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[導(dǎo)讀]在面向高可靠性應(yīng)用開發(fā)MCU程序的過程中,工程師通常會(huì)遇到設(shè)定斷點(diǎn)的問題,斷點(diǎn)的合理使用對(duì)于更好地編程和MCU使用是一種挑戰(zhàn)。借助新的工具,這些斷點(diǎn)就可以發(fā)揮巨大的作用,成為開發(fā)工作中的利器。

在面向高可靠性應(yīng)用開發(fā)MCU程序的過程中,工程師通常會(huì)遇到設(shè)定斷點(diǎn)的問題,斷點(diǎn)的合理使用對(duì)于更好地編程和MCU使用是一種挑戰(zhàn)。借助新的工具,這些斷點(diǎn)就可以發(fā)揮巨大的作用,成為開發(fā)工作中的利器。

斷點(diǎn)的概念非常簡單,因?yàn)樗淖饔檬窃谥付ㄖ噶钪爸袛喑绦虻膱?zhí)行。實(shí)現(xiàn)方式可以是硬件或軟件。然而,簡單并不意味著它不能被用于復(fù)雜的調(diào)試組合中,以達(dá)到用簡單的方式解決BUG的目的。事實(shí)上,軟件開發(fā)者在調(diào)試時(shí)離不開斷點(diǎn),但如何最好地利用斷點(diǎn)呢?

要更好地使用各種斷點(diǎn),開發(fā)人員不能僅靠經(jīng)驗(yàn)或者直覺,需要借助一些先進(jìn)的開發(fā)工具來完成,它們可以幫助開發(fā)人員去了解不同斷點(diǎn)的特點(diǎn)和價(jià)值。例如,在IAR Embedded Workbench工具中,開發(fā)人員可以使用以下斷點(diǎn):

· 代碼斷點(diǎn)

· 條件代碼斷點(diǎn)

· 具有讀寫訪問的數(shù)據(jù)斷點(diǎn)

· 數(shù)據(jù)日志斷點(diǎn)

· 日志斷點(diǎn)

· 功率斷點(diǎn)

· Trace開始和停止斷點(diǎn)

本文將指導(dǎo)開發(fā)人員如何利用每一個(gè)可用的斷點(diǎn)來更快地調(diào)試程序。

代碼斷點(diǎn)

代碼斷點(diǎn)是最簡單的斷點(diǎn)。開發(fā)人員只需要選擇C代碼或者反匯編窗口中的ASM指令并設(shè)置斷點(diǎn)即可。一旦斷點(diǎn)被觸發(fā),程序就會(huì)暫停。此時(shí),開發(fā)人員就可以檢查變量、標(biāo)志和寄存器的值。換句話說,開發(fā)人員現(xiàn)在擁有了完全控制權(quán)限。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

代碼斷點(diǎn)的數(shù)量受限于MCU硬件斷點(diǎn)的數(shù)量,但如果代碼在RUM中運(yùn)行,開發(fā)人員利用軟件斷點(diǎn),軟件斷點(diǎn)的數(shù)量則可以是無限的。即使數(shù)量有限,例如對(duì)于Arm Cortex-M,有6到8個(gè)斷點(diǎn),但開發(fā)人員也可以保存斷點(diǎn)位置并在需要時(shí)禁用和啟用斷點(diǎn)。只需要選擇顯示View ->Breakpoints window,就可以選中/清除方框,也就是啟用或禁用斷點(diǎn)。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

在這種情況下,可以有6到8個(gè)以上的斷點(diǎn),但不能同時(shí)都激活。

默認(rèn)情況下,IDE會(huì)設(shè)置代碼斷點(diǎn)。如果開發(fā)人員有一個(gè)I-jet仿真器,就可以在右鍵點(diǎn)擊代碼行時(shí)明確地選擇一個(gè)flash斷點(diǎn)。如果開發(fā)人員已經(jīng)用完了現(xiàn)有全部硬件斷點(diǎn),這招會(huì)很有用。注意斷點(diǎn)符號(hào)中的“F”說明改斷點(diǎn)是Flash斷點(diǎn)。IAR Embedded Workbench for Arm的7.60或更高版本中提供flash斷點(diǎn)功能。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

條件代碼斷點(diǎn)

條件斷點(diǎn)是代碼斷點(diǎn)與一些標(biāo)志或變量(作為條件)的組合。設(shè)置好斷點(diǎn)后,開發(fā)人員可以再次使用View ->Breakpoints window來查看所有斷點(diǎn),也可以通過右鍵點(diǎn)擊并選擇Edit option來設(shè)置額外參數(shù)。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

使用的語法類似于C語言的語法,包括==、>=和<=。例如,如果想讓應(yīng)用在計(jì)數(shù)器等于10的時(shí)候停止在斷點(diǎn),則可以使用“counter==10”。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

當(dāng)需要在一個(gè)中斷例程內(nèi)設(shè)置斷點(diǎn)時(shí),這非常有用。如果沒有條件,就不可能調(diào)試應(yīng)用,因?yàn)槌绦驅(qū)⒁恢蓖V?。使用?biāo)志或變量作為條件可以簡化操作。此外,還可以進(jìn)一步使用跳過計(jì)數(shù)器和條件檢查,如true或changed。

具有讀寫訪問的數(shù)據(jù)斷點(diǎn)

