什么是開關(guān)損耗?影響開關(guān)損耗的主要因素有哪些
一直以來,逆變電源都是大家的關(guān)注焦點之一。因此針對大家的興趣點所在,小編將為大家?guī)?a href="/tags/逆變電源" target="_blank">逆變電源的相關(guān)介紹,詳細(xì)內(nèi)容請看下文。
一、什么是開關(guān)損耗
開關(guān)損耗是逆變電源在功率開關(guān)器件開通和關(guān)斷瞬間產(chǎn)生的損耗,是高頻工作時最主要的損耗來源,直接影響整機效率與發(fā)熱。
逆變電源依靠 MOSFET、IGBT 等開關(guān)管高速通斷實現(xiàn)直流電到交流電的轉(zhuǎn)換。在開通瞬間,器件兩端電壓尚未下降,電流已開始上升;關(guān)斷瞬間,電流尚未下降,電壓已迅速升高,電壓與電流出現(xiàn)交疊區(qū)域,由此產(chǎn)生的損耗就是開關(guān)損耗。
開關(guān)損耗分為開通損耗和關(guān)斷損耗兩部分。開通損耗是器件從關(guān)斷轉(zhuǎn)為導(dǎo)通時,電壓、電流重疊產(chǎn)生的損耗;關(guān)斷損耗是器件從導(dǎo)通轉(zhuǎn)為關(guān)斷時,電壓上升與電流下降重疊產(chǎn)生的損耗。一般來說,關(guān)斷損耗大于開通損耗。
開關(guān)頻率對開關(guān)損耗影響極大。頻率越高,單位時間內(nèi)開關(guān)動作次數(shù)越多,總開關(guān)損耗就成正比增加,這也是逆變電源頻率不能無限提高的重要原因。
器件性能直接決定開關(guān)損耗大小。傳統(tǒng)硅基器件開關(guān)速度慢,重疊時間長,損耗大;而SiC、GaN 等寬禁帶器件開關(guān)速度快、重疊時間短,開關(guān)損耗遠(yuǎn)小于傳統(tǒng)器件,更適合高頻工作。
降低開關(guān)損耗的核心方法是采用軟開關(guān)技術(shù),通過諧振電路讓開關(guān)管在零電壓開通、零電流關(guān)斷狀態(tài)下工作,使電壓與電流不再重疊,從原理上大幅減小甚至消除開關(guān)損耗。
總之,開關(guān)損耗是制約逆變電源高頻化、高效率、小型化的關(guān)鍵因素,減小開關(guān)損耗是提升電源性能的重要方向。
二、影響開關(guān)損耗的主要因素
開關(guān)損耗是逆變電源在功率器件開通與關(guān)斷瞬間產(chǎn)生的損耗,其大小受器件特性、開關(guān)頻率、電路參數(shù)、工作條件等多方面因素影響,是決定逆變效率的關(guān)鍵。
開關(guān)頻率是最直接的影響因素。頻率越高,單位時間內(nèi)器件通斷次數(shù)越多,開關(guān)損耗會近似成正比增大。在高頻化逆變電源中,開關(guān)損耗會成為占比最大的損耗,嚴(yán)重降低整機效率。
功率開關(guān)器件的性能直接決定損耗水平。器件的開關(guān)速度越慢,電壓與電流重疊時間越長,開關(guān)損耗越大;反之,MOSFET、SiC、GaN 等開關(guān)速度快、上升下降時間短的器件,開關(guān)損耗顯著更小。此外,器件的反向恢復(fù)特性也會影響損耗,二極管反向恢復(fù)電流會帶來額外損耗。
驅(qū)動條件對開關(guān)損耗影響明顯。驅(qū)動電壓不足、驅(qū)動電阻過大,會延長開關(guān)時間,增大損耗;合理的驅(qū)動電路可加快開關(guān)速度,縮短重疊時間,降低損耗。
直流母線電壓與負(fù)載電流越大,開關(guān)過程中電壓電流乘積越高,開關(guān)損耗隨之增大。輸入電壓越高、負(fù)載越重,開關(guān)損耗越顯著。
電路中的寄生參數(shù)也不可忽視。線路寄生電感、電容會延長開關(guān)過渡過程,產(chǎn)生電壓尖峰與電流振蕩,增加額外開關(guān)損耗。優(yōu)化 PCB 布局、縮短功率走線可減小寄生參數(shù),從而降低損耗。
總之,開關(guān)頻率、器件特性、驅(qū)動條件、工作電壓電流和寄生參數(shù)共同決定開關(guān)損耗大小,合理控制這些因素是提高逆變電源效率的關(guān)鍵。
最后,小編誠心感謝大家的閱讀。你們的每一次閱讀,對小編來說都是莫大的鼓勵和鼓舞。希望大家對逆變電源已經(jīng)具備了初步的認(rèn)識,最后的最后,祝大家有個精彩的一天。





