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芯片設(shè)計(jì)問題須知及設(shè)計(jì)策略
電流密度過高導(dǎo)致金屬原子逐漸置換，這時(shí)就會(huì)產(chǎn)生電子遷移問題。當(dāng)很長時(shí)間內(nèi)在同一個(gè)方向有過多電流流過時(shí)，在互連線上會(huì)開始形成空洞(Void，原子耗盡時(shí)出現(xiàn))和小丘(hillock，原子積聚時(shí)產(chǎn)生)。足夠多的原子被置換后，會(huì)產(chǎn)生斷路或短路。當(dāng)小丘觸及鄰近的互連線時(shí)，短路出現(xiàn)，從而引起芯片失效。
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電路設(shè)計(jì)中可靠性抗干擾等一些應(yīng)該注意的問題
本文從最基本、最常用的電子元器件和基本電路的著手，介紹電路設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)該注意的一些問題, 以提高所設(shè)計(jì)電路的可靠性和抗干擾能力。
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如何驗(yàn)證電流探頭的可靠性？
電流探頭是示波器測量電流的必備配件，但不同品牌之間價(jià)格往往差別很大，到底什么樣的電探頭才是可靠的呢?這里分享了電流探頭可靠性驗(yàn)證的完整過程，并呈現(xiàn)所有實(shí)測結(jié)果，您
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電源模塊在配網(wǎng)自動(dòng)化中的應(yīng)用
配網(wǎng)自動(dòng)化是利用現(xiàn)代電子技術(shù)、通信技術(shù)、計(jì)算機(jī)及網(wǎng)絡(luò)技術(shù)，將配電網(wǎng)實(shí)時(shí)信息、離線信息、用戶信息、電網(wǎng)結(jié)構(gòu)參數(shù)、地理信息進(jìn)行集成，構(gòu)成完整的自動(dòng)化管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)配電系統(tǒng)正常運(yùn)行及事故情況下的監(jiān)測、保護(hù)、控制和配電管理。
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PCB可靠性在汽車中的應(yīng)用
在PCB設(shè)計(jì)和機(jī)械設(shè)計(jì)領(lǐng)域使用復(fù)雜熱分析能帶來更好的熱管理和可靠性，且無需建立和測試多種物理樣機(jī)。這節(jié)約了大量時(shí)間和費(fèi)用。另外，有了與設(shè)計(jì)系統(tǒng)緊密整合的方便易用的軟件，設(shè)計(jì)人員能快速利用多種“假設(shè)”場景進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，并獲得性能更好的解決方案。
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嵌入式系統(tǒng)開發(fā)不難，保證可靠性有這幾大技巧
目前嵌入式系統(tǒng)開發(fā)應(yīng)用非常的廣泛，在很多領(lǐng)域都有應(yīng)用，而且技術(shù)更新很快。嵌入式系統(tǒng)是以應(yīng)用為中心，以計(jì)算機(jī)技術(shù)為基礎(chǔ)，并且軟硬件可裁剪，適用于應(yīng)用系統(tǒng)對功能、可
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FinFET新工藝下的老問題，芯片可靠性如何保證？
隨著更先進(jìn)工藝的芯片陸續(xù)進(jìn)入工業(yè)和汽車領(lǐng)域應(yīng)用，芯片制造商們正在努力解決新工藝下的先進(jìn)芯片的可靠性問題，諸如EOS，ESD以及其他一些與電力相關(guān)的問題，由于汽車和工業(yè)部門對電路的可靠性有著非常嚴(yán)格的要求，制造商必須重新審視先進(jìn)工藝制造的芯片潛在的有可能影響器件長期使用可靠性的諸多因素。
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電源模塊在配網(wǎng)自動(dòng)化中的應(yīng)用
配網(wǎng)自動(dòng)化是利用現(xiàn)代電子技術(shù)、通信技術(shù)、計(jì)算機(jī)及網(wǎng)絡(luò)技術(shù)，將配電網(wǎng)實(shí)時(shí)信息、離線信息、用戶信息、電網(wǎng)結(jié)構(gòu)參數(shù)、地理信息進(jìn)行集成，構(gòu)成完整的自動(dòng)化管理系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)配電系統(tǒng)正常運(yùn)行及事故情況下的監(jiān)測、保護(hù)、控制和配電管理。(1)配網(wǎng)自動(dòng)化的發(fā)展離不開各行業(yè)的配合與協(xié)調(diào)。
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提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施
提高PCB設(shè)備可靠性的技術(shù)措施：方案選擇、電路設(shè)計(jì)、電路板設(shè)計(jì)、結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、元器件選用、制作工藝等多方面著手，具體措施如下：
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全面解析閃存技術(shù)大餐 架構(gòu)/顆粒/接口/可靠性
閃存最明顯特點(diǎn)就是穩(wěn)定性能，低時(shí)延和高隨機(jī)IOPS。對于閃存，在評估性能時(shí)，我們一般主要關(guān)注90% IO落入規(guī)定的時(shí)延范圍(性能是一個(gè)線性范圍，而不是某一個(gè)點(diǎn))。數(shù)據(jù)保護(hù)等
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確定 GaN 產(chǎn)品可靠性的綜合方法
