code631 ：IC測試有問有答

雖然不是專家，對測試還是有點心得，如果大家有什么問題可以在這里提出，我會盡量解答，也希望各位高手多多賜教啊。

angells ：方便留電話嗎?

天下第一貓：DC參數(shù)

恭喜上任：

    我在測試的時候，有些DC參數(shù)在同樣的條件下幾次測試的結果相差很大。不明白是為什么？

code631 ：

To angells

我目前在英國，電話不太方便，可以MSN聯(lián)系我：toneofengland@hotmail.com

To 天下第一貓

請問你使用的測試機臺是什么型號？測試的產品是屬于哪種？

還有

具體什么參數(shù)，相差多少？
 
 
天下第一貓：我們用的是credence kalos，測試的是memory，在測ICC時，可能從幾百uA--幾十mA，實際值應該在十幾mA。

code631：credence kalos 我沒有用過，不過ICC不穩(wěn)定原因有很多，如果其他同批產品沒有這個問題的話可能是這個IC的問題，可以先做下BENCHTEST，一般初期診斷是更換測試機臺或者用標準器件做比較。個人看法，僅供參考

天下第一貓：benchtest是什么意思？還有就是同一顆IC多次測試他為什么會不穩(wěn)定。

angells：狀態(tài)不穩(wěn)定可能是ICC不穩(wěn)定的原因 如果同一個芯片測試不穩(wěn)定而且誤差比較大，可從以下2方面去看：

1. 在測量時芯片所處的狀態(tài)是否穩(wěn)定。
2. 芯片的Input pin是否有Floating，Output pin是否在不停的翻轉

code631 ：就是自己搭模擬電路測試，用電源，示波器...比較麻煩，而且需要APPLICATION BOARD，不知道你們有沒有。如果是同一顆不穩(wěn)定，一般會交給DA或者FA去分析，CURVE TRACE先吧。

alex_xys ：電源干凈么？ 先看一下電源腳是否干凈。然后換一下電流的range來看一下，最好用樣品校驗一下。

天下第一貓：電源很干凈，range應該也沒有問題，它有10mA左右的電流，用25mA的range。應該沒有問題，只是有時電流會變成100uA左右。樣品在10mA左右很穩(wěn)定。

angells：如果是MEMORY測試,可以對其寫相同的數(shù)據(jù)讓口上不翻轉.然后看看會不會好點.但是據(jù)你所說樣品沒有問題的話,可能這個問題無解.

newer ：多比較

IDD (ICC)一般為一個器件的特征值，分布范圍不會很大，100uA-10mA的變化肯定是異常的。

1) 如果真的是樣品在10mA左右很穩(wěn)定, 那么設備及測試程序沒有問題，產品的問題可能很大，也不需要花費很大腦筋，正如Code631兄說的，交給DA/FA。

2）如果產品沒有問題，則要確認Hardware, Test Program方面的問題
-〉 Hardware重點確認Relay的動作是否穩(wěn)定，可以在程序Meter讀之前設置斷點，然后不停的Strobe Meter，看Meter值是否穩(wěn)定。這是驗證Hardware動作靜止的情況下，電流值是否跳動。
-〉 確認Drive Pattern是否正常，IDD和Pattern有直接的關系，如果Pattern編寫不正常，會造成DUT功耗不穩(wěn)定。

但是，如果標準樣品穩(wěn)定，就不必分析測試系統(tǒng)的問題。

code631 ：我支持你的觀點，這幾天一直在看測試原理，看的郁悶。

其實把DEVICE交給DA的結果無非就是確認電路某個壞點或者觀察一下curve trace的圖形?；跇侵鞯拿枋?，基本上可以確定是這顆產品的問題，driving pattern和i/o的assignment應該不會有錯，否則標準件不會過關。

如果要究其原因，我想大概要聯(lián)系到半導體物理的內容了。電路參數(shù)的fluctuation造成的intermitent failure有可能是alpha粒子的轟擊或者電路內部EMI（電磁輻射，如果片內有感性器件的話）所造成的，我想工程上是不需要涉及到這個LEVEL的。

目前的解決方法就是請DA出一個報告，主要是benchtest和curve trace的報告，觀察在靜態(tài)（無relay動作下）條件下ICC/VCC的曲線特征。做到這一步也就可以了。

