漏電流測(cè)試
當(dāng)施加一個(gè)低于擊穿電壓的反向電壓時(shí)，對(duì)HBLED兩端的漏電流[1]（IL）的測(cè)量一般使用中等的電壓值。在生產(chǎn)測(cè)試中，常見的做法是僅確保漏電流不不至于超過一個(gè)特定的閾值。

提升HBLED的生產(chǎn)測(cè)試的吞吐率
過去，HBLED的生產(chǎn)測(cè)試的所有環(huán)節(jié)都由單臺(tái)PC來控制。換而言之，在測(cè)試程序的每個(gè)要素中，必須針對(duì)每次測(cè)試配置信號(hào)源和測(cè)量裝置，并在執(zhí)行預(yù)期的行動(dòng)后，將書記返回給PC。控制PC根據(jù)通過/不通過的標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)估，并決定DUT應(yīng)歸入哪一類。PC發(fā)送指令和結(jié)果返回PC的過程將耗費(fèi)大量的時(shí)間。

最新一代的智能儀器，包括吉時(shí)利公司最新的大功率2651A[2]系統(tǒng)信號(hào)源/測(cè)量?jī)x（SourceMeter），由于可以最大限度減少通信的流量，從而可以大幅度提升測(cè)試吞吐率。測(cè)試程序的主體嵌入到儀器中的一個(gè)Test Script處理器[3]（TSP®）中，該處理器是一個(gè)用于控制測(cè)試步驟的測(cè)試程序引擎，內(nèi)置通過/不通過標(biāo)準(zhǔn)、計(jì)算和數(shù)字I/O的控制。一個(gè)TSP可以將用戶定義的測(cè)試程序存放到存儲(chǔ)器中，并根據(jù)用戶需要來執(zhí)行該程序，從而減少了測(cè)試程序中每個(gè)步驟的建立和配置時(shí)間。