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當(dāng)前位置:首頁 > 工業(yè)控制 > 電子設(shè)計自動化

在設(shè)計中,高速電路的布局布線和質(zhì)量分析無疑是工程師們討論的焦點。尤其是如今的電路工作頻率越來越高,例如一般的數(shù)字信號處理(DSP)電路板應(yīng)用頻率在150-200MHz是很常見的,CPU板在實際應(yīng)用中達(dá)到500MHz以上已經(jīng)不足為奇,在通信行業(yè)中Ghz電路的設(shè)計已經(jīng)十分普及。所有這些板的設(shè)計,往往是采用多層板技術(shù)來實現(xiàn)。在多層板設(shè)計中不可避免地為采用電源層的設(shè)計技術(shù)。而在電源層設(shè)計中,往往由于多種類的電源混合應(yīng)用而使得設(shè)計變?yōu)槭謴?fù)雜。
那么縈繞在工程師中的難題有哪些?
的層數(shù)如何定義?包括采用多少層?各個層的內(nèi)容如何安排最合理?如應(yīng)該有幾層地,信號層和地層如何交替排列等等。
如何設(shè)計多種類的電源分塊系統(tǒng)?如3.3V 2.5 5 12 等等。電源層的合理分割和共地問題是是否穩(wěn)定的一個十分重要的因素。
如何設(shè)計去耦電容?利用去耦電容來消除開關(guān)噪聲是常用的手段,但如何確定其電容量?電容放置在什么位置?什么時候采用什么類型的電容等等。
如何消除地彈噪聲?地彈噪聲是如何影響和干擾有用信號的?
回路(Return Path)噪聲如何消除?很多情況下,回路設(shè)計不合理是電路不工作的關(guān)鍵,而回路設(shè)計往往是工程師最覺得束手無策的工作。
如何合理設(shè)計電流的分配?尤其是地電層中電流的分配設(shè)計十分困難,而總電流在板中的分配如果不均勻,會直接明顯地影響板的不穩(wěn)定工作。
另外還有一些常見的如上沖,下沖,振鈴(振蕩),時延,阻抗匹配,毛刺等等有關(guān)信號的奇變問題,但這些問題和上述問題是不可分割的。它們之間是因果關(guān)系。

總的來說,設(shè)計好一個高質(zhì)量的高速板,應(yīng)該從信號完整性(SI---Signal Integrity)和電源完整性(PI---Power Integrity )兩個方面來考慮。盡管比較直接的結(jié)果是從信號完整性上表現(xiàn)出來的,但究其成因,我們絕不能忽略了電源完整性的設(shè)計。因為電源完整性直接影響最終板的信號完整性。
有一個十分大的誤區(qū)存在于工程師中間,尤其是那些曾經(jīng)使用傳統(tǒng)EDA工具來進(jìn)行高速設(shè)計的工程師。有很多工程師曾經(jīng)問過我們:“為什么用EDA具的SI信號完整性工具分析出來的結(jié)果和我們用儀器實際測試的結(jié)果不一致,而且往往是分析的結(jié)果比較理想?”其實這個問題很簡單。 引起這個問題的原因是:一方面是EDA廠商的技術(shù)人員沒有解釋清楚;另一方面是設(shè)計人員的對仿真結(jié)果的理解問題。我們知道,目前中國市場上使用比較多的EDA工具主要是SI(信號完整性)分析工具,SI 是在不考慮電源的影響下基于布線和器件模型而進(jìn)行的分析,而且大多數(shù)連模擬器件也不考慮(假定是理想的),可想而知,這樣的分析結(jié)果和實際結(jié)果肯定是有誤差的。因為大多數(shù)情況下, 板中電源完整性的影響比SI更加嚴(yán)重。
目前,雖然有些EDA廠商也已經(jīng)部分的提供PI(電源完整性)的分析功能,但由于它們的分析功能和SI(信號完整性)完全分開進(jìn)行, 用戶依然沒有辦法看到和實際測試結(jié)果接近的分析報告。PI 和 SI 是密切關(guān)聯(lián)的。而且很多情況下,影響信號奇變的主要原因是電源系統(tǒng)。 例如,去耦電容沒有設(shè)計好,地層設(shè)計不合理,回路影響很嚴(yán)重,電流分配不均勻,地彈噪聲太大等等。
