美國吉時利儀器公司今日發(fā)布4X4 MIMO（多輸入多輸出）射頻測試解決方案，該方案可用于下一代射頻通信設備與器件的研發(fā)與生產測試。吉時利本款MIMO射頻測試系統(tǒng)包括最新2920型矢量信號發(fā)生器（VSG）、2820型矢量信號分析儀（VSA）、2895型MIMO同步單元和功能強大的MIMO信號分析軟件。本款MIMO測試系統(tǒng)具有當前業(yè)界最新的多種功能，包括：
-    支持4X4 MIMO應用
-    支持多種商用通信標準，包括移動蜂窩、WiMAX和WLAN
-    ±1納秒的信號采樣同步功能
-    峰-峰信號采樣抖動低于1納秒
-    峰-峰射頻載波相位抖動低于1度

由于具備支持多部件緊同步的高性能測量指標，新推出的吉時利系統(tǒng)可以實現某些對信號精度要求非?？量痰腗IMO測量，例如802.11n 40MHz WLAN MIMO和802.16e Wave 2 Mobile WiMAX。 

MIMO技術正日漸普及，其能夠使用多種射頻波段進行數據收發(fā)。在射頻通信設備中，利用MIMO技術無需增加額外帶寬就能提高數據吞吐率。吉時利4X4 MIMO測試系統(tǒng)通過簡單軟件升級就能夠測試目前結構最復雜的一些信號，包括WiMAX Wave 2、4G LTE（長期演進）和UMB（超移動寬帶），為產品研發(fā)提供了最先進的高性能MIMO測試平臺。

高達6GHz的高精度和可重復性測量能力

構成吉時利MIMO射頻測試解決方案核心設備的是新推出的射頻信號發(fā)生器和射頻信號分析儀，其支持擴展頻率范圍高達6GHz。包括吉時利日益豐富的射頻系列產品的最新成員——2920型矢量信號發(fā)生器。2920有兩種可選配置，最高支持4GHz或6GHz的頻率，最低可產生10MHz頻率的信號。另外，波形存儲器深度高達100M次采樣、帶寬為80MHz的可選任意波形發(fā)生器能滿足用戶對各種商用通信信號的測試需求，包括GSM、EDGE、W-CDMA、cdma2000、SISO WLAN，以及業(yè)界最復雜的802.11n 40MHz WLAN MIMO信號。

吉時利新推出2820型矢量信號分析儀以40MHz帶寬作為4GHz或6GHz配置下的標準帶寬。2820測試功能非常全面，能測試多種信號，包括GSM、EDGE、W-CDMA (上行鏈路/下行鏈路)和cdma2000信號，以及多種WLAN信號，包括MIMO和SISO配置下的802.11n 40MHz WLAN MIMO信號。

吉時利MIMO射頻測試解決方案所具備的信號緊同步功能以及極低的采樣抖動和射頻載波相位抖動特性，為用戶提供高精度和可重復的測量能力，確保用戶獲得較高產品質量和生產成品率。此外，2820和2920可以配置為2通道、3通道或者4通道結構。這些具有雙重功能的儀器既可用作獨立的測試儀，也可用做4X4 MIMO測試系統(tǒng)的一部分，因此用戶在測試過程中不必再使用單獨的信號分析儀或者信號發(fā)生器。

MIMO同步單元具備精密、穩(wěn)定的對準功能

2895型MIMO同步單元能夠為測試系統(tǒng)提供高度同步的信號，最高可支持4X4的MIMO測試同步。這使測試系統(tǒng)具備能夠在多達4臺信號分析儀與發(fā)生器之間實現高度精確和穩(wěn)定的對準功能。2895將公共信號，例如局部晶振、公共時鐘和精密觸發(fā)器，分布到與系統(tǒng)相連的所有測試儀中，支持精確的、可重復的OFDM（正交頻分多路復用）MIMO信號的測量。

業(yè)界領先的軟件分析工具

吉時利新推出的還有280111型WLAN 802.11n MIMO信號分析軟件，是目前業(yè)界領先的基于PC的分析工具，支持單通道或者多通道的802.11x信號分析。這個快速而強大的軟件工具提供了多種豐富的測量套件，能夠分析所有802.11x信號，而且能夠支持4X4 MIMO通道配置。該軟件用戶接口易于配置，通過SCPI命令集可快速、方便地連接測試系統(tǒng)。

吉時利4X4 MIMO射頻測試系統(tǒng)是從事WLAN和WiMAX設計與研發(fā)工作的研發(fā)工程師和研究人員的理想選擇。此外，涉及3GPP移動電話生產和射頻功率放大器制造，以及W-CDMA基站和國防與航天領域某些無線互連應用的測試工程們也將體驗到這一功能強大的測試系統(tǒng)所帶來的高速、精確而靈活的特性。

吉時利新一代射頻測試儀器旨在滿足當今無線技術領域的設計和制造所面臨的挑戰(zhàn)而特別設計，能夠滿足今后大部分新技術的測試需求。吉時利射頻測試儀器建立在新一代儀器平臺的基礎上，該平臺使用了達到當前最新技術水平的射頻與高速DSP技術，以降低測試成本，縮短上市時間。測量精度能確保用戶獲得最高產品質量和生產成品率，通過提高測試速度、降低設備價格而減少測試成本。