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壓敏電阻（MOV）的選型誤區(qū)，通流容量、殘壓與老化特性的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法

在電子設(shè)備的過(guò)壓保護(hù)體系中，壓敏電阻(Metal Oxide Varistor, MOV)如同電路的“安全氣囊”，其性能直接決定設(shè)備在雷擊、靜電、開(kāi)關(guān)浪涌等瞬態(tài)高壓下的生存能力。然而，實(shí)際應(yīng)用中，工程師常因?qū)诵膮?shù)理解偏差、測(cè)試方法不嚴(yán)謹(jǐn)，導(dǎo)致選型失誤或性能誤判。本文將深度解析壓敏電阻選型中的三大誤區(qū)，并揭示通流容量、殘壓與老化特性的動(dòng)態(tài)測(cè)試方法。

電源
2025-09-23

壓敏電阻流容量殘壓
物理基礎(chǔ)：非易失性存儲(chǔ)器(NVM)芯片燒錄

芯片燒錄(也稱為編程或燒寫(xiě))的本質(zhì)是將編譯后的機(jī)器碼程序和配置信息通過(guò)特定協(xié)議寫(xiě)入芯片內(nèi)部的非易失性存儲(chǔ)器(通常是Flash或OTP存儲(chǔ)器)的過(guò)程。

電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化
2025-09-23

芯片燒錄
?提高容量與功率密度?后，鋰離子電池的未來(lái)發(fā)展方向在哪里？

?鋰離子電池的未來(lái)發(fā)展方向主要包括提高容量與功率密度、降低成本、保持并提高安全性，以及技術(shù)創(chuàng)新和市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)格局的變化。?

測(cè)試測(cè)量
2025-09-23

功率密度
車載主機(jī)的高頻調(diào)諧器最基本的功能

調(diào)諧器是某些車載主機(jī)所具有的FM/AM調(diào)諧器或TV調(diào)諧器，具有這些調(diào)諧器的車載主機(jī)也就具有了FM/AM收音或電視接收功能。

模擬技術(shù)
2025-09-23

調(diào)諧器
光電耦合器布線工藝優(yōu)化：提升信號(hào)完整性的實(shí)操指南

在高速數(shù)字電路與精密模擬系統(tǒng)中，光電耦合器作為電氣隔離的核心元件，其布線質(zhì)量直接影響信號(hào)完整性。本文結(jié)合工程實(shí)踐與前沿技術(shù)，從布局規(guī)劃、阻抗控制、干擾抑制三個(gè)維度，系統(tǒng)闡述光電耦合器布線工藝的優(yōu)化策略。

顯示光電
2025-09-23

光電耦合器布線工藝
光電傳感器動(dòng)態(tài)范圍擴(kuò)展：雙采樣技術(shù)與數(shù)字信號(hào)處理方案

在自動(dòng)駕駛激光雷達(dá)、工業(yè)機(jī)器視覺(jué)及生物醫(yī)學(xué)成像等高端應(yīng)用中，光電傳感器需同時(shí)捕捉強(qiáng)光（如陽(yáng)光直射）與微弱信號(hào)（如遠(yuǎn)距離反射光），這對(duì)動(dòng)態(tài)范圍提出嚴(yán)苛要求。傳統(tǒng)單采樣方案動(dòng)態(tài)范圍通常不超過(guò)60dB，而雙采樣技術(shù)結(jié)合數(shù)字信號(hào)處理（DSP）可將該指標(biāo)提升至120dB以上。本文系統(tǒng)闡述雙采樣技術(shù)原理及配套DSP算法，為高動(dòng)態(tài)場(chǎng)景設(shè)計(jì)提供工程參考。

顯示光電
2025-09-23

光電傳感器數(shù)字信號(hào)
光電探測(cè)器陣列的像素級(jí)信號(hào)處理：硬件加速與算法優(yōu)化

在現(xiàn)代光電探測(cè)系統(tǒng)中，像素級(jí)信號(hào)處理是提升成像質(zhì)量、降低噪聲、增強(qiáng)動(dòng)態(tài)范圍的核心環(huán)節(jié)。隨著多光譜成像、超分辨率重建等技術(shù)的普及，傳統(tǒng)基于CPU的串行處理模式已難以滿足實(shí)時(shí)性需求。本文從硬件加速架構(gòu)與算法優(yōu)化策略兩個(gè)維度，探討光電探測(cè)器陣列像素級(jí)信號(hào)處理的技術(shù)突破路徑。

顯示光電
2025-09-23

陣列光電探測(cè)器硬件加速
Micro LED顯示芯片的巨量轉(zhuǎn)移工藝：精度控制與缺陷檢測(cè)方法

Micro LED作為下一代顯示技術(shù)的核心方向，憑借高亮度、高對(duì)比度、低功耗等優(yōu)勢(shì)，成為AR/VR、柔性穿戴等高端場(chǎng)景的理想選擇。然而，其產(chǎn)業(yè)化進(jìn)程面臨兩大核心挑戰(zhàn)：巨量轉(zhuǎn)移的精度控制與缺陷檢測(cè)的可靠性。本文從技術(shù)原理、工藝創(chuàng)新及檢測(cè)方案三個(gè)維度，解析Micro LED制造中的關(guān)鍵突破。

顯示光電
2025-09-23

顯示芯片 Micro LED 巨量轉(zhuǎn)移工藝
顯示設(shè)備EMI抑制的PCB布線規(guī)則：差分對(duì)走線與屏蔽層設(shè)計(jì)

在顯示設(shè)備的高速信號(hào)傳輸中，電磁干擾（EMI）已成為制約系統(tǒng)性能的核心瓶頸。通過(guò)優(yōu)化PCB布線規(guī)則，特別是差分對(duì)走線與屏蔽層設(shè)計(jì)，可有效降低輻射發(fā)射強(qiáng)度并提升信號(hào)完整性。本文結(jié)合工程實(shí)踐，解析這兩項(xiàng)關(guān)鍵技術(shù)的實(shí)現(xiàn)路徑。

顯示光電
2025-09-23

顯示設(shè)備 PCB布線 EMI抑制
顯示設(shè)備伽馬校正的硬件實(shí)現(xiàn)：LUT表生成與實(shí)時(shí)更新機(jī)制

在顯示技術(shù)領(lǐng)域，伽馬校正作為調(diào)節(jié)亮度非線性失真的核心技術(shù)，直接影響著圖像的視覺(jué)效果與色彩準(zhǔn)確性。其硬件實(shí)現(xiàn)以查找表（LUT）為核心，通過(guò)預(yù)計(jì)算與實(shí)時(shí)更新機(jī)制，在顯示驅(qū)動(dòng)IC（DDIC）中實(shí)現(xiàn)高效的亮度補(bǔ)償。本文將從LUT表生成原理、硬件架構(gòu)設(shè)計(jì)及動(dòng)態(tài)更新策略三方面，解析伽馬校正的硬件實(shí)現(xiàn)路徑。

顯示光電
2025-09-23

顯示設(shè)備伽馬校正

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