德國(guó)蘇斯微技術(shù)(SUSS MicroTec)開(kāi)發(fā)出了支持300mm晶圓的三維層疊元件用測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)可在晶圓級(jí)別上對(duì)最終封裝工序前的三維層疊元件進(jìn)行探針檢測(cè)。
此次的測(cè)試系統(tǒng)裝有可使探針(Probe)沿垂直方向準(zhǔn)確移動(dòng)的機(jī)構(gòu)。能夠?qū)?zhǔn)位置并補(bǔ)正溫度。采用了可使探針發(fā)出的信號(hào)不受EMI影響的技術(shù)。還通過(guò)減小探針觸擊力量,降低了對(duì)元件的影響。
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近年來(lái),HDD機(jī)械硬盤(pán)市場(chǎng)遭遇了SSD硬盤(pán)的沖擊,除了單位容量?jī)r(jià)格還有一點(diǎn)優(yōu)勢(shì)之外,性能、體積、能耗等方面全面落敗,今年再疊加市場(chǎng)需求下滑、供應(yīng)鏈震蕩等負(fù)面因素,HDD硬盤(pán)銷(xiāo)量又要大幅下滑了。來(lái)自集邦科技旗下的Trend...
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