集成電路(Integrated Circuit，通常簡稱IC) ，是指將很多微電子器件集成在芯片上的一種高級微電子器件。通常使用硅為基礎(chǔ)材料，在上面通過擴散或滲透技術(shù)形成N型和P型半導(dǎo)體及P-N結(jié)。實驗室中也有以砷化鎵(GaAs)為基材的芯片，性能遠(yuǎn)超硅芯片，但是不易量產(chǎn)，價格過高。

　　集成電路是半導(dǎo)體集成電路，即以半導(dǎo)體材料為基片，將至少有一個是有源元件的兩個以上元件和部分或者全部互連線路集成在基片之中或者基片之上，以執(zhí)行某種電子功能的中間產(chǎn)品或者最終產(chǎn)品；

　　集成電路的種類一般是以內(nèi)含晶體管等電子組件的數(shù)量來分類。

　　· SSI (小型集成電路)，晶體管數(shù) 10~100

　　· MSI (中型集成電路)，晶體管數(shù) 100~1，000

　　· LSI (大規(guī)模集成電路)，晶體管數(shù) 1，000~10，0000

　　· VLSI (超大規(guī)模集成電路)，晶體管數(shù) 100，000~

　　集成電路布圖設(shè)計是指集成電路中有一個是有源元件的兩個以上和部分或者全部互連線路的三維配置，或者為制造集成電路而準(zhǔn)備的三維配置。

　　集成電路的好壞判別方法。

　　一、不在路檢測

　　這種方法是在ic未焊入電路時進(jìn)行的，一般情況下可用萬用表測量各引腳對應(yīng)于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ic進(jìn)行 較。

　　二、在路檢測

　　這是一種通過萬用表檢測ic各引腳在路(ic在電路中)直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換ic的局限性和拆卸ic的麻煩，是檢測ic最常用和實用的方法。

　　1.直流工作電壓測量

　　這是一種在通電情況下，用萬用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測量；檢測ic各引腳對地直流電壓值，并與正常值相 較，進(jìn)而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測量時要注意以下八 ：

　　(1)萬用表要有足夠大的內(nèi)阻， 少要大于被測電路電阻的10倍以上，以免造成較大的測量誤差。

　　(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，信號源要采用標(biāo)準(zhǔn)彩條信號發(fā)生器。

　　(3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ic。可采取如下方法防止表筆滑動：取一段自行車用氣門芯套在表筆尖上，并長出表筆尖約0.5mm左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點也不會短路。

　　(4)當(dāng)測得某一引腳電壓與正常值不符時，應(yīng)根據(jù)該引腳電壓對ic正常工作有無重要影響以及其他引腳電壓的相應(yīng)變化進(jìn)行分析， 能判斷ic的好壞。

　　(5)ic引腳電壓會受外圍元器件影響。當(dāng)外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開路或變值時，或外圍電路連接的是一個阻值可變的電位器，則電位器滑動臂所處的位置不同，都會使引腳電壓發(fā)生變化。

　　(6)若ic各引腳電壓正常，則一般認(rèn)為ic正常；若ic部分引腳電壓異常，則應(yīng)從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無故障，若無故障，則ic很可能損壞。

　　(7)對于動態(tài)接收裝置，如電視機，在有無信號時，ic各引腳電壓是不同的。如發(fā)現(xiàn)引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調(diào)元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ic損壞。

　　(8)對于多種工作方式的裝置，如錄像機，在不同工作方式下，ic各引腳電壓也是不同的。

　　2.交流工作電壓測量法

　　為了掌握ic交流信號的變化情況，可以用帶有db插孔的萬用表對ic的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時萬用表置于交流電壓擋，正表筆插入db插孔；對于無db插孔的萬用表，需要在正表筆串接一只0.1～0.5μf隔直電容。該法適用于工作頻率 較低的ic，如電視機的視頻放大級、場掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的數(shù)據(jù)是近似值，只能供參考。

　　3.總電流測量法

　　該法是通過檢測ic電源進(jìn)線的總電流，來判 ic好壞的一種方法。由于ic內(nèi)部絕大多數(shù)為直接耦合，ic損壞時(如某一個pn結(jié)擊穿或開路)會引起后級飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過測量總電流的方法可以判 ic的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。