TI正在設(shè)計(jì)基于GaN原理的綜合質(zhì)量保證計(jì)劃和相關(guān)的應(yīng)用測試來提供可靠的GaN解決方案。氮化鎵(GaN)的材料屬性可使電源開關(guān)具有令人興奮且具有突破性的全新特性—功率GaN。高電子遷移晶體管(HEMT)。HEMT是一種場效應(yīng)晶體管(FET)，會(huì)使導(dǎo)通電阻會(huì)低很多。它的開關(guān)頻率要比同等大小的硅功率晶體管要快。這些優(yōu)勢使得功率轉(zhuǎn)換的能效更高，并且能夠更加有效地使用空間。GaN可以安裝在硅基板上，這樣可充分利用硅制造能力，并實(shí)現(xiàn)更低的成本。然而，在使用新技術(shù)時(shí)，需要驗(yàn)證這項(xiàng)技術(shù)的可靠性。這份白皮書的主題恰恰是G
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通過對耦合電流路徑改造提升IGBT可靠性
隨著大功率與特種電源逐漸在市場上盛行，IGBT技術(shù)也隨著時(shí)間的推移越加成熟。IGBT的可靠性很大程度上決定的了大功率電源的性能，因此人們總是想通過各種方法來提高IGBT的效
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如何依靠輸出邏輯提升IGBT的可靠性
隨著現(xiàn)代電科技設(shè)備的日趨復(fù)雜，原有的電源已經(jīng)無法再滿足人們的需要。大功率特種電源便應(yīng)運(yùn)而生，而其中較為重要的，就是IGBT技術(shù)。如果想要全面穩(wěn)妥的提高IGBT的可靠性，
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從連接器與電容入手提高IGBT可靠性
隨著不間斷電源等特殊電源的興起，IGBT在電子電路設(shè)計(jì)領(lǐng)域地位變得越來越重要，在之前的文章中小編為大家介紹有關(guān)IGBT可靠性中的芯片額定輸出功率密度的問題，在本文中，小
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安森美：精密可靠的汽車電子系統(tǒng)是關(guān)鍵
總的說來，2015年汽車電子市場的熱點(diǎn)領(lǐng)域包括燃油經(jīng)濟(jì)性、安全和舒適、便利及信息娛樂系統(tǒng)。隨著各國政府為提升燃油經(jīng)濟(jì)性和降低排放而制定日益嚴(yán)苛的法規(guī)，汽車中電子成分
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IP網(wǎng)絡(luò)的測試方法分析
隨著IP附應(yīng)用時(shí)及和深入,IP網(wǎng)絡(luò)的建設(shè)、維護(hù)和故障診斷面臨著巨大的挑戰(zhàn):網(wǎng)絡(luò)的規(guī)模越來越大、組成網(wǎng)絡(luò)的設(shè)備越來越復(fù)雜、在網(wǎng)絡(luò)中運(yùn)行的軟件系統(tǒng)越來越龐大、網(wǎng)絡(luò)承載的業(yè)務(wù)越來越多.網(wǎng)絡(luò)測試是保證網(wǎng)絡(luò)高性能、高可靠性和高可用率的基本手段,它在IP網(wǎng)絡(luò)建設(shè)和發(fā)展中的重要意義正得到日益廣泛的認(rèn)可。網(wǎng)絡(luò)測試網(wǎng)
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數(shù)字源表B2900A在半導(dǎo)體激光器測試中的應(yīng)用
半導(dǎo)體激光器是光纖通訊，激光顯示，氣體探測等領(lǐng)域中的核心部件，受到全世界科技人員的廣泛關(guān)注。在半導(dǎo)體激光器的生產(chǎn)、研發(fā)過程中，對激光器的光電特性的測量尤為重要，是控制激光器制備工藝的穩(wěn)定性，激光器性能可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。半導(dǎo)體激光器是半導(dǎo)體光電轉(zhuǎn)換器件。如圖1所示，半導(dǎo)體激光器由多層材料構(gòu)成。自下而上
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選擇應(yīng)力釋放測試，預(yù)測連接器使用壽命
【導(dǎo)讀】隨著人們對電子產(chǎn)品無故障工作性能的要求不斷增強(qiáng)，連接器的使用壽命是衡量連接器性能可靠性的首要指標(biāo)，在設(shè)計(jì)中，提高接器使用壽命成為一種設(shè)計(jì)導(dǎo)向。同時(shí)，市場競爭的加劇，在非昂貴合金中尋找適宜的材料，也成為工程師降低連接器的成本的首要選擇。在許多情況下，這些趨勢的綜合結(jié)果使得連接器的銅合金的工作特
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車用電控設(shè)備（50w）散熱器的設(shè)計(jì)與測試
[導(dǎo)讀] 在汽車電控設(shè)備設(shè)計(jì)中，電子器件是設(shè)備中的關(guān)鍵器件，電子器件散熱設(shè)計(jì)的好壞直接影響整個(gè)系統(tǒng)的可靠性。文章介紹了一種車用電控設(shè)備中50w散熱器的設(shè)計(jì)，并從使用角度介紹了散熱器的熱導(dǎo)分析及散熱器設(shè)計(jì)，對實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)與仿真分析結(jié)果進(jìn)行了對比分析，驗(yàn)證了設(shè)計(jì)的有效性。
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儀器儀表老化測試及其環(huán)境試驗(yàn)方法
工業(yè)使用的儀器，使用一定時(shí)期后，將滿足產(chǎn)品老化，老化的試驗(yàn)和環(huán)境試驗(yàn)，它可以檢測早期文書的一個(gè)潛在故障，準(zhǔn)備的解決方案和解決方案，尤其是可以發(fā)現(xiàn)的常見故障，所以相同的儀器設(shè)備早期通過修改電路和方法恢復(fù)，有助于提高耐久性和可靠性的工具。 1、老化測試： 一般的老化測試時(shí)對部分儀器儀表進(jìn)行長時(shí)間
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