LED半導體照明網訊 臺灣地區(qū)在2007年成立了LED照明標準及品質提升研發(fā)聯(lián)盟，制訂LED恒溫恒濕試驗試驗機，LED光源型式發(fā)光二極管交通信號燈及燈箱的“緊急照明燈”及“道路照明”標準，預定在今年再訂定11份LED標準草案。據(jù)了解，臺灣地區(qū)也已開始著手制訂LED路燈的安全標準規(guī)范，預計將于下半年出爐。

LED光源和LED燈具的測試標準主要包括：LED高低溫老化箱，LED光源高溫老化試驗，LED老化測試，LED燈具高溫老化，LED光源高低溫循環(huán)試驗，LED燈具高低溫測試，LED高溫高濕試驗，LED光源高溫高濕測試，LED燈具高溫高濕實驗，LED濕熱老化試驗，LED高低溫濕熱試驗，LED燈具冷熱沖擊試驗，LED光源高低溫沖擊試驗，LED恒溫恒濕試驗，LED溫濕度試驗，LED紫外線老化試驗，LED鹽霧腐蝕試驗，LED燈具振動試驗，LED跌落試驗，LED包裝運輸抗壓試驗等。

LED光源和燈具近些年在照明工程中的應用越來越普遍，但由于缺乏相關的標準，LED照明產品種類雖多，品質卻參差不齊。隨著LED照明產業(yè)的快速發(fā)展，國際、國內均開始重視相關測試標準的制定。

一、國際標準制定現(xiàn)況

當前，美國國家標準檢測研究所(NIST)正在開展LED測試方法的研究，準備建立整套的LED測試方法和標準；日本也成立了“白光LED測試研究委員會”，專門研究照明用白光LED的高低溫測試方法和技術標準(高低溫循環(huán)測試箱)。世界發(fā)達國家為了搶占LED產業(yè)先機，在LED標準和測試方面都投入了大量的人力物力，在標準方面注重選擇LED特性參數(shù)及測試方法研究。同時，許多國外大公司的研究和開發(fā)人員正在積極參與國家和國際專業(yè)化組織，制訂半導體照明高低溫測試(LED高溫高濕試驗箱)標準。

國際照明委員會(CIE)1997年發(fā)表的CIE127-1997LED測試方法，把LED強度測試確定為平均強度的概念，并且規(guī)定了統(tǒng)一的測試結構和探測器大小，為LED的準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE127-1997測試方法并非國際標準，但它容易實施準確測試比對，目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著技術的快速發(fā)展，許多新的LED技術特性在CIE127-1997LED高溫高濕測試方法中沒有涉及。

在有關LED標準的制定方面，日本也是十分努力。如日本Nichia就曾與美國Lumileds進行各自LED技術的交叉授權，并準備聯(lián)合制訂功率型LED標準，以推動市場應用，并促使LED產業(yè)的發(fā)展更為穩(wěn)固。

目前，美國產品安全認證和標準安全制定組織UL(UnderwritersLaboratoriesInc.)正在著手開發(fā)一系列涉及LED產品的安全評定標準。

UL公司照明策劃商務部總經理EliPuszkar表示，為了保證新的LED照明產品能夠像普通照明燈具一樣為大眾所接受和信賴，UL已開始著手編制LED的安全性評定標準。當開發(fā)設計一款新產品的時候，生產商應該考慮防止產生觸電、火災、生理危害等影響安全的因素。

二、國內標準制定進展

國家科技部辦公廳副秘書長鄭國安曾指出，我國擁有巨大的照明市場和雄厚的照明工業(yè)基礎，是世界上電光源和照明電器生產大國和出口大國之一。LED光源在道路照明中的應用已成為近年來半導體照明行業(yè)的熱點，目前國內外已有超過百家企業(yè)投入到半導體路燈的開發(fā)中，但都還沒有投入大批量生產，原因除了技術有待突破外，產品標準的缺位是制約LED路燈大規(guī)模應用的主要因素之一。他希望通過政府和產業(yè)界的努力，推動LED公共照明標準的研究與應用。

前不久，在北京舉行的“2008年LED戶外公共照明技術標準研討會”上，中國國家標準化管理委員會的代表透露，目前該委員會已立項開展11項LED照明國家標準的制定工作，年內就要上報標準委。

近日，福建省提出中國大陸首個LED燈具地方標準，在這個由福建省質監(jiān)局、福州大學等單位和LED燈具企業(yè)的專家共同審訂的LED燈具地方標準中規(guī)定，LED燈具的使用壽命不應低于1萬小時。

目前，國際照明委員會(CIE)和國際電工委員會(IEC)都還沒有關于LED照明的標準，只有有關普通LED的測試標準和與普通光源有關的照明方面的標準。普通LED的測試標準有：

1、IEC60747-5半導體分立器件及集成電路(1992)；

2、IEC60747-5-2半導體分立器件及集成電路零部件，5-2：光電子器件——分類特征及要素(1997-09)；

3、IEC60747-5-3半導體分立器件及集成電路，5-3：光電子器件——測試方法(1997-08)；

4、IEC60747-12-3半導體分立器件，12-3：光電子器件——顯示用發(fā)光二極管空白詳細標準(1998-02)；

5、CIE127-1997LED測試方法(1997)；

6、CIE/ISOLED強度測試標準。