SAS規(guī)范定義了不同的測試點，以適應(yīng)不同的測試內(nèi)容的要求。這里面包括可以通過測試夾具測試到的測試點IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR，在芯片內(nèi)部的發(fā)射端在封裝之前的芯片Die上的測試點ET，以及接收端芯片經(jīng)過均衡后的測試點ER。下圖是SAS12G規(guī)范里的測試點定義框圖。

根據(jù)SAS的測試規(guī)范要求，SAS測試包含3大部分內(nèi)容：發(fā)射端信號質(zhì)量測試、接收端抖動容限測試、互連阻抗和回波損耗測試。

發(fā)射端信號質(zhì)量測試，包括PHY，TSG，OOB測試，這部分主要是發(fā)射機的信號完整性方面的內(nèi)容。PHY包括一般特性的信號質(zhì)量，比如鏈路數(shù)據(jù)速率穩(wěn)定度，及SSC（擴頻時鐘）特性；TSG包括發(fā)射機信號質(zhì)量，比如共模參數(shù)，信號幅度、VMA、WDP、邊沿時間和抖動參數(shù)；OOB測試主要是測量進行鏈路初始化時的OOB（out-of-band帶外信令）的幅度/共模等參數(shù)特性，詳細測試項目如下：

·Test 5.3.1: Physical Link Rate Long Term Stability

·Test 5.2.1: SSC Modulation Frequency

·Test 5.2.3: SSC Modulation Deviation and Balance

·Test 5.2.4: SSC DFDT (Informative)

·Test 5.3.2: Common Mode RMS Voltage Limit

·Test 5.3.3: Common Mode Spectrum

·Test 5.3.4: Peak-to-peak Voltage

·Test 5.3.5: VMA and EQ (Informative)

·Test 5.3.6: Rise and Fall Times

·Test 5.3.7: Random Jitter (RJ)

·Test 5.3.8: Total Jitter (TJ)

·Test 5.3.9: Waveform Distortion Penalty (WDP)

·Test 5.1.2: Maximum Noise During OOB Idle

·Test 5.1.3: OOB Burst Amplitude

·Test 5.1.4: OOB Offset Delta

·Test 5.1.5: OOB Common Mode Delta

SAS接收端抖動容忍度測試，主要是測試接收端對于抖動的容忍度。這部分測試項目不多，但確是測試最復(fù)雜，挑戰(zhàn)性最大的。

·Test 1.1 - Stressed Receiver Device Jitter Tolerance Test Procedure for Trained 12 Gbit/s

SAS的互聯(lián)測試，主要針對是阻抗不平衡和回波損耗的測試，反映系統(tǒng)互連和端口匹配等特性，測試內(nèi)容如下：

·TEST 5.4.1 - RX DIFFERENTIAL RETURN LOSS(SDD11)

·TEST 5.4.2 - RX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC11)

·TEST 5.4.3 - RX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD11)

·TEST 5.4.4 - TX DIFFERENTIAL RETURN LOSS (SDD22)

·TEST 5.4.5 - TX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC22)

·TEST 5.4.6 - TX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD22)

對于上述測試內(nèi)容， UNH-IOL提供了詳細的一致性測試文檔，可以參考https://www.iol.unh.edu/testing/storage/sas/test-suites，查閱對應(yīng)的文檔。

同時，SAS規(guī)范里還定義了多種測試碼型，在發(fā)射機測試、互連測試和接收機測試時有明確的測試碼型的要求，要求被測件能夠生成或者通過BIST方式生成，主要的測試碼型包括如下：

·HFTP（High Frequency Test Pattern）高頻測試碼型，1010101010 1010101010b，即重復(fù)的D10.2。

·MFTP（Middle Frequency Test Pattern）中頻測試碼型，1100110011 0011001100b，即重復(fù)的D24.3。

·LFTP（Low Frequency Test Pattern）低頻測試碼型，0111100011 1000011100b，即重復(fù)的D30.3。
上述3個碼型主要用于測試發(fā)射機的性能參數(shù)測試。

·LBP（Lone-Bit Pattern）單獨位碼型，主要用于測試SATA性能。

·CJPAT（Compliant Jitter Tolerance Pattern），一致性抖動容忍度碼型

·SRAMBLE_0 Pattern主要用于測試SAS 1.5, 3 and 6 Gbps WDP性能

·IDLE dwords pattern主要用于SAS 12 Gbps測試，配合 SAS3_EYEOPENING script