在5G基站、高速服務(wù)器等高頻場(chǎng)景中,PCB阻抗偏差超過(guò)5%可能導(dǎo)致信號(hào)失真、眼圖塌陷。本文介紹一種基于TDR測(cè)量與疊層參數(shù)反推的閉環(huán)驗(yàn)證方法,通過(guò)Python腳本實(shí)現(xiàn)自動(dòng)參數(shù)優(yōu)化,將阻抗誤差控制在工程允許范圍內(nèi)。
在集成電路設(shè)計(jì)(EDA)領(lǐng)域,團(tuán)隊(duì)協(xié)作面臨設(shè)計(jì)文件龐大、版本迭代頻繁、依賴關(guān)系復(fù)雜等挑戰(zhàn)。傳統(tǒng)基于共享文件夾或本地備份的協(xié)作方式易導(dǎo)致文件沖突、歷史丟失等問(wèn)題。Git作為分布式版本控制系統(tǒng),結(jié)合EDA工具特性進(jìn)行定制化配置,可顯著提升團(tuán)隊(duì)協(xié)作效率。本文從工程實(shí)踐角度探討Git在EDA場(chǎng)景中的應(yīng)用方案。
在FPGA開(kāi)發(fā)過(guò)程中,在線調(diào)試是驗(yàn)證設(shè)計(jì)功能、定位問(wèn)題的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。傳統(tǒng)調(diào)試方法依賴外接邏輯分析儀,存在成本高、操作復(fù)雜、信號(hào)易受干擾等問(wèn)題。而嵌入式調(diào)試工具如SignalTap邏輯分析儀和虛擬I/O(VIO)核,通過(guò)JTAG接口直接訪問(wèn)FPGA內(nèi)部信號(hào),成為現(xiàn)代FPGA調(diào)試的主流方案。
在先進(jìn)工藝節(jié)點(diǎn)(如7nm及以下)的FPGA/ASIC設(shè)計(jì)中,布局布線階段的擁塞(Congestion)問(wèn)題已成為制約時(shí)序收斂與良率的關(guān)鍵因素。通過(guò)EDA工具生成的Congestion Map可視化分析,結(jié)合針對(duì)性繞線策略調(diào)整,可顯著提升設(shè)計(jì)可布線性。本文以Cadence Innovus和Synopsys ICC II為例,解析擁塞優(yōu)化實(shí)戰(zhàn)方法。
該項(xiàng)目展示了在基于 FreeRTOS 的系統(tǒng)(運(yùn)行于 Arduino Uno 上)中實(shí)現(xiàn)安全的數(shù)據(jù)共享訪問(wèn)的實(shí)現(xiàn)方式。
在FPGA開(kāi)發(fā)中,IP核復(fù)用是提升開(kāi)發(fā)效率、降低設(shè)計(jì)風(fēng)險(xiǎn)的核心技術(shù)。AXI總線作為ARM與Xilinx聯(lián)合推出的高性能片上總線標(biāo)準(zhǔn),已成為IP核互連的首選接口。本文以Xilinx Vitis環(huán)境為例,解析AXI總線配置與中斷處理模塊封裝的實(shí)戰(zhàn)技巧,助力工程師快速構(gòu)建可復(fù)用的IP核。
在電子設(shè)備高速發(fā)展的今天,PCB(印刷電路板)的電磁兼容性(EMC)已成為影響產(chǎn)品可靠性的核心指標(biāo)。共模電感選型與布線隔離帶設(shè)計(jì)作為抑制共模噪聲的關(guān)鍵手段,其技術(shù)細(xì)節(jié)直接影響系統(tǒng)抗干擾能力。本文從選型參數(shù)匹配與布局隔離策略兩個(gè)維度,解析PCB電磁兼容性提升的核心方法。
在電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化(EDA)領(lǐng)域,庫(kù)文件管理是連接設(shè)計(jì)創(chuàng)意與工程落地的核心紐帶。從元件符號(hào)的精準(zhǔn)建模到工藝庫(kù)的版本迭代,高效管理策略不僅能提升設(shè)計(jì)效率,更能避免因數(shù)據(jù)不一致導(dǎo)致的生產(chǎn)事故。本文將從符號(hào)創(chuàng)建規(guī)范、工藝庫(kù)版本控制兩大維度,結(jié)合主流EDA工具實(shí)踐,解析庫(kù)文件管理的關(guān)鍵技巧。