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自動(dòng)化測(cè)試優(yōu)先級(jí)：基于風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估的用例排序策略
在持續(xù)集成/持續(xù)交付（CI/CD）流程中，自動(dòng)化測(cè)試用例的優(yōu)先級(jí)排序直接影響軟件交付效率與質(zhì)量。傳統(tǒng)按功能模塊或開(kāi)發(fā)順序執(zhí)行測(cè)試的方式，易導(dǎo)致高風(fēng)險(xiǎn)缺陷漏檢、資源浪費(fèi)等問(wèn)題。本文提出一種基于風(fēng)險(xiǎn)評(píng)估的測(cè)試用例排序策略，通過(guò)量化風(fēng)險(xiǎn)指標(biāo)與動(dòng)態(tài)權(quán)重分配，實(shí)現(xiàn)測(cè)試資源的高效利用。
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測(cè)試步驟顆粒度控制：從原子操作到場(chǎng)景級(jí)驗(yàn)證的分層實(shí)踐
在自動(dòng)化測(cè)試體系中，測(cè)試步驟的顆粒度設(shè)計(jì)直接影響測(cè)試的穩(wěn)定性、可維護(hù)性和執(zhí)行效率。本文提出一種分層測(cè)試策略，通過(guò)原子操作、組件驗(yàn)證、流程測(cè)試和場(chǎng)景驗(yàn)證的四級(jí)顆粒度控制，實(shí)現(xiàn)測(cè)試覆蓋與執(zhí)行成本的平衡優(yōu)化。
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自動(dòng)化測(cè)試框架中A→B→C→D腳本設(shè)計(jì)與流程測(cè)試用例實(shí)踐
在自動(dòng)化測(cè)試框架中，多步驟業(yè)務(wù)流程的腳本設(shè)計(jì)是驗(yàn)證系統(tǒng)完整性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。本文以A→B→C→D典型業(yè)務(wù)場(chǎng)景為例，從腳本架構(gòu)設(shè)計(jì)、測(cè)試用例覆蓋、異常處理機(jī)制三個(gè)維度，系統(tǒng)闡述流程測(cè)試用例的實(shí)現(xiàn)方法。
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是德科技推出新型高功率系統(tǒng)就緒電源解決方案，應(yīng)對(duì)日益嚴(yán)峻的電源驗(yàn)證挑戰(zhàn)
全新緊湊型回饋式源載系統(tǒng)助力工程師應(yīng)對(duì)現(xiàn)代測(cè)試環(huán)境中的復(fù)雜性、緊湊空間及可持續(xù)性需求
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Tektronix通過(guò)MP5000系列模塊化精密測(cè)試系統(tǒng)重新定義自動(dòng)化測(cè)試
這一開(kāi)創(chuàng)性系統(tǒng)為驗(yàn)證和生產(chǎn)環(huán)境帶來(lái)了前所未有的靈活性、密度與自動(dòng)化能力 俄勒岡州比弗頓2025年9月17日 /美通社/ -- Tektronix今日發(fā)布MP5000系列模塊化精密測(cè)試系統(tǒng)，這一創(chuàng)新解決方案引領(lǐng)了自動(dòng)化測(cè)試的未來(lái)發(fā)展方向。 該系統(tǒng)基于模塊化設(shè)計(jì)理念，工程師可在緊湊...
