測試是維護電子產品質量與品牌的關鍵一步，也是決定產品成本的關鍵一步

測試驗證是半導體廠商進行成品合格率（良率）管理的主要方法，它貫穿于集成電路設計開發(fā)、生產制造的全流程，每一個環(huán)節(jié)的測試結果都對最終良率有影響，綜合測試結果是判斷一顆芯片產品能否在市場上銷售的關鍵依據。

封裝與測試經常被統(tǒng)計在一起，但實際上，測試并不是只存在于封裝環(huán)節(jié)。在芯片開發(fā)階段，就要考慮可測試性設計（DFT），以確保大部分設計功能均能被測試到；在晶圓制造的過程中，需要對工藝控制的關鍵參數進行檢驗；晶圓探針測試（CP測試）通過探針來對裸芯片進行基本功能及電氣特性檢測，以篩查有制造缺陷的裸芯片；通過CP測試的裸芯片被送上封裝產線，完成封裝的成品進行終測（FT）；通過終測的產品，最終將出售到市場上。

“測試是維護電子產品質量與品牌的關鍵一步，也是決定產品成本的關鍵一步，把產品上市交給泰瑞達，泰瑞達就是電子產業(yè)的品牌捍衛(wèi)者。” 泰瑞達有限公司業(yè)務戰(zhàn)略總監(jiān)Natalian Der強調測試環(huán)節(jié)在電子產業(yè)的重要性。她舉了一個例子，汽車里面用到7000多個電子元器件，通常電子元器件的不良率以百萬分之一（PPM）來統(tǒng)計，單一元器件1個PPM的不良率在消費電子領域屬于優(yōu)良的指標，但放入汽車中，7000多個電子元器件如果都有1PPM或以上的不良率，折合到整車，每輛車因電子系統(tǒng)導致的不良率就高達0.7%，一千輛車有7輛車會出問題，這對汽車業(yè)而言“是無法承受的結果”。

泰瑞達2019第三季度業(yè)績

為了實現(xiàn)電子系統(tǒng)在整車應用上的PPM級別不良率，甚至是所謂的“零公里障礙”，就需要對電子元器件做更嚴格的篩選，車載電子元器件單一不良率通常在1個PPB（十億分之一）或以下，壽命要高達10年以上，這自然就依靠測試結果來判斷：該批次芯片能不能用、好不好用、能用多久。測試成本高是車載元器件相比消費級元器件成本高的主要原因之一。

Natalian告訴探索科技（techsugar），不管是車載元器件，還是消費用電子元器件，量產測試都是最后一道把關工序，而且是距離上市時間最近的一道工序，所以測試工程師的時間壓力非常大?！皽y試工程師承擔著最后的沖刺任務，什么時候測試完成，產品才能夠推向市場，測試環(huán)節(jié)也是成本管控的最后環(huán)節(jié)，如果不良率太高，將極大影響成本，測試工程師把控良率、提高產量，同時最關鍵要保證質量，所以測試是芯片生產過程中很重要的環(huán)節(jié)，成功的測試提供了產品最終質量的保證?！?

Natalian介紹，伴隨技術的發(fā)展，測試工程師的工作也面臨著更多挑戰(zhàn)。首先，設計工藝的進步提高了集成度，但先進工藝的可靠性相對降低，缺陷率也在增加，而社會對整機產品質量標準要求越來越高，這就給測試工作增加了極大的難度。

其次，芯片開發(fā)周期有縮短的趨勢。消費電子向來以換代快著稱，但Natalian表示，傳統(tǒng)的工業(yè)電子與汽車電子更新?lián)Q代速度也在加快，“調查表明，68%的汽車電子芯片在兩年內完成開發(fā)到上市的工作，越來越短的開發(fā)周期，加上越來越多的功能，工程師需要更先進的工具來完成測試工作?！?

最后，終端產品多樣化導致芯片種類多樣化，測試廠商希望測試平臺能具備更大靈活性，以適應更多種類芯片的測試，從而降低芯片測試的固定設備投入。

作為老牌測試設備廠商，泰瑞達針對上述挑戰(zhàn)已經有應對方案。利用泰瑞達可拓展測試架構，可以滿足現(xiàn)代芯片測試對靈活性的需求，無論是模擬、射頻還是數字類芯片，只需選擇相對應的測試板卡，就可以接入泰瑞達測試系統(tǒng)。

在測試加速上，泰瑞達的解決方案支持并行測試?！安⑿袦y試是最有效的加速方法，可以大幅降低單芯片測試時間與成本。同時，泰瑞達的測試環(huán)境是圖形化界面，測試工程師很容易上手，快速準確地完成測試任務，縮短產品上市時間?！?

Natalian還指出，微調整（trim）在測試中越來越常用，在測試時間中所占比例也逐步提高。她表示，先進工藝制造時更容易出現(xiàn)偏差，這時候通過微調整，可以把大部分不達標芯片參數值調整到規(guī)格之內?！肮に嚦叽缭絹碓叫?，通過可生產性設計來進行產品修復越來越普遍，尤其是射頻和模擬產品。通過trim可以調整電壓、電流與頻率，讓芯片最終滿足設計目標。”Natalian解釋道，“以射頻為例，trim時間達到了整個測試時間的40%以上，甚至能達到60%?！?