問題描述：在LabVIEW中有許多對波形數(shù)據(jù)進(jìn)行處理的函數(shù)，而示波器一般屏幕比較小，不便于觀察，LabVIEW里面的波形圖很靈活，但是需要有強大的外部硬件采集設(shè)備支持才行。NI本身提供許多功能強大的采集卡，但是價格不菲?，F(xiàn)在正好身邊有個泰克TDS2024B示波器，示波器也是數(shù)據(jù)采集的作用，于是將兩者結(jié)合起來發(fā)揮強大的測試測量功效。具體的使用與連接在另一篇中有詳細(xì)介紹了，這里不再贅述。 一點說明：可以在LabVIEW中查看TDS系列示波器控制用的API，大概是在函數(shù)面板的儀器IO->Instruments->Tektronics下面，包括配置、初始化、數(shù)據(jù)、用戶、關(guān)閉等幾個部分，以下是其給出的Tree結(jié)構(gòu)圖：
API說明：接下來對各個VI進(jìn)行簡要的說明，有些不常用的沒有進(jìn)行測試，其余的功能都使用正常，在LabVIEW中能方便的獲取到示波器采集的波形。Initialize Initialize VI:VISA資源初始化，串口初始化等操作Configuration Autosetup VI:自動設(shè)置，配置示波器為所有輸入通道采集，并設(shè)置顯示所有波形的最佳顯示方式 Configure Continuous Acquisition VI:配置儀器為連續(xù)采集模式 Configure Channel VI:設(shè)置通道的基本屬性 Configure Timebase VI:配置示波器的時基和水平特性 Configure Math VI:配置數(shù)學(xué)函數(shù)為加或減或FFT以及FFT的屬性 Configure Acquisition Type VI:配置從示波器獲取的波形數(shù)據(jù)的點數(shù)和類型 Configure Data Logging VI:配置數(shù)據(jù)記錄 Configure Trigger(Edge) VI:配置邊沿觸發(fā)Limit Testing Configure Limit Test Comparison VI:設(shè)置用于限制測試比較 Configure Limit Test State VI:返回限制測試狀態(tài)-開或關(guān) Configure Limit Test Stop After VI:配置限制測試之后 Configure Limit Test Template VI:配置限制測試模板 Create Limit Test Template VI:創(chuàng)建限制測試模板，并將其存儲在參考波形存儲中Action/Status Send Software Trigger VI:為示波器強制一個觸發(fā) Query Limit Test Results VI:查詢限制測試結(jié)果 Invert Channel VI:反轉(zhuǎn)通道的信號 Save Waveform to Reference Channel VI:保存波形至內(nèi)存Data Read (Multiple Waveforms) VI:波形讀取 Read Measurement VI:從選擇的通道波形讀取一個用戶設(shè)置的值 Read Measurement (2 Channels) VI:從2個通道波形讀取一個用戶設(shè)置的值Low Level Initiate VI:初始化一次波形采集，使用后將等待觸發(fā)。該函數(shù)只能與Low Level一級的函數(shù)使用，高級函數(shù)已經(jīng)包含 Abort VI:取消采集，使示波器重回空閑狀態(tài) Fetch Waveform VI:獲取設(shè)定通道的波形 Wait for Trigger VI:單次采集模式下等待觸發(fā)，Timeout控制等待時長，單位是msUtility Reset VI:復(fù)位示波器并發(fā)送默認(rèn)設(shè)置 Self-Test VI:運行儀器自檢程序并返回自檢結(jié)果 Error Query VI:查詢儀器出錯 Revision Query VI:查詢儀器固件代碼版本和驅(qū)動程序版本 Print VI:設(shè)置硬拷貝打印的格式、方向和端口 Save-Recall Setup VI:設(shè)置從內(nèi)存保存和重繪波形 Self-Calibrate VI:標(biāo)定示波器用于測試和測量Close Close VI:終止與儀器的連接，之前查詢錯誤代碼 LabVIEW提供許多儀器的驅(qū)動程序，在測試測量領(lǐng)域結(jié)合實際情況和不同的需要，可以方便的構(gòu)建測試系統(tǒng)，靈活搭建發(fā)揮測試軟硬件的效率。