在摩爾定律的發(fā)展極限之下，產(chǎn)生更多裝置連結(jié)與資料分析的需求。也由于物聯(lián)網(wǎng)與智慧手機(jī)的發(fā)展，使得類比與RF訊號(hào)更顯得重要。未來的訊號(hào)，將不再以純類比訊號(hào)為主，而是更為復(fù)雜的類比與RF混合訊號(hào)，這使得傳統(tǒng)ATE（半導(dǎo)體自動(dòng)化測試設(shè)備）系統(tǒng)出現(xiàn)了瓶頸。由于混合訊號(hào)的測試需求不斷提升，ATE系統(tǒng)面對(duì)類比與RF訊號(hào)卻顯得力不從心。這使得相關(guān)業(yè)者也必須開始全盤考量新一代的半導(dǎo)體測試設(shè)備。

　　不同于傳統(tǒng)ATE的封閉式架構(gòu)，STS具有開放式的模組化架構(gòu)，可協(xié)助工程師運(yùn)用PXI儀器。

　　對(duì)此，美商國家儀器提供了更低成本的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)（Semiconductor Test System;STS），協(xié)助工程師和科學(xué)家克服半導(dǎo)體測試的工程挑戰(zhàn)。這是基于PXI架構(gòu)的自動(dòng)化測試系統(tǒng)，內(nèi)建有半導(dǎo)體生產(chǎn)測試環(huán)境的PXI模組，有助于降低RF和混合式訊號(hào)裝置的測試成本。

　　相較于傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng)，STS先期使用者都證實(shí)了STS有助于降低生產(chǎn)成本、提高產(chǎn)能，而且還可以透過相同的硬體和軟體工具，同時(shí)執(zhí)行特性測試與生產(chǎn)作業(yè)。這樣一來即可更快建立資料關(guān)聯(lián)并縮短上市時(shí)間。

　　不同于傳統(tǒng)ATE的封閉式架構(gòu)，STS具有開放式的模組化架構(gòu)，可協(xié)助工程師運(yùn)用PXI儀器。這對(duì)RF和混合式訊號(hào)測試而言尤其重要，因?yàn)閭鹘y(tǒng)ATE的測試范圍通常無法滿足最新半導(dǎo)體技術(shù)的需求。STS搭載TestStand測試管理軟體、和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計(jì)軟體，針對(duì)半導(dǎo)體生產(chǎn)環(huán)境提供了豐富的功能組合，包含可客制化的操作介面、分類機(jī)/針測機(jī)整合、裝置為主的程式設(shè)計(jì)和針腳-通道配置、標(biāo)準(zhǔn)測試資料格式報(bào)表制作、整合式多地點(diǎn)支援等。

　　這些功能讓工程師可迅速開發(fā)測試程式、加以除錯(cuò)并完成布署，縮短整體的上市時(shí)間。此外，STS還配備了全封閉式的“零占用空間”測試頭、標(biāo)準(zhǔn)銜接與連結(jié)機(jī)構(gòu)，可立即整合至半導(dǎo)體生產(chǎn)測試單元。

　　STS系列提供三種不同的機(jī)型：T1、T2、T4，分別容納了1、2、4個(gè)PXI機(jī)箱。這些尺寸選項(xiàng)，再加上所有STS機(jī)型通用的軟體、儀控和互連機(jī)構(gòu)，可協(xié)助工程師充分滿足不同的針腳和地點(diǎn)數(shù)量需求。此外，便于擴(kuò)充的STS還可以布署至特性測試甚至是生產(chǎn)環(huán)境，藉此優(yōu)化成本效益、大幅簡化建立資料關(guān)聯(lián)的程序，進(jìn)而縮短上市時(shí)間。