有哪些意識會使芯片驗(yàn)證失敗,遺漏bug
芯片驗(yàn)證工程師 2021-11-12 14:16
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毫無疑問,在芯片驗(yàn)證中遺漏bug既耗時又耗錢。常常有些團(tuán)隊(duì)不遵循良好的驗(yàn)證意識,導(dǎo)致驗(yàn)證項(xiàng)目失敗。下面列出了芯片研發(fā)團(tuán)隊(duì)常犯的一些導(dǎo)致芯片遺漏bug的錯誤:第一,驗(yàn)證工程師在驗(yàn)證設(shè)計時基于設(shè)計的具體實(shí)現(xiàn)而不是原始規(guī)格。此時的驗(yàn)證僅僅證明設(shè)計自己與自己功能相同,我們的驗(yàn)證需求應(yīng)該來自更加原始的規(guī)格需求。第二,設(shè)計人員未參與到驗(yàn)證計劃的檢視。驗(yàn)證計劃的開發(fā)是整個驗(yàn)證周期的起點(diǎn),也是芯片研發(fā)周期設(shè)計和驗(yàn)證最初始的溝通橋梁。設(shè)計人員未參與到驗(yàn)證計劃,不可避免會導(dǎo)致驗(yàn)證工程師忽略到部分關(guān)鍵的功能測試點(diǎn),進(jìn)而導(dǎo)致芯片出現(xiàn)功能故障。?第三,驗(yàn)證工程師忽視逃逸分析。做錯了題不去反省,和沒做有什么區(qū)別?作為驗(yàn)證工程師,我們應(yīng)該從過去犯的錯誤中吸取一些教訓(xùn),因?yàn)?a href="/tags/芯片驗(yàn)證" target="_blank">芯片驗(yàn)證錯誤成本是巨大的。如果不從過去犯的錯誤當(dāng)中吸取教訓(xùn),我們注定再犯同樣的錯誤。同時,大多數(shù)的芯片bug都是發(fā)生在非常刁鉆的場景,所以進(jìn)行芯片故障的逃逸分析并不丟人。?第四,項(xiàng)目團(tuán)隊(duì)依靠計劃時間表而不是項(xiàng)目各階段輸出標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行sign off。著急的計劃安排,常常會導(dǎo)致我們忽視糟糕的實(shí)際項(xiàng)目執(zhí)行現(xiàn)狀。在芯片研發(fā)階段質(zhì)量活動未進(jìn)行徹底的條件下著急地sign off非常容易引發(fā)更長時間的項(xiàng)目延期,從而負(fù)擔(dān)更大的機(jī)會成本。