隨著高速數字系統(tǒng)的發(fā)展，高速串行數據被廣泛使用，內嵌高速串行接口的FPGA也得到大量應用，相應的高速串行信號質量的測試也越來越頻繁和重要。通常用示波器觀察信號波形、眼圖、抖動來衡量信號的質量，Xilinx提供的IBERT（Integrated Bit Error Ratio Tester）作為一種高速串行信號測試的輔助工具，使得測試更便捷，其具有不占用額外的I／O管腳和PCB空間、不破環(huán)接口信號的完整性、無干擾、使用簡單和價格低廉等特點。

　　1 IBERT簡介

　　IBERT是Xilinx提供用于調試FPGA芯片內高速串行接口比特誤碼率性能的工具，具備實時調整高速串行接口的多種參數、與系統(tǒng)其他模塊通信及測量多通道誤比特率等功能，支持所有的高速串行標準，包括：PCI Express、RapidIO、千兆以太網、XAUI等。使用IBERT核測試，只需通過JTAG接口下載設計并測試硬件，無需額外的管教和接口；大幅縮減了高速串行接口測試場景的建立和調試時間，是高速串行接口開發(fā)中理想的調試工具。

　　文中所述使用方法基于Xilinx的工具CoreGenerator12．4和ChipScope Pro Analyzer12．4進行描述，下面介紹使用IBERT的步驟，IBERT的操作分為兩個階段。

　　1．1 配置IBERT核，生成配置文件

　?。?）打開Core Generator12．4工具，新建設計工程，指定待測器件類型、封裝、速度等級，生成工程文件。在IP Catalog窗口＼View by Function＼Debug&Verification＼Chipscope Pro＼下，雙擊IBERT，配置線速率、GTP位置和參考時鐘、系統(tǒng)時鐘等IBERT核參數，生成可JTAG加載的bit配置文件。與生成其他核不同，IBERT核不是插入到用戶的設計中去的ngc或edn文件，而是生成自身的bit配置文件。

　　（2）IBERT核和ILA核（Integrated Logic Analyzercore），也需要連接到ICON核（Integrated Controllercore）上，但其自身具備控制、監(jiān)控以及改變高速串行接口參數的邏輯，并能完成誤比特性能測試。需注意的是，IBERT核只能作為一個獨立的設計，不可在用戶設計中例化。不同系列芯片的IBERT核在Core Generator中的配置不同。

　　1．2 IBERT核的主要組件

　?。?）BERT（比特誤碼率測試）邏輯：BERT邏輯中例化了高速串行接口組件，并包括了測試模式發(fā)生器和檢查器。利用Comma和Comma檢測器，可提供從簡單的時鐘信號到完全的PRBS模式以及成幀計數模式。可產生各種PRBS數據作為高速串行發(fā)送器的數據源，可設置多種環(huán)回，由接收通道接收，對高速串行接收器的接收數據進行相同編碼的檢測，計算比特誤碼率。

　?。?）DRP（動態(tài)重配置端口）邏輯：每個高速串行接口均有一個動態(tài)重配置端口，因此每個收發(fā)器屬性都可在系統(tǒng)中改變。所有的屬性和DRP地址在IBERT核中均可讀可寫，且可獨立訪問。

　?。?）控制盒狀態(tài)邏輯：管理IBERT核的操作。

　　1．3 配置到FPGA中完成測試

　　測試時，建立JTAC連接，使用ChipScope Pro Analyze12．4下載bit配置文件。下載成功后，在New Project窗口會出現IBERT Console點擊即進入Console Window，該窗口可以設置高速串行接口的參數，進行開環(huán)或閉環(huán)的誤碼測試，同時提供高速串行接口參數的控制和監(jiān)視接口。Console Window有4個界面：MGT／BERT Settings、DRP Settings、Port Settings和Sweep Test Setting。下面分別介紹每個界面的功能。

　　（1）MGT／BERT Settings：MGT Settings部分可以設置擺幅、預加重、均衡以及接收采樣點的位置等參數，同時可設置開環(huán)或閉環(huán)的測試方式，測試進行中可以顯示線速率和所測試的高速串行接口的鎖相環(huán)狀態(tài)。BERT Settings部分可以設置測試發(fā)送和接收數據的編碼方式，并顯示測試的誤碼率結果。Clock Setting部分顯示收發(fā)線路的時鐘信息。