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不同類(lèi)型的自動(dòng)化測(cè)試介紹
當(dāng)今軟件開(kāi)發(fā)生命周期的一個(gè)重要組成部分是自動(dòng)化測(cè)試。自動(dòng)化重復(fù)測(cè)試用例可以大大縮短開(kāi)發(fā)周期，提高準(zhǔn)確性，并釋放人力資源來(lái)執(zhí)行更困難的測(cè)試任務(wù)。本文有助于探索自動(dòng)化測(cè)試的不同類(lèi)型和戰(zhàn)術(shù)用途。
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優(yōu)化軟件質(zhì)量：?jiǎn)卧獪y(cè)試和自動(dòng)化
單元測(cè)試是防止錯(cuò)誤的第一道防線。這種級(jí)別的保護(hù)至關(guān)重要，因?yàn)樗鼮橐韵聹y(cè)試過(guò)程奠定了基礎(chǔ)：集成測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試以及最后的手動(dòng)測(cè)試，包括探索性測(cè)試。
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完善自動(dòng)化測(cè)試：在現(xiàn)代測(cè)試套件中平衡速度和可靠性
傳統(tǒng)上，自動(dòng)化測(cè)試分為單元測(cè)試、集成測(cè)試和端到端測(cè)試。這種分類(lèi)是基于測(cè)試的范圍，盡管不同類(lèi)型之間的區(qū)別并不總是很清楚。單元測(cè)試的范圍很窄，通常測(cè)試單個(gè)方法或類(lèi)。集成測(cè)試驗(yàn)證不同組件之間的交互。端到端測(cè)試通常在平臺(tái)或 Web 應(yīng)用程序上執(zhí)行完整的用戶流程，涉及多個(gè)不同的系統(tǒng)。
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優(yōu)化自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備的質(zhì)量和復(fù)雜性
人工智能正在改變我們的世界，推動(dòng)前所未有的增長(zhǎng)和創(chuàng)新。這場(chǎng)革命的核心是高性能芯片，其特點(diǎn)是復(fù)雜性、精度要求和先進(jìn)技術(shù)的集成度不斷提高。
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移動(dòng)應(yīng)用測(cè)試自動(dòng)化的最終五步指南
全球移動(dòng)應(yīng)用程序市場(chǎng)以每年11.5%以上的速度增長(zhǎng),目前的市值已超過(guò)1544.6億美元,此前19日轉(zhuǎn)向遠(yuǎn)程工作的趨勢(shì)有所增加,在線時(shí)間也有所增加。全球移動(dòng)連接超過(guò)107.7億個(gè),對(duì)復(fù)雜、高性能B2B和B2B移動(dòng)應(yīng)用的需求正在增加。放棄應(yīng)用程序的主要原因是用戶體驗(yàn)差。這包括一個(gè)令人困惑的用戶界面/用戶界面和過(guò)多的錯(cuò)誤。裝載時(shí)間很慢。
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是德科技和SmartViser聯(lián)合推出符合歐盟能效指標(biāo)(EEI)法規(guī)要求的測(cè)試方案
是德科技(Keysight Technologies, Inc.)宣布和SmartViser合作，為終端設(shè)備制造商提供專(zhuān)門(mén)的測(cè)試解決方案，用于測(cè)試智能手機(jī)和平板電腦的能源效率指數(shù)(EEI)，以滿足歐盟的能源標(biāo)簽法規(guī)要求。該解決方案允許SmartViser的viSer移動(dòng)設(shè)備自動(dòng)化測(cè)試軟件與是德科技任意配置的UXM 5G無(wú)線測(cè)試平臺(tái)聯(lián)合使用。
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慶祝品英Pickering公司與PXI標(biāo)準(zhǔn)共同度過(guò)的25周年，PXI——自動(dòng)化測(cè)試領(lǐng)域的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
作為模塊化信號(hào)開(kāi)關(guān)與傳感器仿真產(chǎn)品專(zhuān)家，Pickering是PXI標(biāo)準(zhǔn)的實(shí)力踐行者
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e絡(luò)盟攜手NI，推出LabVIEW與測(cè)試自動(dòng)化教育課程
新項(xiàng)目為e絡(luò)盟社區(qū)成員敞開(kāi)了自動(dòng)化測(cè)試大門(mén)
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羅德與施瓦茨推出首個(gè)自動(dòng)化解決方案一加速PCIe5.0與6.0線纜和連接器合規(guī)性測(cè)試
