本文介紹一款簡(jiǎn)單易作的晶振測(cè)試裝置,原理電路如附圖所示。 圖中,V1及其外圍元件(包括被測(cè)晶振)共同組成一個(gè)電容三點(diǎn)式振蕩器。當(dāng)探頭X1、X2兩端接入被測(cè)晶振時(shí),電路振蕩。振蕩信號(hào)經(jīng)V2射極跟隨級(jí)放大后輸出,經(jīng)C4耦合、D1、D2倍壓整流后為V3提供偏置電流,V3導(dǎo)通,LED發(fā)光。若晶振不良或斷路,電路則不能起振,因而LED不發(fā)光。 該裝置結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,所用元件極為普遍,而且只要元件質(zhì)量良好,裝配無(wú)誤,不需調(diào)試即可一次成功。探頭可利用兩個(gè)插孔代替。也可以選用帶電纜的表筆或測(cè)試棒,但引線不宜過(guò)長(zhǎng)。該測(cè)試議可測(cè)試頻率為450KHz~49MHz的各種晶振,工作電源推薦采用6V疊層電池。

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