有哪些意識會使芯片驗證失敗，遺漏bug
[導(dǎo)讀]毫無疑問，在芯片驗證中遺漏bug既耗時又耗錢。常常有些團(tuán)隊不遵循良好的驗證意識，導(dǎo)致驗證項目失敗。下面列出了芯片研發(fā)團(tuán)隊常犯的一些導(dǎo)致芯片遺漏bug的錯誤：第一，驗證工程師在驗證設(shè)計時基于設(shè)計的具體實現(xiàn)而不是原始規(guī)格。此時的驗證僅僅證明設(shè)計自己與自己功能相同，我們的驗證需求應(yīng)該來...
毫無疑問，在芯片驗證中遺漏bug既耗時又耗錢。常常有些團(tuán)隊不遵循良好的驗證意識，導(dǎo)致驗證項目失敗。下面列出了芯片研發(fā)團(tuán)隊常犯的一些導(dǎo)致芯片遺漏bug的錯誤：第一，驗證工程師在驗證設(shè)計時基于設(shè)計的具體實現(xiàn)而不是原始規(guī)格。此時的驗證僅僅證明設(shè)計自己與自己功能相同，我們的驗證需求應(yīng)該來自更加原始的規(guī)格需求。
第二，設(shè)計人員未參與到驗證計劃的檢視。驗證計劃的開發(fā)是整個驗證周期的起點，也是芯片研發(fā)周期設(shè)計和驗證最初始的溝通橋梁。設(shè)計人員未參與到驗證計劃，不可避免會導(dǎo)致驗證工程師忽略到部分關(guān)鍵的功能測試點，進(jìn)而導(dǎo)致芯片出現(xiàn)功能故障。?第三，驗證工程師忽視逃逸分析。做錯了題不去反省，和沒做有什么區(qū)別？作為驗證工程師，我們應(yīng)該從過去犯的錯誤中吸取一些教訓(xùn)，因為芯片驗證錯誤成本是巨大的。如果不從過去犯的錯誤當(dāng)中吸取教訓(xùn)，我們注定再犯同樣的錯誤。同時，大多數(shù)的芯片bug都是發(fā)生在非常刁鉆的場景，所以進(jìn)行芯片故障的逃逸分析并不丟人。?第四，項目團(tuán)隊依靠計劃時間表而不是項目各階段輸出標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行sign off。著急的計劃安排，常常會導(dǎo)致我們忽視糟糕的實際項目執(zhí)行現(xiàn)狀。在芯片研發(fā)階段質(zhì)量活動未進(jìn)行徹底的條件下著急地sign off非常容易引發(fā)更長時間的項目延期，從而負(fù)擔(dān)更大的機(jī)會成本。
第二，設(shè)計人員未參與到驗證計劃的檢視。驗證計劃的開發(fā)是整個驗證周期的起點，也是芯片研發(fā)周期設(shè)計和驗證最初始的溝通橋梁。設(shè)計人員未參與到驗證計劃，不可避免會導(dǎo)致驗證工程師忽略到部分關(guān)鍵的功能測試點，進(jìn)而導(dǎo)致芯片出現(xiàn)功能故障。?第三，驗證工程師忽視逃逸分析。做錯了題不去反省，和沒做有什么區(qū)別？作為驗證工程師，我們應(yīng)該從過去犯的錯誤中吸取一些教訓(xùn)，因為芯片驗證錯誤成本是巨大的。如果不從過去犯的錯誤當(dāng)中吸取教訓(xùn)，我們注定再犯同樣的錯誤。同時，大多數(shù)的芯片bug都是發(fā)生在非常刁鉆的場景，所以進(jìn)行芯片故障的逃逸分析并不丟人。?第四，項目團(tuán)隊依靠計劃時間表而不是項目各階段輸出標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行sign off。著急的計劃安排，常常會導(dǎo)致我們忽視糟糕的實際項目執(zhí)行現(xiàn)狀。在芯片研發(fā)階段質(zhì)量活動未進(jìn)行徹底的條件下著急地sign off非常容易引發(fā)更長時間的項目延期，從而負(fù)擔(dān)更大的機(jī)會成本。
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