經(jīng)典案例分享：弱信號的測試

　 本次設(shè)計硬件部分主要由信號放大、交直流轉(zhuǎn)換、AD轉(zhuǎn)換、量程轉(zhuǎn)換、用于數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)傳輸?shù)膯纹瑱C、接口芯片、串口以及PC機等部分構(gòu)成。首先，在PC機生成一個用于控制量程轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)顯示的窗口；先

深度了解云計算數(shù)據(jù)中心內(nèi)部架構(gòu)

對于云計算而言，應(yīng)著重從高端服務(wù)器、高密度低成本服務(wù)器、海量存儲設(shè)備和高性能計算設(shè)備等基礎(chǔ)設(shè)施領(lǐng)域提高云計算數(shù)據(jù)中心的數(shù)據(jù)處理能力。云計算要求基礎(chǔ)設(shè)施具有良好的

測試和測量系統(tǒng)選擇須知

　　測試和測量設(shè)備跨越很寬的范圍。對簡單應(yīng)用來說，比較容易選擇合適的結(jié)構(gòu)來滿足需要和預(yù)算。應(yīng)用的復(fù)雜性增加時，結(jié)構(gòu)的選擇以及相關(guān)的費用也變得復(fù)雜了，就會做出錯誤的選擇，會更昂貴，正確的選擇

光功率計自動測試系統(tǒng)設(shè)計

摘 要： 介紹了一套最新研制的光功率計自動測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)充分利用了計算機的現(xiàn)有資源，具有投資省、自動化程度高等特點。對于利用計算機進行數(shù)據(jù)采樣、實時通信、自動控制等應(yīng)用具有一定的參考價值。關(guān)鍵詞： 光開

ADI自動測試設(shè)備解決方案

Analog Devices provides our customers with a complete portfolio of ATE signal Chain solutions to meet todays demanding SOC, DRAM and Flash Memory tester applications while developing the technologies

SOC芯片中整合RF前端有什么好處？能給生產(chǎn)測試帶來什么？

本文的主旨是啟發(fā)讀者去考慮電子芯片集成度提高對終測或生產(chǎn)測試的影響。特別的，射頻(RF)芯片測試方法的主要轉(zhuǎn)移變得越來越可行。一些關(guān)于生產(chǎn)測試的關(guān)鍵項目將在這里進行

基于FPGA系統(tǒng)易測試性的研究

引 言現(xiàn)代科技對系統(tǒng)的可靠性提出了更高的要求，而FPGA技術(shù)在電子系統(tǒng)中應(yīng)用已經(jīng)非常廣泛，因此FPGA易測試性就變得很重要。要獲得的FPGA內(nèi)部信號十分有限、FPGA封裝和印刷電路板(PCB)電氣噪聲，這一切使得設(shè)計調(diào)試和

電磁繼電器參數(shù)的測試

如何簡單的測試開關(guān)電源

在電路設(shè)計當(dāng)中，開關(guān)電源掌控著開關(guān)管的開通和關(guān)斷的時間比率，在電路中發(fā)揮著最基礎(chǔ)但是又不可取代的作用。正因為非常重要，所以開關(guān)電源的測試也變得異常重要。本篇文章

電源噪聲的測試

探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大圖一：示波器DC的量化誤差示波器存在量化誤差，實時示波器的ADC為8位，把模擬信號轉(zhuǎn)化為2的8次方（即256個）量化的級別，當(dāng)顯示的波形只占屏幕很小一部分時，則增大

開關(guān)電源測試規(guī)范詳解

第一部分：電源指標(biāo)的概念、定義 一．描述輸入電壓影響輸出電壓的幾個指標(biāo)形式 1. 絕對穩(wěn)壓系數(shù)： A．絕對穩(wěn)壓系數(shù)：表示負(fù)載不變時，穩(wěn)壓電源輸出直流變化量△U0 與輸入

開關(guān)電源的42項測試：測試說明，測試方法，判定標(biāo)準(zhǔn)！

白盒測試 1 輔助電源測試 測試說明： 電源中輔助電源有重要意義，電源模塊的正常工作靠輔助電源來保障，輔助電源工作要比主電路要求更可靠，因為即使在輸入電壓超限的條

MCS-51單片機中斷測試系統(tǒng)設(shè)計

;========================================================;設(shè)計要求;;1、硬件設(shè)計要求;使用AT89C51單片機，時鐘12MHz，設(shè)計時鐘電路和上電復(fù)位電路，;P0口、P1口、P2口分別驅(qū)動3個LED七段數(shù)碼管顯示

開關(guān)電源測試全面解讀

一、極限測試 1.模塊輸出電流極限測試 模塊輸出電流極限測試是測試模塊在輸出限流點放開（PFC的過流保護也要放開）之后所能輸出的最大電流，測試的目的是為了驗證模塊

巧用Bertscope進行芯片/系統(tǒng)的接收端容限測試和調(diào)試分析

在用戶進行系統(tǒng)或者芯片測試的時候，一般主要驗證幾個方面的性能和可靠性，包括系統(tǒng)發(fā)送端的信號質(zhì)量，鏈路的損耗/串?dāng)_，接收端的容限。如下圖1，一個鏈路系統(tǒng)的基本架構(gòu)。

自動化測試腳本運行控制方法研究

軟件測試作為保證軟件質(zhì)量和可靠性的關(guān)鍵技術(shù)，正日益受到廣泛的重視。而軟件測試自動化，已經(jīng)成為國內(nèi)軟件工程領(lǐng)域受到廣泛關(guān)注的課題。不言而喻，軟件測試從業(yè)者都意識到軟件測試這項工作走向成熟化、標(biāo)準(zhǔn)化的一個

開關(guān)電源32個測試項

摘要 目錄 1、功率因素和效率測試 2、平均效率測試 3、輸入電流測試 4、浪涌電流測試 5、電壓調(diào)整率測試 6、負(fù)載調(diào)整率測試 7、輸入緩慢變動測試 8、紋波及噪聲測

儲能行業(yè)電能質(zhì)量問題的應(yīng)用方案

時下，行業(yè)正在大力發(fā)展，鋰離子電池和鉛蓄電池是該領(lǐng)域應(yīng)用最多的兩種技術(shù)，但除了電池，還有哪些問題需要關(guān)注的呢?發(fā)展規(guī)模是解決可再生能源大規(guī)模接入、提高常規(guī)電力系統(tǒng)

電源作為系統(tǒng)核心，如何保證其可靠性？

1、電壓應(yīng)力電源電壓應(yīng)力是保證電源可靠性的一個重要指標(biāo)。在電源中有許多器件都有規(guī)定最大耐壓值，比如：場效應(yīng)管的Vds和Vgs、二極管的反向耐壓、IC的最大VCC電壓以及輸入

LabVIEW的應(yīng)用于自動化測試和測量平臺

近30年來，NT公司革新了測量領(lǐng)域中工程師要年年進行測試和測量的方式。利用PC和虛擬儀器技術(shù)，通過LabVIEW的集成軟件包和PXI、POI、USB、Ethernet等模塊化測量和控制硬件，可以提高開發(fā)設(shè)計效率并降低自動化測試和測