科利登系統有限公司 (Credence Systems Corporation) 近日宣布：香港科技園(HKSTP)在其已有的一系列科利登診斷、工程驗證、特征分析及測試儀系統的基礎上，增加了激光調試和先進的發(fā)射顯微鏡，進一步完善其特征分析產品系列。這些新技術可以為香港科技園提供一個完整的失效分析實驗室，從而能較早地在芯片設計過程中捕獲重大的器件缺陷，幫助客戶縮短產品上市時間，降低生產成本。香港科技園負責業(yè)務拓展和技術支持的副總裁張樹榮先生說：“我們繼續(xù)投資購買科利登的產品，一方面是因為其良好的性能，另一方面是因為我們的客戶在量產測試中廣泛使用了科利登的測試系統，所以還想再從測試到生產的過程中保證同樣的高測試性能?？评堑脑\斷和特征分析工具在幫助公司加速設計周期降低成本方面擁有良好的聲譽。做為我們最大的自動測試設備供應商，我們很高興能和科利登建立一個長期的合作關系，不僅是因為其高靈活性的產品系列，還因為他們在本地區(qū)的高質量客戶服務和技術支持。” 香港科技園從科利登購置的完整測試實驗室能為下一代高級消費類、計算機和通信芯片的診斷、工程驗證、特征分析等需求提供一整套的能力和工具。此外，香港科學園還購買了科利登用于測試Soc、混合信號以及無線射頻產品的一整套自動測試設備。 科利登系統有限公司總裁兼首席執(zhí)行官Dave Ranhoff說：“科利登的診斷、特征分析和驗證完整實驗室方案與其革新的ATE（自動測試設備）系統結合在一起，能幫助香港科技園為其客戶提供一套業(yè)界領先、端對端的測試解決方案。依靠這一能力，香港科技園能幫助其客戶加速新產品從工程驗證到量產的轉換，更快更好更低成本地推動新產品上市?！?