
近日,華工激光自主研發(fā)的紫外激光晶圓切割機獲首批國家自主創(chuàng)新產(chǎn)品認定。長期以來,我國在激光精密加工領域依賴進口,相關核心技術的研發(fā)進展緩慢。作為半導體芯片生產(chǎn)中的一個重要環(huán)節(jié),晶圓切割劃片技術不僅是芯
引言激光多譜勒位移測量技術具有精度高、信噪比高、動態(tài)響應快、線性好、抗干擾能力強、測量范圍大和非接觸性等特點,在遠距離目標的振動位移和變形等動態(tài)參數(shù)檢測上具有明顯優(yōu)勢,可廣泛應用于機械、航空、建筑和軍
引言 激光多譜勒位移測量技術具有精度高、信噪比高、動態(tài)響應快、線性好、抗干擾能力強、測量范圍大和非接觸性等特點,在遠距離目標的振動位移和變形等動態(tài)參數(shù)檢測上具有明顯優(yōu)勢,可廣泛應用于機械、航空、建
目前,照明工業(yè)有一些明顯的局限性。白熾燈泡效率很低,燈泡將多達90%能量轉變?yōu)闊崮?,從燈絲上散發(fā)出來。雖然節(jié)能燈(又稱“緊湊型熒光燈”)的銷路似乎更好(因為燈管的壽命更久,也更有效率),但是它并不是長久之
大本鐘亮燈慶賀150歲生日 英國當局安排在當晚10時,利用激光將寫有“150歲生日快樂,1859-2009”的字樣和圖像投射到鐘樓上。 大本鐘坐落于英國議會大廈的圣斯蒂芬鐘樓上,1859年建成,同年5月31日開始運轉,同年7月
瑞士聯(lián)邦理工學院(Swiss Federal Institute of Technology,ETH Zurich)的研究人員宣布,已利用單分子(molecule)開發(fā)出一種光學晶體管。 透過將激光束集中在單分子上,ETH Zurich的科學家只用單個分子就產(chǎn)生雷射光運
0 引 言Z掃描是一種應用于光學非線性測量的方法,使用這種方法可以測量光學材料非線性折射率的大小、正負以及非線性吸收系數(shù)。因為通過光學材料的激光能量大小與光電接收器轉換后獲得的電壓幅值成某種比例關系,因此
德國慕尼黑激光光電展于2009于6月15日在德國新慕尼黑展覽中心隆重開幕!上午9:30在ICM會議室召開的光電技術大會的開幕式,座無虛席?,F(xiàn)場展商的同臺獻演,各個論壇的同期召開,都營造了一個高科技的學術氛圍。在這里
歐司朗光電半導體推出新一代迷你激光棒,波長范圍介于 910 nm 至 1020 nm 之間,可提供卓越非凡的亮度。這些激光棒之間的輸出和光束參數(shù)匹配精密,超強光束以特定角度從窄小的激光輻射孔徑發(fā)出后,可完美耦合至帶限定
在激光屏障系統(tǒng)中,接收電路一般通過信號振幅來實現(xiàn)檢測的目的。這一配置產(chǎn)生了一個有很多組件的復雜電路,包括放大器、濾波器和閾探測器。但是你可以建立一個能夠通過音頻檢測器來檢測信號頻率的更簡單的電路
說起目前在投影機領域最火爆的技術是什么?非LED莫屬,關注投影機領域的網(wǎng)友已經(jīng)對其特點爛熟于胸,體積小、壽命長、節(jié)能又環(huán)保,但亮度始終無法達到主流需求。就在所有人關注于新光源的同時,許久之前就提出但又銷聲
在激光屏障系統(tǒng)中,接收電路一般通過信號振幅來實現(xiàn)檢測的目的。這一配置產(chǎn)生了一個有很多組件的復雜電路,包括放大器、濾波器和閾探測器。但是你可以建立一個能夠通過音頻檢測器來檢測信號頻率的更簡單的電路
2009年5月19日,第十二屆科博會在北京國際展覽中心隆重舉行,集合了優(yōu)越的色彩表現(xiàn)與節(jié)能環(huán)保雙重特點的新一代顯示技術——激光顯示備受各界關注。激光顯示技術為我國電視產(chǎn)業(yè)跨越式發(fā)展提供契機在激光顯
5月27日消息, 投影機終于在分辨率上超越了平板電視。繼JVC展示家用8K分辨率投影機之后,專業(yè)顯示設備供應商E&S也在今天展示了旗下8K分辨率激光投影機。這款投影機不僅分辨率達到了4240P,還能投射出全高清1080P分辨
目前,照明工業(yè)有一些明顯的局限性。白熾燈泡效率很低,燈泡將多達90%能量轉變?yōu)闊崮?,從燈絲上散發(fā)出來。雖然節(jié)能燈(又稱“緊湊型熒光燈”)的銷路似乎更好(因為燈管的壽命更久,也更有效率),但是它并不是長久之
0 引 言 Z掃描是一種應用于光學非線性測量的方法,使用這種方法可以測量光學材料非線性折射率的大小、正負以及非線性吸收系數(shù)。因為通過光學材料的激光能量大小與光電接收器轉換后獲得的電壓幅值成某種比例關
三洋電機(Sanyo Electric Co Ltd)日前開發(fā)出前置投影機,能夠在僅有63cm的距離投射出100英寸屏幕。此投影機使用“超短焦距投影技術”,該技術結合投影機鏡頭與凹面鏡(concave mirrors),并從組件上層表