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[導讀]   JTAG(Joint Test AcTIon Group,聯合測試行動組)是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1兼容)。標準的JTAG接口是4線——TMS、T

  JTAG(Joint Test AcTIon Group,聯合測試行動組)是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1兼容)。標準的JTAG接口是4線——TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。

  JTAG是最基本的通訊協議之一,大家可以理解為與RX TX或者USB的道理是一樣的,只是一種通訊手段,但與RX TX以及USB有很重大的不同,那就是這個JTAG協議是最底層的,說的通俗一點,一般來說,手機里邊,CPU是老大,對吧?但在JTAG面前,他就不是老大了,JTAG協議就是用來控制CPU的,在JTAG面前CPU變成嘍啰了。一般的協議是求著CPU讀寫字庫的程序,但JTAG可以讀寫CPU的程序,命令讓CPU啥活都干,擒賊先擒王,JTAG就是屠龍刀。

  

  JTAG也是一種國際標準測試協議(IEEE 1149.1兼容),主要用于芯片內部測試。現在多數的高級器件都支持JTAG協議,如DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。 相關JTAG引腳的定義為:TCK為測試時鐘輸入;TDI為測試數據輸入,數據通過TDI引腳輸入JTAG接口;TDO為測試數據輸出,數據通過TDO引腳從JTAG接口輸出;TMS為測試模式選擇,TMS用來設置JTAG接口處于某種特定的測試模式;TRST為測試復位,輸入引腳,低電平有效

  JTAG的主要功能有兩種,或者說JTAG主要有兩大類:一類用于測試芯片的電氣特性,檢測芯片是否有問題;另一類用于Debug,對各類芯片以及 其外圍設備進行調試。一個含有JTAG Debug接口模塊的CPU,只要時鐘正常,就可以通過JTAG接口訪問CPU的內部寄存器、掛在CPU總線上的設備以及內置模塊的寄存器。本文主要介紹 的是Debug功能。

  注釋:JTAG可以訪問一些內部寄存器,主要是CPU內的寄存器,例如一些通用寄存器等;也可以訪問一些掛在總線上的設備,比如片內的內存L1,L2,L3等;還可以訪問內置模塊的寄存器,比如MMU模塊,通過JTAG都可以訪問這些寄存器。

  1 JTAG原理分析

  簡單地說,JTAG的工作原理可以歸結為:在器件內部定義一個TAP(Test Access Port,測試訪問口),通過專用的JTAG測試工具對內部節(jié)點進行測試和調試。首先介紹一下邊界掃描和TAP的基本概念和內容。

  1.1 邊界掃描

  邊界掃描(Boundary-Scan)技術的基本思想是在靠近芯片的輸入/輸出引腳上增加一個移位寄存器單元,也就是邊界掃描寄存器(Boundary-Scan Register)。

  當芯片處于調試狀態(tài)時,邊界掃描寄存器可以將芯片和外圍的輸入/輸出隔離開來。通過邊界掃描寄存器單元,可以實現對芯片輸入/輸出信號的觀察和控 制。對于芯片的輸入引腳,可以通過與之相連的邊界掃描寄存器單元把信號(數據)加載到該引腳中去;對于芯片的輸出引腳,也可以通過與之相連的邊界掃描寄存 器“捕獲”該引腳上的輸出信號。在正常的運行狀態(tài)下,邊界掃描寄存器對芯片來說是透明的,所以正常的運行不會受到任何影響。這樣,邊界掃描寄存器提供了一 種便捷的方式用于觀測和控制所需調試的芯片。另外,芯片輸入/輸出引腳上的邊界掃描(移位)寄存器單元可以相互連接起來,任芯片的周圍形成一個邊界掃描鏈 (Boundary-Scan Chain)。邊界掃描鏈可以串行地輸入和輸出,通過相應的時鐘信號和控制信號,就可以方便地觀察和控制處在調試狀態(tài)下的芯片。

  1.2 測試訪問口TAP

  TAP(Test Access Port)是一個通用的端口,通過TAP可以訪問芯片提供的所有數據寄存器(DR)和指令寄存器(IR)。對整個TAP的控制是通過TAP控制器(TAP Controller)來完成的。下面先分別介紹一下TAP的幾個接口信號及其作用。其中,前4個信號在IEEE1149.1標準里是強制要求的。

  ◇TCK:時鐘信號,為TAP的操作提供了一個獨立的、基本的時鐘信號。

  ◇TMS:模式選擇信號,用于控制TAP狀態(tài)機的轉換。

  ◇TDI:數據輸入信號。

  ◇TDO:數據輸出信號。

  ◇TRST:復位信號,可以用來對TAP Controller進行復位(初始化)。這個信號接口在IEEE 1149.1標準里并不是強制要求的,因為通過TMS也可以對TAP Controller進行復位。

  ◇STCK:時鐘返回信號,在IEEE 1149.1標準里非強制要求。

  ◇DBGRQ:目標板上工作狀態(tài)的控制信號。在IEEE 1149.1標準里沒有要求,只是在個別目標板(例如STR710)中會有。

  簡單地說,PC機對目標板的調試就是通過TAP接口完成對相關數據寄存器(DR)和指令寄存器(IR)的訪問。

  系統(tǒng)上電后,TAP Controller首先進入Test-LogicReset狀態(tài),然后依次進入Run-Test/Idle、Select-DR- Scan、Select-IR-Scan、Capture-IR、Shift-IR、Exitl-IR、Update-IR狀態(tài),最后回到Run- Test/Idle狀態(tài)。在此過程中,狀態(tài)的轉移都是通過TCK信號進行驅動(上升沿),通過TMS信號對TAP的狀態(tài)進行選擇轉換的。其中,在 Capture-IR狀態(tài)下,一個特定的邏輯序列被加載到指令寄存器中;在Shift-IR狀態(tài)下,可以將一條特定的指令送到指令寄存器中;在 Update-IR狀態(tài)下,剛才輸入到指令寄存器中的指令將用來更新指令寄存器。最后,系統(tǒng)又回到Run-Test/Idle狀態(tài),指令生效,完成對指令 寄存器的訪問。當系統(tǒng)又返回到Run-Test/Idle狀態(tài)后,根據前面指令寄存器的內容選定所需要的數據寄存器,開始執(zhí)行對數據寄存器的工作。其基本 原理與指令其存器的訪問完全相同,依次為Select-DR-Scan、Capture-DR、Shift-D、Exit1-DR、Update-DR, 最后回到Run-Test/Idle狀態(tài)。通過TDI和TDO,就可以將新的數據加載到數據寄存器中。經過一個周期后,就可以捕獲數據寄存器中的數據,完 成對與數據寄存器的每個寄存器單元相連的芯片引腳的數據更新,也完成了對數據寄存器的訪問。

  目前,市場上的JTAG接口有14引腳和20引腳兩種。其中,以20引腳為主流標準,但也有少數的目標板采用14引腳。經過簡單的信號轉換后,可以將它們通用。

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