近日，美國國家儀器公司NI就目前最新測試測量技術(shù)和方法，發(fā)布了《2012年自動(dòng)化測試趨勢展望》。該趨勢報(bào)告以數(shù)據(jù)為基礎(chǔ)，對影響當(dāng)前和未來的電子行業(yè)的商業(yè)策略、架構(gòu)等進(jìn)行了探討。對消費(fèi)電子產(chǎn)品、汽車、半導(dǎo)體，航空航天與國防、醫(yī)療設(shè)備以及通訊等行業(yè)影響進(jìn)行了解析。

該趨勢報(bào)告由商業(yè)戰(zhàn)略、架構(gòu)、計(jì)算、軟件和I/O當(dāng)5個(gè)類別以及2012年自動(dòng)化測試主要趨勢等內(nèi)容構(gòu)成。尤其是新興的移動(dòng)設(shè)備改變行業(yè)架構(gòu)等未來發(fā)展趨勢。在該報(bào)告中提出了未來測試組織優(yōu)化趨勢，即各個(gè)組織將測試工程視為戰(zhàn)略資產(chǎn)以獲得優(yōu)勢。同時(shí)未來還將復(fù)雜模型與真實(shí)測量集合，以有力推動(dòng)開發(fā)。PCI Express外部接口則會(huì)以高速、低延遲PC內(nèi)部總線擁有新的系統(tǒng)拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)。報(bào)告中還著重強(qiáng)調(diào)了，現(xiàn)代移動(dòng)設(shè)備的快速普及，如智能手機(jī)和平板電腦的普及等，對測試系統(tǒng)控制和監(jiān)測方式的影響。

該報(bào)告由NI測試行業(yè)領(lǐng)導(dǎo)委員會(huì)編寫，主要促進(jìn)測試行業(yè)交流以及技術(shù)創(chuàng)新，對用戶提供最佳的測量測試方法。