高精度三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)研制成功,為微波成像研究提供實(shí)驗(yàn)平臺(tái)
近日,高精度三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)研制成功,并順利通過驗(yàn)收交付使用,目前運(yùn)行狀態(tài)良好。
據(jù)悉,該高精度三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)由中國(guó)航天科工二院203所測(cè)控技術(shù)研究室研制,目前已經(jīng)投入中科院電子所微波成像技術(shù)國(guó)家重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室使用。
該高精度三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)擁有極高的精度、良好的三維定位能力、靈活的控制方式,因此是能夠支持實(shí)驗(yàn)室的新型高性能天線和提升天線測(cè)試能力。該產(chǎn)品達(dá)到了領(lǐng)先水平,在系統(tǒng)性能指標(biāo)、控制自動(dòng)化程度方面都具有優(yōu)勢(shì),為國(guó)內(nèi)實(shí)驗(yàn)室提供了更具性價(jià)比的選擇。
該高精度三維測(cè)試轉(zhuǎn)臺(tái)的研制為微波成像新體制和新方法的研究提供了平臺(tái),是我國(guó)測(cè)試平臺(tái)的一大突破性發(fā)展。





