綜合布線測(cè)試模型對(duì)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用的影響

跨界融合趨勢(shì)下，PXI測(cè)試生態(tài)的模塊化優(yōu)勢(shì)將更為突出

在今年美國(guó)國(guó)家儀器(下文簡(jiǎn)稱NI)舉辦的的PXI TAC活動(dòng)上，跨界融合是一個(gè)被高頻提及的詞匯。不同行業(yè)之間，技術(shù)的相互融合和復(fù)用的現(xiàn)象變得越來(lái)越頻繁，許多即成的經(jīng)驗(yàn)和方法并不需要重復(fù)造輪子，只要拿來(lái)進(jìn)行修飾即

怕PCB設(shè)計(jì)出錯(cuò)？這些要點(diǎn)趕緊記下來(lái)

一、資料輸入階段1.在流程上接收到的資料是否齊全(包括：原理圖、*.brd文件、料單、PCB設(shè)計(jì)說(shuō)明以及PCB設(shè)計(jì)或更改要求、標(biāo)準(zhǔn)化要求說(shuō)明、工藝設(shè)計(jì)說(shuō)明文件)2.確認(rèn)PCB模板是

EMC測(cè)試主要分類

低成本開(kāi)發(fā)板Arduino的三個(gè)強(qiáng)大但是常被忽視的用途

大多數(shù)工程師在工具箱中看到Arduino時(shí)都不會(huì)選擇它，因?yàn)樗雌饋?lái)過(guò)于的簡(jiǎn)單以至于不太好用或者不能勝任某些功能。大多數(shù)情況下他們都是正確的，但是這并不是我們要在這里所

進(jìn)行電路設(shè)計(jì)與測(cè)試的十條建議

二極管的測(cè)試方法

1.檢測(cè)小功率晶體二極管A.判別正、負(fù)電極(a)觀察外殼上的符號(hào)標(biāo)記。通常在二極管的外殼上標(biāo)有二極管的符號(hào)，帶有三角形箭頭的一端為正極，另一端是負(fù)極。(b)觀察外殼上的色點(diǎn)。在點(diǎn)接觸二極管的外殼上，通常標(biāo)有極性

無(wú)線溫濕度測(cè)試系統(tǒng)電路設(shè)計(jì)圖

在當(dāng)今的工農(nóng)業(yè)生產(chǎn)中，需要進(jìn)行溫濕度采集的場(chǎng)合越來(lái)越多，準(zhǔn)確方便地測(cè)量溫度變得至關(guān)重要。傳統(tǒng)的有線測(cè)溫方式存在著布線復(fù)雜，線路容易老化，線路故障難以排查，設(shè)備重新布局要重新布線等問(wèn)題。

飛針測(cè)試技術(shù)概述

我國(guó)的PCB研制工作始于1956年，1963-1978年，逐步擴(kuò)大形成PCB產(chǎn)業(yè)。改革開(kāi)放后20多年，由于引進(jìn)國(guó)外先進(jìn)技術(shù)和設(shè)備，單面板、雙面板和多層板均獲得快速發(fā)展，國(guó)內(nèi)PCB產(chǎn)業(yè)由小到大逐步發(fā)展起來(lái)。中國(guó)由于下游產(chǎn)業(yè)的集

為什么做電路板時(shí)最好選擇測(cè)試？

在電路板行業(yè)的生產(chǎn)制造中有一種工序是自選的(測(cè)試與不測(cè)試)，今天幫廣大需要做PCB電路板的客戶分析一下，是否有必要在生產(chǎn)電路板的時(shí)候選擇測(cè)試與不測(cè)試的問(wèn)題以及選擇什么方式的測(cè)試，電路板生產(chǎn)分為三大種類，今天

c8051f005單片機(jī)PWM測(cè)試程序

c8051f005單片機(jī)PWM測(cè)試程序//PWM輸出腳P0.3//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-------------------------------------------------------

PCB電路板上為什么需要有測(cè)試點(diǎn)？

對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在PCB電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)(test point)是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？ 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性，比如說(shuō)想檢查一顆電

c8051f005鍵盤測(cè)試程序

c8051f005鍵盤測(cè)試程序//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//---------------------------------------------------------------------------

c8051f005_DA測(cè)試程序

//-----------------------------------------------------------------------------//Includes//-----------------------------------------------------------------------------#include//SFRdeclar

計(jì)數(shù)測(cè)試數(shù)碼管顯示程序

計(jì)數(shù)測(cè)試數(shù)碼管顯示程序#include//6.000MHz#defineucharunsignedchar#defineuintunsignedint#defineL0#defineR1ucharSEG7[10]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f};/*0~9的數(shù)碼管段碼

提高嵌入式軟件質(zhì)量

如果測(cè)試無(wú)法證明不存在嚴(yán)重的運(yùn)行錯(cuò)誤，那么嵌入式軟件開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì)如何才能確定其軟件沒(méi)有這些錯(cuò)誤呢？基于數(shù)學(xué)證明的代碼驗(yàn)證是值得一試的解決方案。在軟件驗(yàn)證方面，可擴(kuò)展的高性能數(shù)學(xué)技術(shù)在實(shí)際應(yīng)用方面的最新發(fā)展十分有用，可實(shí)現(xiàn)對(duì)軟件中不存在運(yùn)行時(shí)錯(cuò)誤進(jìn)行證明。

單片機(jī)進(jìn)行脈寬調(diào)制(PWM) 直流電機(jī)調(diào)速測(cè)試程序

單片機(jī)進(jìn)行脈寬調(diào)制(PWM) 直流電機(jī)調(diào)速測(cè)試程序;UNL2003提供電機(jī)驅(qū)動(dòng)電流.(

電路板設(shè)計(jì)為什么要設(shè)置這些測(cè)試點(diǎn)？

對(duì)學(xué)電子的人來(lái)說(shuō)，在電路板上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)（test point）是在自然不過(guò)的事了，可是對(duì)學(xué)機(jī)械的人來(lái)說(shuō)，測(cè)試點(diǎn)是什么？ 基本上設(shè)置測(cè)試點(diǎn)的目的是為了測(cè)試電路板上的零組件有沒(méi)有符合規(guī)格以及焊性，比如說(shuō)想檢查一顆電

PCB可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)要概述

隨著技術(shù)進(jìn)入超大規(guī)模集成（VLSI）時(shí)代，VLSI電路的高度復(fù)雜性及多層印制板、表面封裝（SMT）、圓片規(guī)模集成（WSI）和多模塊（MCM）技術(shù)在電路系統(tǒng)中的運(yùn)用，都使得電路節(jié)點(diǎn)的物理可訪問(wèn)性正逐步削弱以至于消失，電路

FPGA和ASIC之間界限正在模糊，F(xiàn)PGA為未來(lái)的ASIC提供設(shè)計(jì)架構(gòu)

與以前的自我相比，現(xiàn)在的FPGA不再僅僅是查找表(LUT)和寄存器的集合，而是已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了現(xiàn)在的體系結(jié)構(gòu)的探索，為未來(lái)的ASIC提供設(shè)計(jì)架構(gòu)。該系列器件現(xiàn)在包括從基本的可編