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TI推動IEEE 1149.7技術標準開發(fā)與認證

時間：2008-09-17 06:44:34

關鍵字： IEEE TI 引腳調試

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[導讀]作為IEEE工作組的重要成員，德州儀器(TI)日前宣布將致力于推動IEEE 1149.7標準獲得批準。IEEE 1149.7是一種全新的雙引腳測試與調試接口標準，可將IEEE 1149.1技術的引腳數(shù)量減半，使設計人員能夠輕松測試并調試具有復

作為IEEE工作組的重要成員，德州儀器(TI)日前宣布將致力于推動IEEE 1149.7標準獲得批準。IEEE 1149.7是一種全新的雙引腳測試與調試接口標準，可將IEEE 1149.1技術的引腳數(shù)量減半，使設計人員能夠輕松測試并調試具有復雜數(shù)字電路、多個CPU以及應用軟件的產(chǎn)品，如移動與手持通信設備等。 IEEE 1149.7是獲得廣泛普及、已使用20多年的IEEE 1149.1(JTAG)標準的配套擴展和延伸。該款作為連接嵌入式系統(tǒng)端口的新型標準滿足了系統(tǒng)開發(fā)過程中器件制造、測試以及軟件開發(fā)等的需求，預計將于2009年初獲得批準。除了保持與IEEE 1149.1兼容之外，該款新型標準還顯著改進了調試功能，并大幅降低了對SoC引腳數(shù)的要求。此外，這種新型標準還將省電條件實現(xiàn)了標準化，簡化了多芯片模塊和疊層裸片器件的制造，并能傳輸儀表數(shù)據(jù)。

由于當前大部分系統(tǒng)都集成了多個IC，而且常常在尺寸方面有著比較嚴格的要求，因此通過減少引腳和跡線數(shù)量將幫助設計人員達到產(chǎn)品小型化的目標，并提供額外的功能引腳和/或降低封裝成本。相對IEEE1149.1標準要求預留四個引腳，IEEE 1149.7僅用兩個引腳就能處理時鐘、控制以及數(shù)據(jù)輸入和輸出。由于不再需要額外的引腳，更低引腳數(shù)配置能夠顯著簡化疊層裸片配置并降低成本，從而推進小型化產(chǎn)品的發(fā)展。IEEE 1149.7還與現(xiàn)有IEEE 1149.1產(chǎn)品和IP具有兼容性，使設計人員能在不帶來額外成本的情況下順利過渡。

全新IEEE 1149.7標準是IEEE 1149.1的強大擴展，能夠充分滿足SoC架構面臨的眾多設計難題，如多內核器件卡的掃描性能、電源域、各種器件連接拓撲以及后臺數(shù)據(jù)傳輸?shù)?。為了提高多內核應用的性能，新型標準采用可縮短掃描鏈的芯片級旁路機制，能夠大幅改進調試體驗。對于功耗敏感型應用、尤其是手持終端設備而言，IEEE 1149.7提供了四種關斷模式，可在電路板及芯片測試以及應用調試過程中為工程師提供幫助。通過引入星形拓撲來補充標準的串行拓撲，設計人員能輕松管理多芯片架構，因為物理設備間的連接已獲得大幅簡化。后臺數(shù)據(jù)傳輸可為發(fā)送儀表數(shù)據(jù)提供一種業(yè)界標準的方法，從而提高了SoC器件的可視性。

作為開發(fā)原始JTAG測試技術的重要支持技術，全新的IEEE 1149.7標準進一步發(fā)揚了TI廣泛的掃描技術優(yōu)勢。在IEEE 1149.1標準中，TI率先推出了基于掃描的仿真與XDS系列仿真器技術，可通過直接與處理器通信實現(xiàn)對所有片上功能的非介入式可視化，從而顯著降低調試成本與難度。對于IEEE 1149.7，TI充分利用其在兼容性產(chǎn)品方面的技術與經(jīng)驗優(yōu)勢，在降低引腳數(shù)的同時還提供新功能，同時又不會影響目前基于IEEE 1149.1的系統(tǒng)運行。IEEE 1149.7標準預計將于2009年第一季度獲得批準。