有潛在問題的芯片在正常的條件下缺陷不會(huì)顯現(xiàn)出來,但是在一定的條件下會(huì)產(chǎn)生失效或者間歇性失效,從而造成芯片早期失效的質(zhì)量問題。最小電壓是芯片正常運(yùn)行所需要的最小電壓值,合格芯片與不合格芯片的最小電壓值是不一樣的,因此利用最小電壓檢測(cè)原理可以檢測(cè)出有潛在缺陷的芯片。
如圖所示為由高效、低功耗升壓直流變換器MAX761和幾只外圍元件構(gòu)成的+5V→+12V升壓電源。其特點(diǎn)是:變換效率為86%;靜態(tài)電流為110μA;具有低電池電壓檢測(cè)功能,圖中R3、R4是電池電壓檢測(cè)分壓電阻,一般可按經(jīng)驗(yàn)
如圖所示為由高效、低功耗升壓直流變換器MAX761和幾只外圍元件構(gòu)成的+5V→+12V升壓電源。其特點(diǎn)是:變換效率為86%;靜態(tài)電流為110μA;具有低電池電壓檢測(cè)功能,圖中R3、R4是電池電壓檢測(cè)分壓電阻,一般可按經(jīng)驗(yàn)