作為設(shè)計工程師,其實很希望看到接近于實際結(jié)果的分析報告,那樣就便于校正和排除故障,做到真正意義上的仿真設(shè)計的效果。SPI 工具的出現(xiàn)使得上述的討論變?yōu)榭赡?。SPI的英文縮寫是 Signal-Power Integrity 顧名思義, 它是將SI 信號完整性和PI 電源完整性集成于一體的分析工具。使得 SI 和PI 從此不再孤立進(jìn)行。
APSIM-SPI 是行業(yè)中第一家, 也是唯一一家將信號完整性和電源完整性結(jié)合于一起的產(chǎn)品。有了SPI工具,工程師可以從此比較真實的從仿真波形中觀察到和用儀器實際測試十分接近的波形。也就是說,從此理論設(shè)計和實際測試就有可比性了。
以往的SI功能是在假設(shè)電源層等是理想狀態(tài)下的孤立的分析。雖然有很大的輔助作用,但沒有整體效果,用戶也很難簡單地根據(jù)SI分析結(jié)果來排除錯誤。作一個假設(shè),如果一塊板,由于它的VCC和GROUND線布得很細(xì),此時電路自然不工作。用示波器等儀表也很容易發(fā)現(xiàn)信號發(fā)生奇變很嚴(yán)重。但這種很容易想象的設(shè)計,如果用一般的SI分析工具,就無法仿真出信號的奇變情況。這時的情況是,盡管仿真結(jié)果的波形很完整,沒有奇變,但實際是已經(jīng)奇變到了不工作的地步。所以有工程師曾經(jīng)質(zhì)問:“為什么當(dāng)我們將板中電源線和地線布得無論多么多么窄, SI仿真中的信號波形都沒有變化?”, 原因就是SI仿真中沒有考慮你的PI, 也就是說沒有考慮你的電源線和地線。而要解決這個問題, 唯一的辦法就是采用SPI工具。SPI 在進(jìn)行SI信號完整性分析是充分考慮地電層,包括信號層中的地電線,以及大面積地信號填充等。而這些地電層的不穩(wěn)定信號或干擾將完全的疊加到SI的仿真結(jié)果中去。這樣才能仿真真正的實際工作效果,當(dāng)然其最終結(jié)果也就接近了實際測試結(jié)果。便于工程師直觀考慮和校正。
APSIM-SPI 為了實現(xiàn)SI 和PI 的有機(jī)結(jié)合,無論從內(nèi)部模型、計算方法、用戶界面、分析功能以及仿真機(jī)理等都作了重大調(diào)整。目的是使用戶使用依然方便的前提下保證SPI功能的完美性。比如在RLGC建模和分布參數(shù)提取時,SPI 的RLGC參數(shù)提取就要比以前單純的SI 參數(shù)提取要復(fù)雜的多。因為在SPI 中要必須充分的考慮地電層的寄生參數(shù),以及地電層和信號線之間的連接關(guān)系。

APSIM-SPI 在進(jìn)行信號奇變分析時將充分考慮地電層的影響。因為SPI 在建模時將地電層的寄生參數(shù)模型和信號布線的參數(shù)模型,以及器件IBIS或SPICE模型一起綜合考慮。因此無論你設(shè)計中的去耦電容、濾波電容、端子電阻等模擬部件還是電路在工作產(chǎn)生的SSO開關(guān)噪聲、地彈噪聲等等都將一起反應(yīng)在最終的仿真結(jié)果波形上。
利用APSIM公司的SPI工具,工程師在設(shè)計板時就可以直觀地觀察信號的奇變情況,并進(jìn)行及時的調(diào)整。如當(dāng)發(fā)現(xiàn)自己的地線布得不夠?qū)挄r,信號會有噪聲,甚至變形,這時你就可以調(diào)整地線寬度,直到滿意為至。而以往地線終究應(yīng)該布多寬?工程師們只有憑經(jīng)驗去調(diào)試,沒有任何工具可以輔助它們進(jìn)行設(shè)計指導(dǎo)。而如果地線布得不好,則引起板不工作的概率將十分大。但如今的板如此之復(fù)雜,不僅僅是地線寬度的問題, 還應(yīng)該包括地平面填充、多層地平面設(shè)計、尤其是地平面的分割技術(shù)處理等等, 對不同的頻率要用不同的處理方法。 如果光憑有限的經(jīng)驗肯定是不能滿足設(shè)計要求的?,F(xiàn)在借助于APSIM-SPI, 工程師就可以很方便地知道他的地平面、地線系統(tǒng)設(shè)計是否合理及有效。
