隨著工業(yè)自動化在智能制造的進程中不斷深化，“智能光制造”作為一項綜合生產力，融合了激光、自動化、機器視覺等多項技術，正不斷突破傳統(tǒng)制造業(yè)的瓶頸，在汽車、電子半導體、材料加工、航空航天、軌道交通、家電等制造行業(yè)獲得了越來越廣泛的應用。

目前“智能光制造”的發(fā)展有兩大趨勢，一是提升創(chuàng)新現有加工工藝，提高精度、效率，促進自動化向縱深發(fā)展。二是與其它先進技術結合，構建新的智能自動加工應用領域，創(chuàng)造更大的產業(yè)空間?！爸悄芄庵圃臁闭阅跸胂蟮姆绞交钴S在新的領域、新的行業(yè)中。

在石礦、化工、冶金、電力、水泥等機械設備行業(yè)中，設備的長期使用和老化會直接影響生產結果，提高零部件表面性能對延長零部件使用壽命具有重要的作用。

傳統(tǒng)的修復加工方式通常使用：表面淬火、表面滲碳或滲氮、熱噴涂、堆焊等。而隨著加工技術的不斷升級和改進，激光移動再制造技術(激光熔覆)逐漸得到廣泛應用。該激光再制造技術不僅可用于受損零部件的修復，還可用于激光表面淬火，與傳統(tǒng)的熱處理方式相比，激光淬火是一種快熱快冷的加工技術，可在表面獲得晶粒細小的淬硬層。并且，通過與高端多軸機床或者6+2式機械手相結合，采用激光器還可對受損的三維復雜零部件進行修復，充分體現了激光再制造技術的柔性化以及先進性。

新一代激光切割機MARVEL 12kW是基于MARVEL系列萬瓦級切割平臺，實現了1,200孔/每分鐘超光速切割，速度快至21孔/秒，秉承了MARVEL系列產品一貫的“定制化、服務化、綠色化”理念，切割速度更快、加工效率更高，同時與產線緊密結合，使得制造過程更加智能化、更加高效。

它擁有超高性價比、掌握核心光源技術、維護成本低的獨特功能，能解決成長型客戶投資收益比、設備維護成本高的問題。具備強大的切割能力、“飛一般”的切割速度、超高穩(wěn)定性、高質量的加工、極低的運行成本以及超高的適應能力。

鋼鐵制造過程中，辨識及追溯其產品為一項困難的任務。要快速且精準地查詢、追溯、檢索品項(透過不同程度的自動化)，幾乎每個產業(yè)都將條形碼辨識視為相當重要的一項技術，使得庫存及庫存控制系統(tǒng)有重大的進步。當一家日本的鋼鐵制造商尋求方法提升辨識及追蹤自家產品質量時，The Imaging Source 映美精相機 機器視覺產品 為他們提供了絕佳解決方案。

映美精相機GigE彩色變焦相機，搭配條形碼辨識軟件IC Barcode。安裝于輸送帶之相機，即便與物體的距離改變或沒有定位于最佳位置，其光學變焦功使之不僅能夠擷取條形碼影像，更可實時獲得其他可視化信息，檢查產品是否有瑕疵，以控管質量。透過相機的GigE接口，影像數據便轉換至主計算機。不同于雷射掃描系統(tǒng)，圖像式條形碼辨識并不僅限于一維條形碼，此系統(tǒng)使產線經理可使用一維或二維條形碼，甚或兩者同時交替使用。

未來的工廠中，越來越多的機器將代替人工，甚至整個制造車間將變成無人區(qū)。除了各種自動化技術、信息互聯(lián)、機器人等技術外，機器視覺技術也將成為智慧型工廠中不可或缺的關鍵一環(huán)。在行業(yè)創(chuàng)新的大浪潮中，紅外技術與機器視覺相互結合所產生的火花，將是紅外行業(yè)未來發(fā)展的新方向。目前該技術已經在檢測電池箱、電路板檢測、與智能飛行器相結合的太陽能光伏發(fā)電巡檢等方面有不同程度的應用。

高德紅外的IPT640系列產品是一款高性能、高精準度的網絡型測溫熱像儀，選用非制冷焦平面探測器，工作穩(wěn)定，性能卓越。產品基于通用接口協(xié)議開發(fā)，配有功能豐富的終端軟件和簡單易用的SDK包，體積小，重量輕，非常便于集成?？蓱糜谛履茉雌囯姵乇砻婢植繙囟鹊淖兓z測動力電池充放電過程。而在電路板檢測應用中，利用紅外熱成像檢測，可以通過溫度變化來判斷出電子電路故障點，紅外與AI技術的結合，則能快速高效地實現電路板產線的質量控制。

實驗室中的空間非常寶貴，因此可以將多個顯微鏡合而為一的系統(tǒng)必不可少。如今，數碼顯微鏡就能實現這一目標，其放大倍率范圍覆蓋22毫米至42微米的視野。在高放大倍率下觀察小塊區(qū)域以查看細節(jié)前，其“宏觀到微觀”功能可以在低放大倍率下輕松觀察樣品。通過易操作的用戶界面，即使是新手也能夠僅使用一臺儀器快速輕松地獲取樣品結果。

在顯微鏡上加裝電動部件后，還可進一步擴展系統(tǒng)功能。對于超出系統(tǒng)視野范圍的較大樣品，可以使用圖像拼接功能和 X、Y、Z軸電動載物臺快速輕松地捕獲樣品的完整圖像。使用相同的顯微鏡系統(tǒng)并移至更高的放大倍率，僅需點擊宏觀圖像即可移至樣品上的任何位置，無需從一個系統(tǒng)切換至另一個系統(tǒng)時重新定位樣品缺陷或者依賴于復雜的坐標定位方法。