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  • VK36N3D 芯片的基本概述

    VK36N3D 芯片專為檢測(cè)外部觸摸按鍵上人手的觸摸動(dòng)作而設(shè)計(jì)，具有極高的集成度。這意味著在實(shí)際應(yīng)用中，工程師僅需搭配極少的外部組件，就能輕松實(shí)現(xiàn)觸摸按鍵的檢測(cè)功能，大大簡(jiǎn)化了電路設(shè)計(jì)，降低了生產(chǎn)成本。例如，在一些小型智能設(shè)備中，使用 VK36N3D 芯片可以使電路板的布局更加緊湊，減少了因過(guò)多外部組件帶來(lái)的空間占用和潛在故障點(diǎn)。

  • 晶振生產(chǎn)工藝：從石英晶體到高精度振蕩器

    在現(xiàn)代電子設(shè)備中，晶振作為提供精確時(shí)鐘信號(hào)的核心元件，其重要性不言而喻。從智能手機(jī)、計(jì)算機(jī)到汽車電子、通信基站，晶振的身影無(wú)處不在，它如同電子設(shè)備的 “心臟起搏器”，確保各種復(fù)雜電路有條不紊地運(yùn)行。而晶振的核心 —— 石英晶體，憑借其獨(dú)特的物理特性，在經(jīng)過(guò)一系列精密復(fù)雜的生產(chǎn)工藝后，華麗變身為高精度振蕩器，為電子設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行提供堅(jiān)實(shí)保障。

  • 開(kāi)關(guān)電源中 “地” 的分類

    安全地的主要作用是保障人身安全和設(shè)備的穩(wěn)定運(yùn)行。在電氣設(shè)備中，當(dāng)發(fā)生絕緣損壞等故障時(shí)，可能會(huì)使設(shè)備外殼帶電，若沒(méi)有安全接地，人體一旦接觸到帶電外殼，就會(huì)發(fā)生觸電事故。通過(guò)將設(shè)備外殼與大地進(jìn)行可靠連接，當(dāng)出現(xiàn)故障電流時(shí)，電流能夠迅速通過(guò)接地導(dǎo)線流入大地，因?yàn)榇蟮氐碾娢槐灰暈榱汶娢?，且接地電阻通常很小，根?jù)歐姆定律，這樣就可以保證設(shè)備外殼的電位接近大地電位，從而避免人體觸電。例如，在家庭用電中，三孔插座的最上方插孔就是連接安全地的，所有使用三腳插頭的電器，其金屬外殼都通過(guò)插頭與安全地相連，為用戶提供了基本的安全保障。

  • 運(yùn)算放大器的 “最大電源電流” 探討

    在電子電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，運(yùn)算放大器扮演著極為關(guān)鍵的角色，廣泛應(yīng)用于信號(hào)放大、濾波、比較等眾多電路之中。而在考量運(yùn)算放大器的性能時(shí)，“最大電源電流” 是一個(gè)不容忽視的重要參數(shù)。它不僅直接關(guān)聯(lián)到運(yùn)算放大器自身的功耗情況，更對(duì)整個(gè)電路的穩(wěn)定性、可靠性以及電池供電系統(tǒng)的續(xù)航能力等方面產(chǎn)生著深遠(yuǎn)影響。因此，深入探究運(yùn)算放大器的 “最大電源電流”，對(duì)于優(yōu)化電路設(shè)計(jì)、提升系統(tǒng)性能具有重要意義。

  • CAN 總線在電動(dòng)汽車充電機(jī)上的應(yīng)用

    隨著環(huán)保意識(shí)的增強(qiáng)和對(duì)可持續(xù)能源的追求，電動(dòng)汽車(EV)作為一種清潔能源交通工具，正逐漸成為汽車行業(yè)發(fā)展的主流趨勢(shì)。電動(dòng)汽車的核心部件之一是充電機(jī)，它負(fù)責(zé)將外部電能轉(zhuǎn)化為電池可存儲(chǔ)的能量。而 CAN(Controller Area Network)總線作為一種高效、可靠的通信協(xié)議，在電動(dòng)汽車充電機(jī)的運(yùn)行中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。

