引言 對(duì)單片機(jī)為核心構(gòu)成的智能檢測(cè)儀器,測(cè)量電壓、頻率時(shí)有多種方法。一般對(duì)電壓測(cè)量采用A/D轉(zhuǎn)換法或V/F轉(zhuǎn)換法。對(duì)頻率測(cè)量則采用測(cè)頻法或測(cè)周法。具體說(shuō): ·A/D轉(zhuǎn)換法將被測(cè)電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)阻抗匹配,變成單
引言 對(duì)單片機(jī)為核心構(gòu)成的智能檢測(cè)儀器,測(cè)量電壓、頻率時(shí)有多種方法。一般對(duì)電壓測(cè)量采用A/D轉(zhuǎn)換法或V/F轉(zhuǎn)換法。對(duì)頻率測(cè)量則采用測(cè)頻法或測(cè)周法。具體說(shuō): ·A/D轉(zhuǎn)換法將被測(cè)電壓信號(hào)經(jīng)過(guò)阻抗匹配,變成單
本文給出了一種以單片機(jī)為核心的頻率測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)方法。
利用Verilog HDL 硬件描述語(yǔ)言自頂向下的設(shè)計(jì)方法和QuartusⅡ 軟件,在復(fù)雜的可編程邏輯器件(FPGA, Field Programmable Gate Array)中實(shí)現(xiàn)了發(fā)電機(jī)組頻率測(cè)量計(jì)的設(shè)
利用Verilog HDL 硬件描述語(yǔ)言自頂向下的設(shè)計(jì)方法和QuartusⅡ 軟件,在復(fù)雜的可編程邏輯器件(FPGA, Field Programmable Gate Array)中實(shí)現(xiàn)了發(fā)電機(jī)組頻率測(cè)量計(jì)的設(shè)
頻率是反映信號(hào)特性的基本參量之一,頻率測(cè)量在應(yīng)用電子技術(shù)領(lǐng)域有著重要的地位。
本文提出了一種利用80C196的HIS(High SpeedInput,高速輸入)對(duì)信號(hào)進(jìn)行頻率測(cè)量的方法,測(cè)量精度高,通過(guò)測(cè)得的頻率相應(yīng)地改變電壓采樣頻率,實(shí)現(xiàn)頻率跟蹤,很好地提高電壓計(jì)算精度。
頻率是反映信號(hào)特性的基本參量之一,頻率測(cè)量在應(yīng)用電子技術(shù)領(lǐng)域有著重要的地位。
基于80C196的頻率測(cè)量及在電壓采樣中的應(yīng)用
本文介紹的測(cè)頻方法,不僅消除了直接測(cè)頻方法中對(duì)測(cè)量頻率需要采用分段測(cè)試的局際,而且在整個(gè)測(cè)試頻段內(nèi)能夠保持高精度不變。