近日，“同位素地質學專用TOF-SIMS科學儀器” 項目啟動會召開。該項目被列為科技部國家重大科學儀器設備開發(fā)專項，由中國地質科學院地質研究所牽頭，眾多研究機構和單位參與。

該項目研究主要是以飛行時間質譜(TOF)作為質量分析器，在幾十微秒之內完成全質量譜分析，提升離子通過率。預計該TOF同位素測量精度0.5‰，分辨率20000，飛秒激光為電離源，靈敏度高。該項目研發(fā)將大大推動我國地球化學和宇宙化學的發(fā)展，研制的相關儀器將用于月球和隕石樣品的氧同位素和稀土元素分析，以及對一些礦床驚喜分析。

據悉，大連化物所作為第二承擔單位，負責二次離子質譜（SIMS）核心部件TOF質量分析器的研制。該所兩位研究員承擔了“精度及高分辨飛行時間質譜分析器”和 “二次中性粒子后電離技術”兩個子課題。

SIMS可進行微區(qū)成分成像和深度剖面分析，提供眾多微觀結構、組成分析信息，被廣泛應用于解決納米材料、儲氫材料、航天材料、催化材料等研究難題，同時也被應用于地質科學，核技術、材料科學、生命科學、文物考古等領域。