美商國家儀器（NI）第八屆大中華PXI技術(shù)與應(yīng)用論壇5月18日于臺北六?；蕦m盛大登場。來自不同產(chǎn)業(yè)界的代表廠商，在現(xiàn)場人潮洶涌的實際應(yīng)用展示區(qū)內(nèi)，百花齊放地呈現(xiàn)了以PXI模組化儀控設(shè)備和LabVIEW軟體為核心、有效提升自動化測試效能的最新成果。從電源供應(yīng)、光學鏡頭到LED晶圓生產(chǎn)設(shè)備，NI的PXI模組化軟硬體平臺扮演著舉足輕重的關(guān)鍵角色。

圖一NI PXI論壇現(xiàn)場人潮絡(luò)繹不絕

在電源元件自動化測試部份，固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑表示，以往單一PXI儀控設(shè)備所能夠消耗的功率限制在25W之內(nèi)，若待測物需要用到大瓦特數(shù)時，便必須搭配一般傳統(tǒng)的量測儀器，因此設(shè)計彈性就受到限制。固緯電子便藉由NI軟體定義的PXI模組化平臺價值為核心，擴充測試大瓦特數(shù)電源轉(zhuǎn)換器待測物的能力。為突破以往中低階量測儀器供應(yīng)商的市場定位，固緯電子以上述概念作為出發(fā)點，與NI合作設(shè)計出開放式模組化電源測試系統(tǒng)，強化了工業(yè)和消費電子應(yīng)用電源轉(zhuǎn)換器的測試能力。

這款模組化電源測試系統(tǒng)中，NI主要提供操作介面、示波器和電表卡板、以及耐高壓轉(zhuǎn)換匯流排，其余則是由固緯電子所衍生開發(fā)。為了降低客戶使用的門檻，在預設(shè)版本內(nèi)就先刪除PXI控制器簡化功能的角色。至于軟體部份則是采用NI的測試管理套件TestStand，以此為基礎(chǔ)開發(fā)出其他LabVIEW測項功能，大部分軟體平臺也是由NI所提供。藉此固緯電子設(shè)計出一套可支援工業(yè)用電腦和消費電子產(chǎn)品等電源自動化測試、并能提供相關(guān)服務(wù)的原型平臺。

圖二固緯電子示波器研發(fā)事業(yè)處專案襄理曾元佑

另一方面，在光學透鏡檢測部份，國家實驗研究院儀器科技研究中心先進電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥指出，消費電子產(chǎn)品搭配的光學鏡頭，需要經(jīng)過嚴謹?shù)钠臋z測作業(yè)。藉由PXI模組平臺的輔助，影像式光學透鏡模組的偏心檢測機臺，光軸中心和幾何中心兩點運算的偏心量就能更為精確地檢測出來，且能進一步提高周邊擴充功能和運算速度，比起傳統(tǒng)機械式繞圓的檢測方式，更能提高效率和精確度，從2～3分鐘大幅縮減數(shù)秒即可。

圖三右為國家實驗研究院儀器科技；左為研究中心先進電子系統(tǒng)制作廠助理研究員陳永祥

此外在LED晶圓測試領(lǐng)域，PXI模組化平臺更扮演不可或缺的角色。亞克先進系統(tǒng)部經(jīng)理林世芳和順英有限公司蕭順中表示，現(xiàn)場展示的6寸LED晶圓測試設(shè)備，整合順英的電光測試機以及亞克先進的移動控制機臺，測試機除采用NI PXI SMU模組之外，整座機臺亦涵蓋NI在電性、馬達、影像視覺、I/O介面、LabVIEW等軟硬體功能，可支援高速、低雜訊、穩(wěn)定而精確的量測品質(zhì)。6寸LED晶圓測試設(shè)備可同時進行垂直4點LED探針測試，并可兼顧波長檢測項目，不僅能大幅提高檢測產(chǎn)能，更可大幅降低無塵室生產(chǎn)線的建置成本，是臺灣自主開發(fā)的LED軟硬體檢測平臺。

圖四右為亞克先進系統(tǒng)部經(jīng)理林世芳；左為順英有限公司蕭順中