相比其他斷點(diǎn),數(shù)據(jù)斷點(diǎn)有些不同,因?yàn)樗鼈儽O(jiān)測對(duì)特定內(nèi)存地址、標(biāo)志、變量或寄存器的讀寫訪問。數(shù)據(jù)斷點(diǎn)使用非常直截了當(dāng)只需右鍵點(diǎn)擊標(biāo)志或變量,然后選擇選項(xiàng)Set data Breakpoint即可。默認(rèn)情況下,讀和寫的訪問將被監(jiān)測。如果開發(fā)人員想增加額外的設(shè)置,可以通過View->Breakpoints window和Edit option來完成。除了訪問之外,還可以監(jiān)測數(shù)據(jù)是否匹配。這意味著只有當(dāng)數(shù)據(jù)匹配時(shí),寫或讀的訪問才會(huì)觸發(fā)停止。選擇“Edit”按鈕,可以打開一個(gè)額外的窗口,可以選擇絕對(duì)地址甚至是源代碼行。如果是一個(gè)變量或標(biāo)志,建議使用自動(dòng)大小。如果需要監(jiān)測更大的范圍,應(yīng)手動(dòng)設(shè)置所需的大小。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

數(shù)據(jù)斷點(diǎn)對(duì)于調(diào)試被應(yīng)用破壞的標(biāo)志和變量非常有用。一旦出現(xiàn)了讀寫訪問,應(yīng)用就會(huì)停止。另一種用法是堆棧溢出調(diào)查,只需要在堆棧大小的80-90%處設(shè)置一個(gè)數(shù)據(jù)斷點(diǎn),當(dāng)溢出接近時(shí),就可以停止應(yīng)用,并一步步找到問題的根源。

數(shù)據(jù)日志斷點(diǎn)

除了可監(jiān)測讀寫訪問的數(shù)據(jù)斷點(diǎn)外,開發(fā)人員還可以使用數(shù)據(jù)日志斷點(diǎn)。使用這些斷點(diǎn)的目的是監(jiān)測并以圖形方式繪制特定變量或內(nèi)存地址的值跟隨時(shí)間的變化,這就能更輕松地比較多個(gè)變量,觀察中斷觸發(fā)的情況。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

仿真器選項(xiàng)提供了時(shí)間軸、附加數(shù)據(jù)日志和數(shù)據(jù)日志總結(jié),如下圖所示。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

日志斷點(diǎn)

除了代碼斷點(diǎn)和數(shù)據(jù)斷點(diǎn)之外,開發(fā)人員還可以使用日志斷點(diǎn)。這是一個(gè)特殊的斷點(diǎn),因?yàn)樗粫?huì)暫時(shí)停止應(yīng)用來打印一條信息。只有當(dāng)斷點(diǎn)被觸發(fā)時(shí),它才會(huì)顯示選定的信息。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

每當(dāng)斷點(diǎn)被觸發(fā),一條信息就會(huì)顯示在調(diào)試日志窗口中。配合計(jì)數(shù)器,我們就可以知道應(yīng)用源代碼的特定部分運(yùn)行了多少次。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

功率斷點(diǎn)

得益于IAR Embedded Workbench的功率調(diào)試技術(shù),開發(fā)人員可以監(jiān)控能耗并將其與源代碼聯(lián)系起來。這使得了解整個(gè)應(yīng)用的能耗成為可能。這個(gè)概念也使得添加功率斷點(diǎn)成為可能??梢栽O(shè)置一個(gè)閾值,比如25mA,一旦能耗超過這個(gè)值,調(diào)試器就會(huì)中斷。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

設(shè)置閾值的操作非常簡單。只需要打開I-jet -> PowerLog window,然后設(shè)置數(shù)值和對(duì)應(yīng)的操作。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

這個(gè)功能很有用,可以保證不出現(xiàn)任何耗電浪涌或高于指定值的情況,而且通過這種分析,電池的使用壽命也會(huì)延長,開發(fā)人員可以放心讓其應(yīng)用長時(shí)間運(yùn)行。雖然時(shí)間軸窗口不是必須的,但它能提供實(shí)時(shí)的能耗信息。

Trace開始和停止斷點(diǎn)

最后要介紹的是Trace開始和停止斷點(diǎn)。如果開發(fā)人員使用先進(jìn)的仿真器,比如I-jet Trace for Arm Cortex-M或I-jet Trace for Cortex-A/R/M,就可以利用這些斷點(diǎn)。這在分析應(yīng)用特定部分時(shí)特別有用。Trace開始和Trace停止斷點(diǎn)簡單易用,只需在代碼行中右鍵點(diǎn)擊并決定跟蹤的開始和結(jié)束位置即可。Trace緩沖區(qū)將只保存應(yīng)用中指定代碼行之間的指令。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

另外,開發(fā)人員也可以從時(shí)間軸上的Trace指令中得到函數(shù)調(diào)用的圖形概覽,這些函數(shù)調(diào)用信息是在Trace開始和停止斷點(diǎn)之間捕獲的。

如何充分利用各種類型的斷點(diǎn)

雖然I-jet Trace仿真器比標(biāo)準(zhǔn)JTAG/SWD仿真器更強(qiáng)大,但有時(shí)如果記錄包含所有正常信息時(shí),Trace調(diào)試變得很麻煩。為了避免收集數(shù)以百萬計(jì)的非必要指令,使Trace調(diào)試變得簡單明了,IAR Embedded Workbench提供了Trace開始和停止斷點(diǎn)的功能。

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