現(xiàn)代高速模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)已經(jīng)實現(xiàn)了射頻(RF)信號的直接采樣，因而在許多情況下均無需進行混頻，同時也提高了系統(tǒng)的靈活性和功能。

傳統(tǒng)上，ADC信號和時鐘輸入都采用集總元件模型來表示。但是對于RF采樣轉(zhuǎn)換器而言，其工作頻率已經(jīng)增加至需要采用分布式表示的程度，那么原有的方法就不適用了。

本系列文章將從三個部分入手，說明如何將散射參數(shù)(也稱為S參數(shù))應(yīng)用于直接射頻采樣結(jié)構(gòu)的設(shè)計。

起決定性作用的S參數(shù)

S參數(shù)就是建立在入射微波與反射微波關(guān)系基礎(chǔ)上的網(wǎng)絡(luò)參數(shù)。它對于電路設(shè)計非常有用，因為可以利用入射波與反射波的比率來計算諸如輸入阻抗、頻率響應(yīng)和隔離等指標。而且由于可以用矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀(VNA)直接測量S參數(shù)，因此無需知曉網(wǎng)絡(luò)的具體細節(jié)。

圖1所示的是一個雙端口網(wǎng)絡(luò)的例子，其入射波量為ax，反射波量為bx，其中x是端口。在該討論中，我們假設(shè)被測器件是線性網(wǎng)絡(luò)，因此適合采用疊加法。

圖1：雙端口網(wǎng)絡(luò)波量

通常情況下，在測量所有端口上的反射波時，VNA一次只刺激一個端口(通過將入射波推到該端口)。而且所測量的這些波量是非常復(fù)雜的，因為每個波量都有相應(yīng)的振幅和相位。因此，這個過程需要針對每個測試頻率下的每個端口不斷重復(fù)。

對于雙端口器件，我們可以從測量數(shù)據(jù)中形成四個有意義的比率。這些比率通常用sij表示，其中i表示反射端口，而j表示入射端口。正如上文提到的，假設(shè)一次只刺激一個端口，那么其他端口的入射波為零(用系統(tǒng)的特性阻抗Z0來表示終止)。

方程式1至4適用于四個雙端口S參數(shù)。S11 and S22 分別表示端口1和端口2的復(fù)阻抗。S21表示傳輸特性，端口1為輸入，端口2為輸出(S12 與之相同，但端口2為輸入，端口1為輸出)。

S11 = b1/a1，a2 = 0(1)

S21 = b2/a1，a2 = 0(2)

S12 = b1/a2，a1 = 0(3)

S22 = b2/a2，a1 = 0(4)

對于單向器件而言，如放大器(端口1為輸入，端口2為輸出)，可以用S11表示輸入阻抗，用S21表示頻率響應(yīng)，用S12表示反向隔離，用S22表示輸出阻抗。數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器也是一種單向器件，但其端口2通常為數(shù)字輸出，這對測量和解讀都會產(chǎn)生一定的影響。

將S參數(shù)擴展到多端口器件和差分器件

可以將S參數(shù)框架擴展到任意數(shù)量的端口，有意義的參數(shù)數(shù)量為2N，其中N表示端口數(shù)量。許多集成電路由于振蕩和共模抑制能力增強而具有差分輸入和輸出。射頻采樣ADC(如TI的ADC12DJ5200RF)通常具有差分射頻輸入和差分時鐘輸入。我們還可以進一步擴展S參數(shù)框架，以支持差分端口。

為滿足嚴苛的應(yīng)用要求而設(shè)計?

如圖2所示，對于差分端口來說，我們必須區(qū)分共模波和差模波。兩種模式具有相同的入射振幅，但差模入射波具有180度的相移，而共模入射波具有相同的相位。

差模

共模

對于端口之間沒有反饋的線性器件來說，可以采用疊加法，根據(jù)單端S參數(shù)測量(在任何給定時間內(nèi)，只有一個端口具有處于活動狀態(tài)的入射波)來計算出差共混合模式S參數(shù)?，F(xiàn)代高性能VNA還支持用差模或共模波同時刺激兩個端口。

測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器S參數(shù)所面臨的挑戰(zhàn)

數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的半模擬半數(shù)字特性給測量S參數(shù)帶來了挑戰(zhàn)。VNA不能直接與數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器的數(shù)字總線相連接，因此需要采用專門的方法來進行測量。

本系列文章的第二部分將介紹測量德州儀器射頻采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器S參數(shù)的方法。第三部分將討論如何在射頻采樣數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換器系統(tǒng)的設(shè)計中使用S參數(shù)。