羅德與施瓦茨公司(以下簡(jiǎn)稱(chēng)"R&S公司")開(kāi)發(fā)了全新的R&SZNrun自動(dòng)化測(cè)試。對(duì)于完全自動(dòng)化驗(yàn)證PCIex8線纜,軟件可以控制一個(gè)由R&SZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和可擴(kuò)展的R&SOSP開(kāi)關(guān)矩陣組成的測(cè)試配置,創(chuàng)建一個(gè)具有64個(gè)測(cè)試端口的多端口VNA解決方案。該解決方案將PCIex8線纜的測(cè)試時(shí)間縮短到僅幾分鐘,包括所有Thru連接、所有串?dāng)_組合測(cè)試以及相應(yīng)指標(biāo)的計(jì)算,以進(jìn)行通過(guò)/失敗評(píng)估。相比之下,手動(dòng)測(cè)試需要數(shù)小時(shí),并且測(cè)試工程師可能存在連接錯(cuò)誤的重大風(fēng)險(xiǎn)。
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e絡(luò)盟與NI攜手亮相2023慕尼黑上海電子展
中國(guó)上海，2023年7月10日 – 安富利旗下全球電子元器件產(chǎn)品與解決方案分銷(xiāo)商e絡(luò)盟將攜手全球自動(dòng)化測(cè)試和測(cè)量系統(tǒng)領(lǐng)先制造商N(yùn)I亮相2023慕尼黑上海電子展。屆時(shí)，二者將共同展示NI一系列精選測(cè)試與測(cè)量產(chǎn)品，以滿足工程師日益增長(zhǎng)的測(cè)試測(cè)量需求。
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別再只盯著光刻機(jī)了!自動(dòng)化測(cè)試對(duì)于芯片制造同樣重要
行業(yè)調(diào)研數(shù)據(jù)顯示，芯片行業(yè)的產(chǎn)值和營(yíng)收一直在不斷提高，同時(shí)其地位受到大眾的關(guān)注。光刻機(jī)在芯片領(lǐng)域當(dāng)然獨(dú)占鰲頭，但一顆芯片的成功不只取決于光刻部分，測(cè)試對(duì)芯片的質(zhì)量更有不容忽視的意義。
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羅德與施瓦茨聯(lián)合VIAVI支持i14y Lab O-RAN互操作性測(cè)試并驗(yàn)證Analog Devices新O-RU設(shè)計(jì)
在最近舉行的i14y Lab O-RAN服務(wù)和平臺(tái)互操作性測(cè)試會(huì)議(這是O-RAN 聯(lián)盟2022年秋季全球互操作性測(cè)試會(huì)議的一部分)上，羅德與施瓦茨(以下簡(jiǎn)稱(chēng)"R&S"公司)和VIAVI Solutions公司結(jié)合各自行業(yè)先進(jìn)實(shí)力，為ORAN射頻單元(O-RUs)的一致性測(cè)試提供綜合解決方案。通過(guò)自動(dòng)化測(cè)試此解決方案，他們能夠同時(shí)滿足ORAN和3GPP一致性預(yù)測(cè)試要求并對(duì)Analog Devices公司創(chuàng)新的8T8R O-RU參考設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)套件進(jìn)行驗(yàn)證。
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是德科技委外研究表明，自動(dòng)化測(cè)試仍然是當(dāng)今組織面臨的重大挑戰(zhàn)
84% 的受訪者表示大多數(shù)測(cè)試涉及復(fù)雜的系統(tǒng)，但鮮有受訪者采用自動(dòng)化測(cè)試或人工智能
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e絡(luò)盟推出基于NI和Omega產(chǎn)品技術(shù)的新型傳感器到軟件解決方案
全新解決方案旨在加快溫度監(jiān)控、可靠性測(cè)試和產(chǎn)品生命周期評(píng)估流程，以幫助客戶節(jié)省時(shí)間和成本
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給老徐的書(shū)《軟件自動(dòng)化測(cè)試實(shí)戰(zhàn)解析-基于Python3》寫(xiě)的序
明代學(xué)者林希元有云："自古圣賢之言學(xué)也，咸以躬行實(shí)踐為先，識(shí)見(jiàn)言論次之"，強(qiáng)調(diào)了實(shí)踐是第一位的，而著書(shū)立說(shuō)次之。唯有經(jīng)過(guò)實(shí)踐總結(jié)而成的書(shū)，方能對(duì)讀者形成更強(qiáng)的指導(dǎo)意義。本書(shū)的作者，是一位長(zhǎng)期奮戰(zhàn)在編碼一線的"老碼農(nóng)"，他把他的多年實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，轉(zhuǎn)化為了這樣一本書(shū)，這不是一本空洞無(wú)物的...
- 是德科技創(chuàng)新技術(shù)峰會(huì)來(lái)襲，報(bào)名領(lǐng)好禮
- 安富利3kW模擬電源供應(yīng)器（PSU）解決方案開(kāi)發(fā)板來(lái)襲，申請(qǐng)領(lǐng)好禮
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