  • 畫完 PCB 后，這些關(guān)鍵問(wèn)題必須檢查

    在 PCB 設(shè)計(jì)流程中，繪制完成并不意味著工作的結(jié)束。據(jù)行業(yè)統(tǒng)計(jì)，超過(guò) 60% 的電路板故障源于設(shè)計(jì)階段的疏漏，而這些問(wèn)題往往能通過(guò)細(xì)致的后期檢查避免。以下從電氣性能、布局合理性、工藝可行性三個(gè)維度，梳理 PCB 設(shè)計(jì)完成后必須排查的關(guān)鍵問(wèn)題。

  • 矩陣式變換器為什么會(huì)成為電力電子技術(shù)研究的熱點(diǎn)

    電源是電子電路中有源器件工作的能量來(lái)源，電源的性能直接影響電子電路的性能，電源可以說(shuō)是電子系統(tǒng)的“心臟”。

  • 汽車電機(jī)驅(qū)動(dòng)功率模塊的冷卻解決方案

    隨著汽車電動(dòng)化程度的不斷提高，電機(jī)驅(qū)動(dòng)功率模塊的性能和可靠性愈發(fā)重要。然而，這些模塊在工作過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生大量熱量，若不能及時(shí)有效地散發(fā)出去，將導(dǎo)致模塊溫度過(guò)高，進(jìn)而影響其性能和壽命。例如，IGBT 模塊在導(dǎo)通和關(guān)斷過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生功率損耗，這些損耗以熱量的形式釋放出來(lái)。而且，汽車運(yùn)行工況復(fù)雜多變，功率模塊的發(fā)熱情況也隨之動(dòng)態(tài)變化，這對(duì)冷卻系統(tǒng)的適應(yīng)性提出了很高要求。

  • 內(nèi)置增益設(shè)置電阻的放大器和分立差動(dòng)放大器的區(qū)別

    在電子電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域，放大器是極為關(guān)鍵的元件，用于增強(qiáng)電信號(hào)的幅度，以滿足各類電子設(shè)備的需求。內(nèi)置增益設(shè)置電阻的放大器和分立差動(dòng)放大器是兩種常見(jiàn)類型，它們?cè)陔娐方Y(jié)構(gòu)、性能表現(xiàn)、成本以及設(shè)計(jì)靈活性等方面存在諸多不同。深入了解這些差異，有助于工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)做出更合適的選擇，確保電路性能最優(yōu)化。

  • 如何輕松解決 ESD 靜電問(wèn)題

    在現(xiàn)代科技高速發(fā)展的今天，靜電問(wèn)題如影隨形，尤其是靜電放電(ESD)帶來(lái)的危害不容小覷。ESD 可能會(huì)導(dǎo)致電子元件損壞、設(shè)備故障，甚至引發(fā)火災(zāi)等嚴(yán)重后果，影響生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。但別擔(dān)心，只要掌握科學(xué)的方法，ESD 靜電問(wèn)題是可以輕松解決的。接下來(lái)，我們就深入探討如何有效應(yīng)對(duì) ESD 靜電問(wèn)題。

  • 可控硅在交流通路中的關(guān)閉原理與實(shí)現(xiàn)方法

    可控硅，即晶閘管，作為一種功率半導(dǎo)體器件，憑借其能夠在高電壓、大電流條件下實(shí)現(xiàn)電能控制的特性，被廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制、電力電子等眾多領(lǐng)域。在交流電路中，可控硅可用于調(diào)壓、整流、變頻等多種功能。然而，要實(shí)現(xiàn)精確的電能控制，不僅需要掌握可控硅的導(dǎo)通方法，更要深入理解其在交流通路下的關(guān)閉機(jī)制。本文將詳細(xì)探討可控硅在交流通路情況下的關(guān)閉原理與具體實(shí)現(xiàn)方法。

