其中Lg、Ls為片上平面螺旋電感,M1是共源放大管,共柵管M2起隔離作用,減少M(fèi)1柵漏電容的密勒效應(yīng)。式(1)表明,當(dāng):
時(shí),輸入匹配網(wǎng)絡(luò)諧振使輸入阻抗為純電阻,這時(shí)只要保證:
即可在頻率?棕0時(shí)實(shí)現(xiàn)輸入阻抗匹配。
由二端口噪聲理論知[2],二端口網(wǎng)絡(luò)在噪聲匹配時(shí),可以實(shí)現(xiàn)最小噪聲系數(shù)Fmin如下:
其中γ、δ、c在長溝器件中分別為2/3、4/3、0.395j,是與工藝相關(guān)的常數(shù)。噪聲匹配要求源阻抗ZS等于最佳噪聲阻抗Zopt。當(dāng)兩者不相等時(shí),實(shí)際噪聲系數(shù)為:
其中。從等效噪聲電阻Rn的表達(dá)式來看,它不受增加的電容和電感的影響,僅僅取決于gm的值,因此大的晶體管尺寸和高功耗導(dǎo)致較小的Rn。
參考文獻(xiàn)[1]、[3]對(duì)Zopt優(yōu)化有詳細(xì)的推導(dǎo)過程,所得結(jié)果如下:
沒有優(yōu)化的SNIM電路中最佳噪聲阻抗都遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于源阻抗,所以可以利用式(6)、式(7)中Zopt與Cgs成反比的特點(diǎn),增加M1管的尺寸以增大Cgs、減小Zopt,最終實(shí)現(xiàn)電路的噪聲匹配。而增大M1的尺寸意味著要增加功耗(為了保證M1、M2都工作在飽和區(qū)且有一定的電壓裕度,M1管的柵源電壓可以變化的范圍很?。K岳肧NIM技術(shù)設(shè)計(jì)的LNA都有相當(dāng)大的功耗,這不能滿足對(duì)低功耗電路的要求。
1.2 PCSNIM 結(jié)構(gòu)LNA分析
根據(jù)上面推導(dǎo)分析,可以在不改變M1管尺寸的條件下,在M1管柵源上并聯(lián)電容C1以間接增大柵源電容(如圖2),實(shí)現(xiàn)功率約束下的噪聲和輸入匹配[3]。
從信號(hào)源看到的網(wǎng)絡(luò)輸入阻抗為:
輸入匹配網(wǎng)絡(luò)(品質(zhì)因子為Qin)在諧振時(shí),柵源電壓是輸入電壓的Qin倍。系統(tǒng)的等效跨導(dǎo)為Gm[1][4],可見并聯(lián)電容Cgs使系統(tǒng)等效跨導(dǎo)減小。
由上述推導(dǎo)知:電容反饋的引入會(huì)使源極負(fù)反饋電感Ls增大,電感Ls增大導(dǎo)致系統(tǒng)增益下降及噪聲性能在一定程度上的惡化;電容反饋的引入還會(huì)使系統(tǒng)的等效跨導(dǎo)減小,導(dǎo)致系統(tǒng)增益減小20logk;使系統(tǒng)的截止頻率減小為原來的1/k,一定程度上惡化了系統(tǒng)的噪聲性能。
綜上所述,雖然利用PCSNIM技術(shù)實(shí)現(xiàn)了功耗約束下的輸入匹配和噪聲優(yōu)化,但付出的代價(jià)也很大,特別是在低功耗要求下系統(tǒng)增益減小和系統(tǒng)高頻特性的惡化[1]。
2 IPCSNIM 結(jié)構(gòu)LNA分析
由上面的分析可以看出:矛盾的關(guān)鍵在于,并聯(lián)電容C1的引入雖然實(shí)現(xiàn)了功耗約束下的輸入匹配和噪聲優(yōu)化,但也導(dǎo)致系統(tǒng)增益下降和高頻特性惡化。而Ls主要起輸入阻抗匹配作用,對(duì)系統(tǒng)的噪聲特性影響很小。所以可以改變并聯(lián)電容C1的位置以有效解決這個(gè)矛盾。
改進(jìn)方案如圖3所示。其中R1、M3為M1提供直流工作點(diǎn),R2隔離R1和M3的噪聲對(duì)M1的影響,R2越大越好,一般為兆歐量級(jí);電容C2作用與C1類似,起到降低最佳噪聲阻抗的作用如式(9)、式(10)。
從信號(hào)源看到的網(wǎng)絡(luò)輸入阻抗為:
其中C2(約100fF)與PCSNIM中的C1相等。