　?。?）DRP Settrags：可查看并設置高速串行接口的屬性。

　　（3）Port Settings：可查看并設置高速串行接口的接口狀態(tài)。

　　（4）Sweep Test Setting：本界面用于自動掃描測試，是IBERT提供的一項便利高效的測試方式，可設定發(fā)送和接收的可控制參數范圍，自動逐個地進行遍歷性的誤碼測試，參數包括發(fā)送擺幅、預加重、接收均衡器、CDR采樣數據的位置等。用戶可設定每組參數重復測試次數以及測試時間，最后點擊Start即可進行掃描測試。測試數據保存在．csv文件中。只能在近端環(huán)回和遠端環(huán)回測試模式中使用。

　　2 實例說明

　　設計實例使用Xilinx公司Spatan6系列的xc6slx150t-3fgg676芯片，根據上述使用說明，下面具體說明使用IBERT進行測試的過程。

　?。?）打開Xilinx ISE DesignSuite12．4／ISEDesignTools／Tools／Core Generator，新建工程，設置芯片信息如圖1所示，點擊確認，生成核的工程文件。

在IP Catalog窗口＼View by Function＼Debug&Verification＼Chipscope Pro＼下雙擊Ibert，如圖2所示。按順序設置Ibert核線速率2．457 6 Gbit·s-1，數據寬度20 bit，參考時鐘頻率122．88 MHz，選擇被測試的GTP DUAL，設置系統(tǒng)時鐘頻率66 m、位置R7等參數，IBE RT Core Summary如圖3所示，點擊generate生成Ibert核的可下載bit配置文件。

　?。?）將生成的bit文件加載到單板上，顯示界面如圖4所示。

　　首先關注PLL Status狀態(tài)和Clocking Setting顯示的收發(fā)時鐘頻率，PLL Status狀態(tài)Locked表明GTP_DUAL的PLL已鎖定GTP的參考時鐘，GTP可正常工作。如狀態(tài)是Unlocked，則要檢測待測GTP的參考時鐘是否正常輸入。

　　測試高速串行信號的信號質量，通常使用足夠帶寬和采樣率的示波器測試信號眼圖來評估，一但測試的眼圖不符合模板要求，需要調整高速串行接口的參數。使用IBERT核可以快速完成參數修改的任務，設置Loopback Mode在開環(huán)的模式下，TX Data Pattern為PRBS7-bit，調整擺幅、預加重參數，觀察示波器上的信號眼圖是否符合模板要求。圖5和圖6分別為調整擺幅預加重參數前后的眼圖，圖5所示眼圖對應預加重0．8 dB、擺幅495 mV，眼圖的眼高太小且圖形碰撞模板，調整為預加重1．7 dB、擺幅1 180 mV，眼圖滿足的要求如圖6所示。

　為確定高速串行接口的參數是否滿足硬件及多種環(huán)境的需求，可通過在對端器件高速串行接口設置遠端環(huán)回，設置待測試芯片的收發(fā)data pattern為統(tǒng)一模式，常溫及高低溫拷機，觀察誤碼率是否滿足要求，誤碼率需滿足E-10。例中與圖6對應的參數值條件下，對端器件高速串行接口設置遠端環(huán)回誤碼率為4．36E-10，滿足誤碼率要求。

　　Sweep Test Setting（掃描測試）其配置頁面如圖7所示，以Rx Sampling Point來進行誤碼率測試定性分析信道質量為例，較為容易理解，當同定在某個采樣點進行誤碼測試時，誤碼率達到E-10時，可判定信道質量良好。在整個UI范圍內進行采樣點的掃描測試時，誤碼率達到E-10的采樣點越多，信號眼圖的眼睛張得越大，距離模板的余量越大，信道質量越好。

　　3 結束語

　　通過以上實例，可見IBERT具有可操作性較強的GUI圖形界面，可操作性強、準確、易用，可方便地設置高速串行收發(fā)通道的各項參數，并提供了多種環(huán)回模式及多種測試激勵源，并可通過自動掃描測試，確定收發(fā)的最佳參數?？梢詽M足硬件測試時對高速串行收發(fā)通道信號測試的大部分需求，在故障定位等場合均可使用。在單板的硬件測試初期，使用IBERT可以輔助硬件測試，例如設置發(fā)送通道的各項參數，協助示波器測量信號質量，而完全不需額外的開發(fā)FPGA邏輯。進行誤碼率測試，作為定量測量眼圖質量、jitter等指標的補充。從示波器看圖確定出的參數并非就是最佳參數。如示波器對于均衡后的信號質量無法測試，而通過IBERT測誤碼率能夠測試到均衡之后的節(jié)點，測試范圍更大。可以預見，集成比特誤碼測試儀IBERT將在FPGA設計中獲得廣泛應用。