很簡單的方法就是修改原始的菜單文件,這樣不太保險(xiǎn),下面的方法是通過自定義菜單位置來修改的,不會影響系統(tǒng)原始的菜單文件,隨時可以還原。有三個步驟。 修改有風(fēng)險(xiǎn),新手須謹(jǐn)慎 1,首先到C:CadenceSPB_15.2share
過年前,幾乎所有寫字樓里“坐辦公室”的人都有一個共同任務(wù),寫年終總結(jié)。大家都說,年終總結(jié)寫的其實(shí)是糾結(jié)。錢報(bào)寫字樓QQ群里,剛工作不到6個月的云兒給記者發(fā)來了一個50K大小、將近20頁的文檔,她用一
公司要求年終總結(jié)5000字起步 字?jǐn)?shù)不夠扣獎金
其實(shí)arl模板很容易寫,只要明白d表的內(nèi)容就可以,也可以照350自帶的arl修改,復(fù)制粘貼很快就可以搞定.主要是幾個關(guān)鍵位置 FMT_SKIPUNTIL ???? $skipe 和FMT_ROUND $skip D$dcode .... 其他關(guān)鍵字 見350的幫助
本文示舉兩例,介紹納米技術(shù)在微電子連接方面的應(yīng)用。納米技術(shù)(nanotechnology)是一門在0.1~100nm空間尺度內(nèi)操縱原子和分子,對材料進(jìn)行加工,制造具有特定功能的產(chǎn)品,或?qū)δ澄镔|(zhì)進(jìn)行研究,掌握其原子和分子的運(yùn)
簡介本文介紹了求職過程中,25個必須注意的問題。記住這些問題,很多讀者在找工作時,一定會增加成功的機(jī)會。 當(dāng)你找工作時,若你覺得許多因素你不能掌控從而影響了你得到工作的可能性那會使你發(fā)狂。經(jīng)濟(jì),你所在的
相位解包裹是使用相移顯微干涉法測量MEMS/NEMS表面3-D輪廓時的重要步驟.本文針對普通的相位解包裹方 法在復(fù)雜輪廓或包含非理想數(shù)據(jù)區(qū)的表面輪廓測量中的局限性,提出一種基于模板的廣度優(yōu)先搜索相位展開方法.通過模板 的使用,先將非相容區(qū)域標(biāo)記出來,在相位解包裹的過程中繞過這些區(qū)域,即可得到準(zhǔn)確可靠的相位展開結(jié)果.通過具體的應(yīng) 用實(shí)例可以證明,使用不同模板可以根據(jù)不同應(yīng)用的需要靈活而準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)微納結(jié)構(gòu)表面3-D輪廓測量中的相位展開. 關(guān)鍵詞:MEMS/NEMS;表面輪廓測量;模板;相位解包裹;邊緣檢測
測試成本已成為芯片設(shè)計(jì)的一個主要問題,相信這一點(diǎn)沒有人會提出質(zhì)疑。但真正讓人不解的是這個問題的嚴(yán)重性,不僅因?yàn)闇y試成本在某些系統(tǒng)級芯片設(shè)計(jì)中已是芯片成本最大組成部分,而且有些設(shè)計(jì)經(jīng)過判定后發(fā)現(xiàn)是不可能
如何找個好工作
相位解包裹是使用相移顯微干涉法測量MEMS/NEMS表面3-D輪廓時的重要步驟.本文針對普通的相位解包裹方 法在復(fù)雜輪廓或包含非理想數(shù)據(jù)區(qū)的表面輪廓測量中的局限性,提出一種基于模板的廣度優(yōu)先搜索相位展開方法.通過模板 的使用,先將非相容區(qū)域標(biāo)記出來,在相位解包裹的過程中繞過這些區(qū)域,即可得到準(zhǔn)確可靠的相位展開結(jié)果.通過具體的應(yīng) 用實(shí)例可以證明,使用不同模板可以根據(jù)不同應(yīng)用的需要靈活而準(zhǔn)確地實(shí)現(xiàn)微納結(jié)構(gòu)表面3-D輪廓測量中的相位展開. 關(guān)鍵詞:MEMS/NEMS;表面輪廓測量;模板;相位解包裹;邊緣
