如今，液晶顯示屏在很多領域得到廣泛應用，為了提高競爭力，必須保證顯示屏的光電技術指標。因此，像素點的電子尋址具有非常重要的作用。這一技術近年來得到了很快的發(fā)展，不幸的是，測量標準跟不上發(fā)展的需求，在特征表示技術上留下了空白。 　　為了向顯示器工業(yè)提供一種可靠的方案，法國ELDIM公司日前推出了第三代時間測量系統(tǒng)Imaging OPTIScope。經過多次測試和試驗之后，Imaging OPTIScope系統(tǒng)可以提供有效的方案，以準確和完整地評價液晶顯示屏的時間依賴性。 　　Imaging OPTIScope系統(tǒng)的設計目的，是為了符合現有的ISO, VESA, EIAJ等等標準，但在設計中也考慮了系統(tǒng)的發(fā)展?jié)摿Γ赃m應用戶最新的嚴格要求。 　　傳感器是一個光倍增管(PMT)，除此之外又增加了一個CMOS傳感器，以向用戶提供時間信號直接顯示的區(qū)域。PMT信號是通過內置采集電路板取樣采集的。還增加了一個閃光過濾器以進行光學測試。電子噪聲得到系統(tǒng)的補償。角形開度按照標準的要求設為+/-2°。 　　電子設備包括一個4Mb的內置存儲器，用16-bits的模數轉換器采樣，由此而獲得的數字信息可以有選擇地再次采樣處理。用于液晶顯示屏的版本最低采樣率定為10ms。還有一個版本的采樣率為1ms，用于一些特殊的應用(比如可以用于OLED應用)。系統(tǒng)的同步信號可以通過內置觸發(fā)器和兩個外置觸發(fā)器來產生。采用USB 2.0接口，可以在采集時間上獲得不小的增益。與現有的方案相比，灰-灰反應時間的測試時間縮短到原來所需時間的五分之一。 　　一段時間以來，制造商使用了一種新的評價時間性能的方法，也就是測試灰-灰反應時間。對于現有的測試設備來說，這在技術上是一個新的挑戰(zhàn)。的確，測定兩個相鄰的灰度水平之間的反應時間，需要傳感器有更好的靈敏度和動態(tài)性能。Imaging OPTIScope系統(tǒng)能夠很容易地滿足這些要求，所以很快便成了市場上唯一一種具有這種靈敏度的設備。經過測試，Imaging OPTIScope系統(tǒng)的信號采集動態(tài)范圍達到了100dB。 　　隨著顯示器新的尋址格式的出現，隨著極強的高頻閃爍(flicker)的出現，標準化的時間反應分析方法成了過時的方法。ELDIM公司與工業(yè)界的生產廠家和標準委員會密切合作，開發(fā)了數種分析方法。第一步是要減少噪聲效應或者閃爍效應，采用低通道濾波器，而低通道濾波器會對原始信號產生干擾。這種干擾可以通過預先的調校來補償，也就是在閃爍頻率上加一個停止帶濾波器(filtre stop band)。然后可以通過常規(guī)的方式提取反應時間；也可以在濾波信號上直接加一個理論的時間依賴值。這樣一來，“過調節(jié)”的顯示屏(overshootés)特性便不僅可以從反應時間上來確定，也可以從“過調節(jié)”的幅度以及時間差上來確定。這種測試方法比現有的方法更加準確，而且可以提供一些補充的信息。 　　ELDIM的測試軟件包括所有以下功能：顯示屏控制，采集參數管理，測試區(qū)域顯示，自動和手動應用自動信號處理代數的選擇，顯示，打印并輸出結果。 　　ELDIM還提供一個控制顯示屏的硬件方案，作為Imaging OPTIScope系統(tǒng)的補充。FPDDrive可以生成與Imaging OPTIScope系統(tǒng)控制軟件兼容的DVI, LVDS 或者 TTL格式的信號。 　　這樣一來，用戶可以直接擁有一個包括傳感器和視標生成器的完整的時間分析方案。從現在開始，生產液晶顯示屏的用戶或者使用液晶顯示屏組裝生產其它產品的用戶，可以使用Imaging OPTIScope系統(tǒng)，以極快的時間調校顯示屏的“過驅動”(Overdrive)，測量灰-灰反應時間及閃爍。為顯示工業(yè)生產驅動器的廠商可以從“過驅動”功能的優(yōu)化中大大節(jié)省生產時間，并從中受益。