-個人意見-

天下第一貓 ：謝謝各位，我可不可以這樣認為。當樣品通過了，沒有問題了。那么test program and test vector的問題基本就可以排除了。我在這個test中沒有用到relay。

code631 ：To 天下第一貓

可以這么認為。RELAY沒有動作是不可能的，你說的沒有動作可能是程序里面的WAIT后面給了足夠的間隔或者處于debug狀態(tài)下的相對靜止狀態(tài)。

newer：

問題需再清楚一些

測試穩(wěn)定性關系到你本身產品的性能、測試方法、還有硬件（設備、Test Board）。
1、測試不穩(wěn)定的參數(shù)是否僅有VOUT一項？（占空比，頻率？VOUT其它電壓條件的如何？）
2、尋找測試結果的分布規(guī)律，是否變動很大？還是總是偏大/偏??？
3、你的參數(shù)測試方法？使用哪些硬件資源，DUT外圍器件如何？

總之，我們可以就具體問題進行討論。

code631 ：

還真沒接觸過POWER電子器件測試，所以，這個問題留給你啦哈哈哈。

newer：

不知道你使用的Test Board電路如何？

因為2576是開關電路，測試電路的EMI（電磁干擾）問題尤為重要。
- 輸入、輸出端的連線要盡量短
- 使用單點接地方式
- 是否使用的是肖特基二極管1N5822（或者快恢復二極管）。這點往往被工程師或略，常用1N4XXX等普通整流/開關管代替，這樣會造成EMI增大，輸出效率降低，是不穩(wěn)定的一個禍因。

以前我處理過LM/MC34063，也是遇到測試穩(wěn)定性差的問題。

alex_xys ：

說的都是經驗，挺好！ 真希望IC測試有一個單獨的版，不過這樣也挺好有這么多大蝦關注這里！

 

code631：這里 可以討論測試的問題啊

sanguo：
看看你的pattern和電源濾波電容有沒有問題

很高興看見這么多高手討論

ICC應該讓chip不停的run，那么你的pattern應該是loop的，如果loop的首尾連接不好就可能出現(xiàn)這樣的問題
另外，測試儀也是個問題，你可以反復測試幾個DUT，看看有什么規(guī)律沒有Pin有沒有I/O類型的，如果有外面結法是否應該檢查一下內部有沒有電容，charge pump一類的功耗元件

如果都不是，就要看看版圖or加工了，是否內部有虛短的東西，這個比較難分析了

至于這個電路我不懂，只是從一般來講

newer ：

也就是TL431吧？3PIN（TO92/8SOP）Voltage Reference，我們生產過。你能肯定是測試還是FAB的問題？30ea是否為真的不良，有沒有驗證過？

 

angells ：

查連線吧

因為在FT時會有Handler的接觸電阻和Handler和Tester通訊的cable的電阻.所以建議用Socket將這些Fail的芯片直接在Tester上測,如果OK就查連線吧.

sanguo ：

同意

干脆直接sorting/wafer分別測電阻吧

 

newer ：SPEC Limit是多少？

 

alex_xys ：

首先，每個管芯（PASS的）測試時，Vout是否十分穩(wěn)定，偏差是否在+-10mv之內，如果是，那么你CP和FT是否同一個測試系統(tǒng)，或者在CP的探針卡上和DUT BOARD 上同時用Socket驗證一個管芯！

 
 
newer ：我的感覺：

好象我們現(xiàn)在都在討論現(xiàn)象，而具體的技術細節(jié)沒有涉及。所以，我覺得提出問題時，最好能有詳細的資料，比如與現(xiàn)象相關的測試程序，測試電路，測試方法說明?，F(xiàn)有的幾個問題，好象都沒有得到有效的探討，總是圍繞某個現(xiàn)象，沒有實質。
大家的感覺如何？

 

angells ：

要測到所有的命令,寄存器和堆棧.那你就要在設計時保證這些是可測的.即可以通過測試模式訪問到這些寄存器和堆棧.因為是高速CPU所以時間不是問題,只是寫Pattern的人比較累.