基于電池供電的傳感器網(wǎng)絡(luò)通常運(yùn)行在火山地帶、戰(zhàn)區(qū)等人無法接近的惡劣甚至危險(xiǎn)的遠(yuǎn)程環(huán)境之中,網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)的電源更換或再充電等工作通常無法進(jìn)行。廣泛分布于被測環(huán)境的傳感器節(jié)點(diǎn)既要負(fù)責(zé)收集敏感數(shù)據(jù),又要完成數(shù)據(jù)
基于電池供電的傳感器網(wǎng)絡(luò)通常運(yùn)行在火山地帶、戰(zhàn)區(qū)等人無法接近的惡劣甚至危險(xiǎn)的遠(yuǎn)程環(huán)境之中,網(wǎng)絡(luò)節(jié)點(diǎn)的電源更換或再充電等工作通常無法進(jìn)行。廣泛分布于被測環(huán)境的傳感器節(jié)點(diǎn)既要負(fù)責(zé)收集敏感數(shù)據(jù),又要完成數(shù)據(jù)
據(jù)美國物理學(xué)家組織網(wǎng)近日報(bào)道,美國俄亥俄州立大學(xué)科學(xué)家開發(fā)出一種名為“納米隧道電穿孔”的新技術(shù),或稱為NEP。利用其給細(xì)胞注射基因治療藥劑時,不用針頭,而是用電脈沖通過微小的納米隧道,幾毫秒內(nèi)就能把精確劑
1、前言 在現(xiàn)代電子產(chǎn)品世界中,PCB(印刷電路板)是組成電子產(chǎn)品的重要環(huán)節(jié),很難想象在一臺電子設(shè)備 中有不采用PCB的,所以PCB的質(zhì)量如何將對電子產(chǎn)品能否長期正??煽抗ぷ鲙矸浅4蟮挠绊?。提高 PCB的質(zhì)量是
針對OLED顯示屏的自動化缺陷檢測問題,提出了一種新的檢測方法。首先,基于顯示屏的原圖像,提取其骨架信息,進(jìn)行分塊處理后快速地與模板圖像配準(zhǔn),通過差影法實(shí)現(xiàn)斑痕缺陷的初次提取。然后通過大津法確定圖像的閾值,將圖像分割并進(jìn)行差影操作后,實(shí)現(xiàn)斑痕缺陷的檢測;最后,通過列舉的實(shí)例,驗(yàn)證了本方法的有效性。
1、前言 在現(xiàn)代電子產(chǎn)品世界中,PCB(印刷電路板)是組成電子產(chǎn)品的重要環(huán)節(jié),很難想象在一臺電子設(shè)備中有不采用PCB的,所以PCB的質(zhì)量如何將對電子產(chǎn)品能否長期正??煽抗ぷ鲙矸浅4蟮挠绊?。提高 PCB的質(zhì)量是電子
針對OLED顯示屏的自動化缺陷檢測問題,提出了一種新的檢測方法。首先,基于顯示屏的原圖像,提取其骨架信息,進(jìn)行分塊處理后快速地與模板圖像配準(zhǔn),通過差影法實(shí)現(xiàn)斑痕缺陷的初次提取。然后通過大津法確定圖像的閾值,將圖像分割并進(jìn)行差影操作后,實(shí)現(xiàn)斑痕缺陷的檢測;最后,通過列舉的實(shí)例,驗(yàn)證了本方法的有效性。
日前,由加拿大、中國、土耳其、德國科學(xué)家組成的科研小組稱,一種之前被認(rèn)為不可能存在的化合物——周期性中孔硅氫化合物合成成功,其在高溫下能轉(zhuǎn)為光致發(fā)光材料,可廣泛應(yīng)用于太陽能設(shè)備等設(shè)備中,相關(guān)研究發(fā)表在
劃片機(jī)視覺識別系統(tǒng)設(shè)計(jì)原理分析1 視覺識別系統(tǒng)構(gòu)成劃片機(jī)的視覺識別系統(tǒng)是以計(jì)算機(jī)為主的實(shí)時圖像處理系統(tǒng)。如圖1所示: 由光學(xué)照明系統(tǒng),CCD攝像器件,圖像處理軟件等部分組成。 識別系統(tǒng)的目的是實(shí)現(xiàn)自動
采用模板印制和絲網(wǎng)印制,都可以僅用一個操作步驟就將所有的焊錫沉積在印制電路板上,當(dāng)刮刀在模板或絲網(wǎng)上刮過以后,焊錫膏被擠進(jìn)模板或絲網(wǎng)上的開口中,這部分焊錫膏就和電路板相接觸。模板或絲網(wǎng)的開口與所有的焊