  • 基于Kubernetes的EDA容器化部署：高并發(fā)物理驗(yàn)證的資源隔離方案

    隨著芯片設(shè)計(jì)復(fù)雜度突破千億晶體管，傳統(tǒng)物理驗(yàn)證（Physical Verification, PV）工具面臨資源爭(zhēng)用、任務(wù)調(diào)度混亂等問(wèn)題。本文提出一種基于Kubernetes的EDA容器化部署方案，通過(guò)資源隔離、動(dòng)態(tài)調(diào)度與彈性伸縮技術(shù)，在AWS云平臺(tái)上實(shí)現(xiàn)高并發(fā)物理驗(yàn)證。實(shí)驗(yàn)表明，該方案可使DRC/LVS驗(yàn)證任務(wù)并發(fā)量提升5倍，關(guān)鍵任務(wù)響應(yīng)時(shí)間縮短70%，資源利用率從45%提升至88%。通過(guò)結(jié)合cgroups、NetworkPolicy和自定義資源定義（CRD），本文為超大規(guī)模芯片設(shè)計(jì)提供了安全、高效的云端物理驗(yàn)證環(huán)境。

  • 先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)BTI/HCI效應(yīng)建模：老化感知的時(shí)序收斂方法

    隨著7nm及以下工藝節(jié)點(diǎn)的普及，負(fù)偏置溫度不穩(wěn)定性（NBTI/PBTI）和熱載流子注入（HCI）效應(yīng)已成為影響芯片長(zhǎng)期可靠性的關(guān)鍵因素。本文提出一種基于物理機(jī)理的老化感知時(shí)序收斂方法，通過(guò)建立BTI/HCI聯(lián)合老化模型，結(jié)合靜態(tài)時(shí)序分析（STA）與動(dòng)態(tài)老化追蹤技術(shù)，實(shí)現(xiàn)從設(shè)計(jì)階段到簽核階段的全流程老化防護(hù)。實(shí)驗(yàn)表明，該方法可使芯片在10年壽命周期內(nèi)的時(shí)序違規(guī)率降低92%，同時(shí)保持小于5%的面積開(kāi)銷。

  • 開(kāi)源時(shí)序分析工具OpenTimer優(yōu)化：O(n)復(fù)雜度路徑提取算法實(shí)現(xiàn)

    隨著先進(jìn)制程下芯片規(guī)模突破百億門級(jí)，傳統(tǒng)時(shí)序分析工具在路徑提取階段面臨計(jì)算復(fù)雜度指數(shù)級(jí)增長(zhǎng)的問(wèn)題。本文針對(duì)開(kāi)源時(shí)序分析工具OpenTimer提出一種基于拓?fù)浼糁εc動(dòng)態(tài)規(guī)劃的O(n)復(fù)雜度路徑提取算法，通過(guò)消除冗余計(jì)算、優(yōu)化數(shù)據(jù)結(jié)構(gòu)及并行化處理，使大規(guī)模電路的時(shí)序路徑提取效率提升兩個(gè)數(shù)量級(jí)。實(shí)驗(yàn)表明，在3nm工藝28億晶體管GPU設(shè)計(jì)中，該算法將關(guān)鍵路徑分析時(shí)間從12小時(shí)縮短至42分鐘，內(nèi)存占用降低65%，為開(kāi)源EDA工具的產(chǎn)業(yè)化應(yīng)用提供了關(guān)鍵支撐。

  • 把兩個(gè)輸出電壓不同的穩(wěn)壓芯片的輸出腳接在一起會(huì)發(fā)生什么?

    在電子電路設(shè)計(jì)與實(shí)踐中，穩(wěn)壓芯片是維持穩(wěn)定輸出電壓的關(guān)鍵組件。然而，當(dāng)我們將兩個(gè)輸出電壓不同的穩(wěn)壓芯片的輸出腳連接在一起時(shí)，會(huì)引發(fā)一系列復(fù)雜的物理現(xiàn)象和潛在風(fēng)險(xiǎn)。這一操作不僅違反了常規(guī)的電路設(shè)計(jì)原則，還可能對(duì)電路系統(tǒng)造成不可逆的損害。接下來(lái)，我們將從電路原理、實(shí)際影響等多個(gè)角度深入探討這一問(wèn)題。

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