 

spc888 ：ICC測不穩(wěn)也有可能是測試模塊有自激引起

有的時候樣品能通過，但芯片不通過，這有兩中可能：1、芯片做的有點問題，芯片本身會存在自激；2、測試模塊也可能有輕微自激，可以用示波器在輸出端看一下波形既可，當然輸入端不要接信號

fishwu ：

看看有沒有交流成份存在

雖然萬用表可以只測直流部分，但是在高速測試時
交流或其他波動對測試直流的影響非常大
建議用示波器看看是否存在交流成份
如果有，是難以測準的

 

天下第一貓 ：to fishwu

是否用示波器的交流檔去看有沒有交流電流？做icc測試時速度應該不算很快，peroid = 100ns, delay 100ms后去測，應該可以了吧

kingmax76 發(fā)表于：我也碰到過類似情況

你可以多設幾個采樣點（SAMPLE & AVERAGE），因為你的采樣點要是在翻轉邊沿上則會很大，否則可能很小。

yqy329： 

一點淺見

1、遮光問題。半導體器件受光線影響巨大（封裝后光線影響徹底消失）
2、濕度問題。晶園測試環(huán)境的濕度異常的話，測出來的參數(shù)根本就不能說明問題
3、封裝本身也會使參數(shù)有些漂移（中心值漂移或離散度加大），根本原因還是封裝前后環(huán)境變了。而半導體器件跟測試環(huán)境息息相關。

wanjian846：請問射頻功率放大器在測試時有沒有什么特殊要求

請問射頻功率放大器在測試時有沒有什么特殊要求?例如藥用屏蔽電纜啦或是什么的?以及地線有沒有特殊布置要求?

xujianming ：關心一下測試環(huán)境

 

newer ：

re:雙通道音頻功放在BTL方式下的測試問題

為什么用隔直電容？測試當然沒有電容更好。因為是對芯片功能測試，任何外圍元件都會帶來更多出錯的幾率。
在BTL方式下，要使THD盡可能小，則需要盡可能大的電容容量，帶來的問題是充放電時間變長，每次DUT Contact后需要可靠的Delay Time。

一般使用BTL方式都以正負電源對稱供電，完全不用耦合電容。

ybeckham ：問一下有關音頻運放LM1875的測試問題

想簡單測試批量的LM1875，哪位能提供測試電路，能盡量多測出電參數(shù)
 
 
newer ：

LM1875是音頻功放，測試的參數(shù)和方法也與通用運放不一樣，應該按照一般功率放大器的方法進行。可以根據(jù)DATASHEET確定測試參數(shù)，測試電路也是根據(jù)應用電路和測試方法共同確定。

感覺ybeckham俠是客戶方應用之前的驗證？

ybeckham：

謝 newer! 我是做產品測試的.

vhdlic ：謝謝,讓我又多了一種思路,呵呵,不過實際我們測出來的數(shù)值兩者基本是沒什么區(qū)別的.

 

 

newer ：re: vhdlic

沒有區(qū)別當然最好了。
一般在單電源供電時得使用電容耦合，為了消除1/2VCC DC偏置。但是，應用工程師一般不希望使用這個電容，特別在HiFi情況下，會考慮電容帶來的失真。所以他們不得不使用對稱雙電源。
在測試時，如果使用電容耦合，THD至少不同程度地受電容性能的影響，特別如果電容出問題，測試就會出錯。所以，建議能夠不用電容最好。

 

tjxh318 ：可以幫忙嗎？

請問用TL494控制直流180W有刷電機。電機初始階段為何有噪音，怎樣消除？謝謝。

 

sbassA ：請問哪位高手：300W功率開關電源過EMI應注意哪些地方？
 

icyacht ：CORDIC算法哪類書上有

求助??！十萬火急！哪位大哥知道哪里可以找到CORDIC算法！最好是告訴俺是在哪一
專業(yè)或哪一類書上，我好到圖書館找。多謝！

 

youshiyong ：關于LM1875

現(xiàn)在我在測LM1875發(fā)現(xiàn)其Vos,Ios都特別大，Vos高達到21mV，請問該片子有效嗎？還是有另外問題。

 

newer ：

Vos, Ios參數(shù)的含義？先判斷你的測試系統(tǒng)是否有問題？標準樣品確認Vos，Ios值。如果正常，就按照SPEC Limit決定。最好不要憑感覺判斷，一步一步確認。

- 個人意見

 

天下第一貓 ：有人說：中測比成測的spec要寬松。為什么？

 

iraq：我測試MC34063時遇到過VOTAGE REGULATOR（1.25V） 封裝前后差10-20MV 偏大，最后解訣泐
 
 
code631 ：To 天下第一貓 應該是反過來才對吧

 

