美國(guó)ASSET InterTech宣布在上海市成立了邊界掃描技術(shù)中心。邊界掃描技術(shù)(IEEE 1149.1/JTAG)是將測(cè)試數(shù)據(jù)等讀入芯片、從芯片中讀出的技術(shù)。 最初該技術(shù)是作為封裝芯片的測(cè)試方法而開發(fā)的,最近也開始用于LSI測(cè)試
ARM發(fā)布AMBA 3 AXI ASSERTIONS
意大利測(cè)試設(shè)備制造商Seica公司將在2006年CPCA SHOW上展示該公司的新一代飛針測(cè)系統(tǒng)S20 光板測(cè)試儀(S20 Bare Board Tester),該系統(tǒng)創(chuàng)造了無須制造專門夾具或者機(jī)械適配器測(cè)試印刷電路板的測(cè)試方案。系統(tǒng)利用四個(gè)完
NEC電子公司美國(guó)分部宣布,作為全球范圍重組計(jì)劃的一部分,公司將在未來兩年內(nèi)對(duì)公司位于美國(guó)加州Roseville的工廠增添100名員工。 根據(jù)新聞報(bào)道,NEC電子公司正在關(guān)閉位于愛爾蘭的半導(dǎo)體芯片制造工廠,并將公司位于日
國(guó)半及ARM公布開放式 PowerWise 接口標(biāo)準(zhǔn)
美國(guó)吉時(shí)利(Keithley)儀器公司(NYSE:KEI)是為不斷增長(zhǎng)的測(cè)量需求提供解決方案的領(lǐng)導(dǎo)者,今年迎來了它的不斷發(fā)展創(chuàng)新的六十周年。吉時(shí)利儀器公司成立于1946年,今天,吉時(shí)利的測(cè)量測(cè)量解決方案已遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出其傳統(tǒng)的領(lǐng)
據(jù)外電報(bào)道,道瓊斯通訊社援引印尼通信部部長(zhǎng)索夫亞 達(dá)里爾(Sofyan Djalil)的話報(bào)道說,印尼運(yùn)營(yíng)商Indosat公司、Excelcomindo公司和Telkomsel公司已經(jīng)獲得了經(jīng)營(yíng)3G網(wǎng)絡(luò)的許可。 這篇報(bào)道稱,此次投標(biāo)經(jīng)營(yíng)3G網(wǎng)
HORIBA Jobin Yvon薄膜部推出了新型MM16高精度,高靈敏,低價(jià)格的相調(diào)制橢圓偏振光譜儀。其采用液晶調(diào)制技術(shù),2048CCD采集光譜,全譜采集時(shí)間僅2s鐘,同時(shí)橢偏儀在可見光波段采用4×4的Mueller 矩陣進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,可
Seica在2006年1月份的印度展覽會(huì)上展出公司最新設(shè)備—M4飛針測(cè)試機(jī),該設(shè)備的出現(xiàn)立即引起了業(yè)內(nèi)人士的關(guān)注?! ≡摦a(chǎn)品為需要進(jìn)行原型測(cè)試、模擬測(cè)試、功能測(cè)試后的故障診斷等各類測(cè)試的客戶提供了高性價(jià)比的解決方