源電感LS的主要作用是使輸入阻抗產(chǎn)生50?贅的實(shí)部,實(shí)現(xiàn)輸入阻抗匹配。理想電感理論上不影響系統(tǒng)的Re[Zopt],如式(6)、式(9);LS很小(0.7nH),對(duì)Im[Zopt]的影響可以忽略不計(jì),如式(7)、式(10)。因此改進(jìn)電路的最佳噪聲阻抗可以利用式(9)、式(10)計(jì)算。
3 設(shè)計(jì)事例和模擬結(jié)果
在實(shí)際芯片制造中,一般片上電阻的誤差很大,約20%,R1的波動(dòng)直接影響系統(tǒng)的直流工作點(diǎn),對(duì)系統(tǒng)的整體性能有很大影響;且R1約為1.5kΩ,使用片上電阻會(huì)占用較大的芯片面積。為了避免上述問題,可以用MOS電阻M4取代R1。這樣不僅節(jié)省了芯片面積,而且可以使電阻R1的精確度大大提高。
圖2中的C2很小(只有100fF左右),實(shí)際片上電容越小,誤差越大,但是C2的波動(dòng)對(duì)噪聲性能影響很大。為了避免C2波動(dòng)對(duì)系統(tǒng)性能的影響,用M5 MOS電阻替代R2,利用M5源端到柵和襯底的寄生電容取代C2。這樣M5不僅可以像R2那樣起到噪聲隔離的目的,而且可以完全取代C2。這樣大大節(jié)省了芯片面積,簡化了系統(tǒng)的復(fù)雜性。綜合上述分析,圖4 給出了完整的低功耗LNA設(shè)計(jì)方案。
以下仿真結(jié)果是在SMIC RF 0.13μm工藝、單片集成架構(gòu)、5.5GHz工作頻率、1V工作電壓下完成的。模擬結(jié)果對(duì)比如圖5、圖6、圖7所示。
本文在對(duì)傳統(tǒng)SNIM和PCSNIM結(jié)構(gòu)分析的基礎(chǔ)上,針對(duì)SNIM功耗過大和PCSNIM增益較小的缺點(diǎn),提出了一種新的低功耗LNA設(shè)計(jì)架構(gòu)。該方案在功耗、噪聲和PCSNIM相當(dāng)?shù)臈l件下,充分彌補(bǔ)了PCSNIM增益過小的缺點(diǎn),實(shí)現(xiàn)了與高功耗SNIM相當(dāng)?shù)脑鲆?。同時(shí)還實(shí)現(xiàn)了最優(yōu)的輸入阻抗匹配特性和高頻特性。理論分析和ADS 仿真結(jié)果十分吻合,達(dá)到了預(yù)期設(shè)計(jì)目標(biāo)。
以前在工作中,同事遇到一個(gè)問題,LDO輸出接了一個(gè)負(fù)載,負(fù)載有低功耗和普通模式兩種工作模式,低功耗模式時(shí)正常,普通模式時(shí)工作也正常,但是從低功耗切換到普通模式時(shí),卻發(fā)生了異常,測(cè)量得到LDO的輸出電壓波形大約如下,綠色是...
關(guān)鍵字: LDO 低功耗 負(fù)載調(diào)整率獲得ADC的最佳SNR性能并不僅僅是給ADC輸入提供低噪聲信號(hào)的問題,提供一個(gè)低噪聲基準(zhǔn)電壓是同等重要。雖然基準(zhǔn)噪聲在零標(biāo)度沒有影響,但是在全標(biāo)度,基準(zhǔn)上的任何噪聲在輸出代碼中都將是可見的。
關(guān)鍵字: 電壓基準(zhǔn) 低噪聲在當(dāng)今時(shí)代,低功耗是每個(gè)系統(tǒng)都在朝著的方向發(fā)展,這使得工程師將其應(yīng)用的功耗降至最低是一項(xiàng)關(guān)鍵挑戰(zhàn)。低功耗是我們都可以同意的,特別是當(dāng)它導(dǎo)致更低的電費(fèi)和更長的手機(jī)電池時(shí)。
關(guān)鍵字: 低功耗 低壓監(jiān)控在下述的內(nèi)容中,小編將會(huì)對(duì)可穿戴設(shè)備的相關(guān)消息予以報(bào)道,如果可穿戴設(shè)備是您想要了解的焦點(diǎn)之一,不妨和小編共同閱讀這篇文章哦。
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