天下第一貓 ：to code631:      他告訴我說，電子器件會越測越好，中測卡的太嚴可能使一些好的片子，被廢掉。

 

jerryzuzu ：求IC測試儀器   急急?。?！ 我司是電池制造廠，需求購IC MOSFET測試儀器和相應程序，各位如有較好信息煩請告知為謝！

iraq ：好象有370型號的

newer ：hp370好象是晶體管圖示儀，不知道jerryzuzu尋找的是自動量產測試設備，還是特性分析儀器？

songfei002：請求！

幾為蝦哥能否為小弟推薦你們用的ic測試用的軟件？最好是能下載！謝謝！              

newer ：沒有PC上用的單獨IC測試軟件 IC測試軟件都是同測試系統(tǒng)一同運作的呀？而且多為UNIX的

 

songfei002：十分感謝。也就是說ic測試都是在板測量？為什么windows的不多呢？小弟是學習應用電子的，大二，能否為我指點迷津！我的方向的ic 設計

newer：簡單地說

就象是單片機編程器，如果光有驅動程序，沒有買編程器，什么也做不了。作IC設計可能需要尋找仿真環(huán)境，基于個人PC的不知道有沒有？

 

jerryzuzu ：可否有測試IC的儀器？

我公司是一家專業(yè)生產鋰離子電池廠家，在采購IC時難免會出現(xiàn)良莠不齊的狀況，我司欲對其進行測量，可否提供較好的測量方法和相關儀器。
Tks a lot!!

code631：最近手頭正好在搞一個pc環(huán)境下的memory測試系統(tǒng)，呵呵

newer ：很有趣，你的Project?什么時間給我們介紹介紹你的方案？（另外開個主題）

newer：to：jerryzuzu

IC出廠時都經過了100%測試的，測試通過的芯片參數(shù)都在標準值以內。良莠不齊的情況如果在Datasheet列出的參數(shù)表以外，就是不合格品（正宗廠家出貨不會出現(xiàn)的）?？蛻魧π酒瑴y試投入太大，我的看法是沒有必要。不知道你們用的是什么片子？怎會出現(xiàn)這種情況？

handxone：FE是什么工作？學要什么準備知識？職業(yè)發(fā)展前途如何？ 問題如題目樓主是紐卡時而大學～～^_^方便看英超了。

code631：

FE＝failure analysis, 屬于DA的一種，不合格產品的分析，手段包括物理切開后用電子顯微鏡或光學顯微鏡觀察，還有用BENCHTEST測試電器性能，如VI，IDD，等等。

羽翔：不明？

DFT is including: Scan Chain, Boundary Scan, Logic BIST and Memory BIST.

Test Pattern Generation: Deterministic Pattern, Random Pattern or ATPG.

Test Pattern Compression: Fault Simulation, even with MISR.

In product test, it includes IDDQ and ATE using for chip with test pattern

誰幫我解釋一下上面的測試名詞，以及大概的實現(xiàn)方法？非常想了解，多謝了！

code631：這些名詞本身沒有中文解釋的，我大概說一下吧：
DFT （design for test設計IC時，把IC可測試性考慮進來，以達到將來易測試的目的的一個步驟)is including: Scan Chain(對時序電路的一種測試方法，在電路內部建立一個的測試環(huán)路）, Boundary Scan（同上，測試環(huán)路過程）, Logic BIST （邏輯電路內建測試）and Memory BIST（存儲電路內建測試）.

Test Pattern Generation（測試圖形向量產生）: Deterministic Pattern（定性圖形向量）, Random Pattern or ATPG（自動測試向量產生的隨機圖形向量）

Test Pattern Compression（測試圖形向量壓縮）: Fault Simulation（錯誤模擬）, even with MISR（MISR=multi input Shift Register).

reaking ：先問題問題吧！ Code631老兄，可做過chipset的測試嗎?

code631 ：chipset應該不難吧，純LOGIC的東西。

reaking ：北橋基本上是屬于純邏輯的東西，但是南橋好像并不如此。而且現(xiàn)在速度越來越快，好像問題也就越來越多。能講一下如何深入地了解chipset嗎？

fuqipan1 哪里可以找到測試報告之類的資料！特別是pwm的！謝謝！