1、 引言

現(xiàn)代通信帶寬增長(zhǎng)迅猛，相應(yīng)的通信產(chǎn)品系統(tǒng)構(gòu)成也越來(lái)越復(fù)雜：高速度接口和背板帶寬、高密度端口和系統(tǒng)布局、高可靠性。伴隨通信產(chǎn)品的復(fù)雜性提升，產(chǎn)品的故障類(lèi)型越來(lái)越多，故障率也不斷增加。通信制造企業(yè)為把最好的產(chǎn)品提供給用戶(hù)，需要測(cè)試新的元器件，并增加生產(chǎn)階段的測(cè)試壓力，使故障在生產(chǎn)階段發(fā)現(xiàn)，防止把性能不良品發(fā)給用戶(hù)，以排除對(duì)公司產(chǎn)品聲譽(yù)的影響，減少后期維護(hù)成本。另外由于產(chǎn)品復(fù)雜性的提升，用戶(hù)除關(guān)注功能外，也更關(guān)注廠(chǎng)家的生產(chǎn)測(cè)試保證。也就是說(shuō)通信制造企業(yè)必須要提高產(chǎn)品的測(cè)試覆蓋率。

本文重點(diǎn)講述現(xiàn)代通信產(chǎn)品為提高產(chǎn)品的測(cè)試覆蓋率，在生產(chǎn)中進(jìn)行大流量測(cè)試的必要性，以便為通信設(shè)備制造企業(yè)提供參考。

2、 現(xiàn)代寬帶產(chǎn)品需要測(cè)試的內(nèi)容

生產(chǎn)測(cè)試是要保證通信產(chǎn)品的所有單板(線(xiàn)路板、交換板、主控板、接口板)及整機(jī)系統(tǒng)上的所有硬件元器件都要能正常工作。

以下以典型的寬帶通信產(chǎn)品系統(tǒng)為例，介紹各功能卡關(guān)注的測(cè)試項(xiàng)目：

圖1、寬帶通信產(chǎn)品系統(tǒng)結(jié)構(gòu)

2.1線(xiàn)路接口及線(xiàn)路處理卡(Line interface card& Line

processing card)涉及的測(cè)試項(xiàng)目

-光模塊，光發(fā)射/接收功能, 光接收靈敏度

-時(shí)鐘恢復(fù)功能

-Sonet/SDH 告警

-板內(nèi)時(shí)鐘單元

-以太網(wǎng)功能(各種速率、工作模式、以太網(wǎng)接口及轉(zhuǎn)發(fā)芯片)

-輸入隊(duì)列和緩存(芯片內(nèi)部或外部FIFO或RAM)

-CPU小系統(tǒng)以及與其他卡的通信通道和接口

-轉(zhuǎn)發(fā)表(各種RAM、CAM等)

-輸出隊(duì)列和緩存(FIFO和RAM)

-包處理能力(丟包率、包延遲、錯(cuò)誤包處理、是否能達(dá)到線(xiàn)速)

-板內(nèi)模塊之間的連接關(guān)系(短路、斷路等)

2.2主控板( Main Processing Card)涉及的測(cè)試項(xiàng)目

-CPU小系統(tǒng)以及與其他卡的通信通道和接口

-主控板的處理能力，是否能快速、正確的處理信息

-控制通道功能

-與其他模塊的接口速率是否能達(dá)到線(xiàn)速

-日志存儲(chǔ)及控制臺(tái)接口

2.3交換板( Switch fabric Card)涉及的測(cè)試項(xiàng)目

-測(cè)試從各個(gè)端口來(lái)的各種包是否能最大速度完成交換

-交換芯片內(nèi)部的輸入、輸出緩存

-板內(nèi)控制系統(tǒng)及外設(shè)

-與其他單板的接口

3、 大流量在寬帶通信產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試中的作用

信而泰科技長(zhǎng)期的經(jīng)驗(yàn)表明，合理的流量測(cè)試在通信產(chǎn)品生產(chǎn)測(cè)試可大大提升測(cè)試覆蓋率，提升測(cè)試效能，主要表現(xiàn)在以下一些方面：

——增加強(qiáng)壓力，發(fā)現(xiàn)部分加工問(wèn)題(如虛焊)，測(cè)試不同網(wǎng)絡(luò)芯片間的連接情況

——測(cè)試單板上的IC工作在最極限狀態(tài)的工作情況

——負(fù)載處于滿(mǎn)負(fù)荷工作，發(fā)現(xiàn)最大的電源負(fù)載情況下單板或產(chǎn)品的故障

——測(cè)試產(chǎn)品最高性能的工作情況

——器件穩(wěn)定性測(cè)試

——測(cè)試單板與時(shí)序有關(guān)的電路性能

——升級(jí)及版本配套帶來(lái)的問(wèn)題

——加強(qiáng)前期失效(浴盤(pán)曲線(xiàn))

——大流量沖擊可檢測(cè)通信芯片批次的質(zhì)量問(wèn)題

——可檢測(cè)產(chǎn)品版本變化帶來(lái)的性能下降問(wèn)題

——可檢測(cè)包隊(duì)列或緩存存儲(chǔ)器接口連接和芯片性能

——可檢測(cè)查找表存儲(chǔ)接口連接和芯片性能

——在模擬真實(shí)的業(yè)務(wù)流量情況下，檢測(cè)線(xiàn)路板業(yè)務(wù)處理能力

——檢測(cè)各種工作狀態(tài)或工作模式下處理能力

——增強(qiáng)篩選能力，發(fā)貨質(zhì)量提升，降低了單板返還率，提升開(kāi)箱合格率

——測(cè)試背板帶寬

——測(cè)試不同網(wǎng)絡(luò)芯片的數(shù)據(jù)交換情況和時(shí)鐘同步情況

——節(jié)省測(cè)試時(shí)間

——節(jié)省測(cè)試空間

——減少測(cè)試費(fèi)用

4、 結(jié)語(yǔ)

通信產(chǎn)品生產(chǎn)過(guò)程的大流量測(cè)試具有良好效能，十分必要。生產(chǎn)測(cè)試中采用大流量測(cè)試可以最大限度的模擬出現(xiàn)實(shí)的大流量用戶(hù)環(huán)境，降低漏測(cè)率、提升產(chǎn)品開(kāi)箱合格率，提高產(chǎn)品質(zhì)量形象。