例如:當(dāng)設(shè)計多層板時,很多工程師在要考慮每一層如何安排時經(jīng)常不知是先放信號層還是先放地層?是信號層和地層交替放還是集中放?現(xiàn)在工程師可以根據(jù)SPI的仿真結(jié)果, 清楚地得到是哪一種方法效果最好。
再如:當(dāng)在地線層上有多個電源時,如3.3V的地 、2.5V的地、5V的地等,如何進(jìn)行分割處理?以往工程師只能憑有限的經(jīng)驗,而且也只能從邊界劃分去簡單考慮合理性。如果這方面設(shè)計不合理,其后果是可想而知的,相信工程師們是有很深的體會的。但由于地層往往在 板的中間層,因為物理上根本接觸不到,調(diào)試是就很難進(jìn)行修改。而事實上,在進(jìn)行多電源地層設(shè)計時,不光要考慮各個地域之間的邊界問題,還要考慮濾波問題、共地問題等等。 有了SPI工具,工程師就可以很方便的進(jìn)行多電源地域分割的合理設(shè)計了。如果不合理, 那么仿真時信號就會變形,這在以前是根本做不到的。
在處理地彈噪聲和SSO開關(guān)噪聲時,大家知道這方面噪聲的嚴(yán)重性(在EDA中, 這方面的噪聲歸納于PI電源完整性分析范圍), 尤其是高速, 經(jīng)常遇到工作狀態(tài)不穩(wěn)定, 其實很可能是由于開關(guān)噪聲或者是地彈噪聲所引起的。工程師們也一定知道一些簡單的處理辦法。 但從定量的角度考慮時,就很復(fù)雜了。例如:一種簡單的消除SSO開關(guān)噪聲的有效方法是在電源和地之間加濾波電容, 常用的方法是加一些不同質(zhì)量和類型的電解電容,工程師一定很容易定量確定這些電容的最大電壓,(只要根據(jù) 板的工作電壓就可以進(jìn)行計算 ),但如何定量確定這些電容的容量,(電容值)往往是只有憑經(jīng)驗了,或者是參考其它電路的設(shè)計。因為要靠理論去計算將是十分困難的。 尤其是現(xiàn)在的 板電路如此復(fù)雜就更加不容易靠手工計算了。電容的放置位置也是不容易確定的因素之一。但這些電解電容的放置位置和它所起的濾波效果將密切相關(guān)。(常見的方法是放置在板的電源入口處)。
現(xiàn)在利用APSIM-SPI工具,工程師就可以很方便地來設(shè)計和驗證這些濾波電容的效果了。并且有效的確定這些電容的放置位置和它們的電容值。多余的電容堅決不要,應(yīng)該有的電容一定不能少!
APSIM-SPI還有很多有關(guān)信號奇變和仿真設(shè)計方面的特點。我們相信,現(xiàn)在的高速板設(shè)計必須采用先進(jìn)的輔助手段來進(jìn)行,SPI 結(jié)合了多年來的設(shè)計經(jīng)驗,集合了先進(jìn)的SI和PI分析技術(shù),直接真實地仿真板的具體工作狀態(tài),更加接近于實際測試結(jié)果。SPI提供了全新的調(diào)試平臺,使得多年來一直憑經(jīng)驗設(shè)計的方法過渡到仿真環(huán)境中。大大的提高了高速的一次設(shè)計成功率。SPI 在業(yè)界已經(jīng)逐步成為高速 設(shè)計工程師最受歡迎,最必須的設(shè)計分析工具。SPI 和業(yè)界其它設(shè)計工具密切配合使用。 如Mentor Graphics Cadence PADS Protel …


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