藝兼容性,可與現(xiàn)有CMOS工藝集成,且耐久性突出,能承受1E14次以上讀寫循環(huán),完全滿足高速緩存的高頻訪問需求。
在不同層級(jí)高速緩存中,MRAM展現(xiàn)出差異化的應(yīng)用價(jià)值與適配策略。L1緩存作為CPU核心最接近運(yùn)算單元的緩存層級(jí),對(duì)訪問延遲要求最為嚴(yán)苛(通常需1-3納秒)。早期MRAM因?qū)懭胙舆t略高于SRAM,難以直接替代,但隨著SOT-MRAM技術(shù)突破,1納秒的切換速度使其具備了L1緩存的應(yīng)用潛力。研究表明,通過優(yōu)化磁性隧道結(jié)結(jié)構(gòu)與讀寫電路設(shè)計(jì),MRAM可在滿足L1緩存速度要求的同時(shí),將靜態(tài)功耗降低60%以上,尤其適合高性能計(jì)算芯片的核心緩存優(yōu)化。
L2緩存處于L1與L3緩存之間,兼顧速度與容量需求,是MRAM的重點(diǎn)突破領(lǐng)域。相比SRAM,MRAM單元面積更小、集成度更高,相同芯片面積下可實(shí)現(xiàn)2-3倍的存儲(chǔ)容量提升,有效減少緩存缺失率。在汽車電子領(lǐng)域,臺(tái)積電N16工藝的嵌入式MRAM已成功應(yīng)用于車載MCU的L2緩存,憑借150℃下20年數(shù)據(jù)保持能力和100萬次循環(huán)耐久性,支撐OTA更新功能的穩(wěn)定實(shí)現(xiàn)。在邊緣AI芯片中,MRAM構(gòu)建的L2緩存可高效存儲(chǔ)模型權(quán)重,僅需2-4MB容量即可滿足TinyML等緊湊架構(gòu)的需求,同時(shí)實(shí)現(xiàn)低功耗運(yùn)行。
L3緩存作為多核共享的大容量緩存,對(duì)存儲(chǔ)密度和能效比的要求遠(yuǎn)高于速度。MRAM的高密度特性使其在L3緩存應(yīng)用中優(yōu)勢(shì)顯著,可大幅降低緩存體積與成本。研究數(shù)據(jù)顯示,對(duì)于64MB級(jí)別的L3緩存,基于MRAM的方案因減少了全局互連延遲,訪問 latency較SRAM降低15%-20%。在數(shù)據(jù)中心服務(wù)器中,MRAM構(gòu)建的L3緩存可有效緩解“存儲(chǔ)墻”瓶頸,配合存內(nèi)計(jì)算架構(gòu),提升AI訓(xùn)練與推理過程中的數(shù)據(jù)訪問效率。此外,MRAM的非易失性使服務(wù)器在突發(fā)斷電時(shí)無需擔(dān)心緩存數(shù)據(jù)丟失,提升了系統(tǒng)可靠性。
盡管MRAM在各級(jí)緩存應(yīng)用中前景廣闊,但仍需突破部分技術(shù)瓶頸。高溫環(huán)境下的數(shù)據(jù)保持能力、強(qiáng)磁場(chǎng)抗干擾性以及單位容量成本偏高是當(dāng)前的主要挑戰(zhàn)。對(duì)此,行業(yè)已形成多項(xiàng)解決方案:通過數(shù)據(jù)擦洗技術(shù)與ECC糾錯(cuò)結(jié)合,可將125℃下位錯(cuò)誤率控制在安全范圍;優(yōu)化MTJ結(jié)構(gòu)與布局設(shè)計(jì),能提升抗磁性干擾能力,滿足車載等復(fù)雜環(huán)境需求;二維鐵磁量子材料的應(yīng)用則有望進(jìn)一步提升存儲(chǔ)密度,降低制造成本。隨著這些技術(shù)的不斷成熟,MRAM的緩存應(yīng)用場(chǎng)景將持續(xù)拓展。
展望未來,MRAM正推動(dòng)高速緩存體系從“易失性為主”向“非易失性主導(dǎo)”轉(zhuǎn)型。在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)支撐下,MRAM有望實(shí)現(xiàn)對(duì)各級(jí)緩存的全面覆蓋,構(gòu)建“L1-L2-L3”全層級(jí)非易失性緩存架構(gòu)。這一變革不僅將大幅提升計(jì)算系統(tǒng)的能效比與可靠性,還將推動(dòng)存儲(chǔ)與計(jì)算的深度融合,為人工智能、自動(dòng)駕駛等新興產(chǎn)業(yè)提供更強(qiáng)大的硬件支撐。隨著材料技術(shù)與工藝的持續(xù)突破,MRAM必將在高速緩存領(lǐng)域占據(jù)核心地位,開啟存儲(chǔ)技術(shù)的新紀(jì)元。





