1、測試基本原則

　　以標(biāo)準(zhǔn)（IEC標(biāo)準(zhǔn)和其他國際標(biāo)準(zhǔn)、國家標(biāo)準(zhǔn)、部頒標(biāo)準(zhǔn)）、開發(fā)規(guī)格書、企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、測試規(guī)范為依據(jù)，以測試數(shù)據(jù)為準(zhǔn)繩，站在用戶的角度上對(duì)電源系統(tǒng)進(jìn)行評(píng)測，將功能缺陷與故障隱患暴露在測試階段。

　　模塊指標(biāo)盤踞以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)，當(dāng)測試項(xiàng)目在開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)中未明確界定時(shí)，以測試規(guī)范中系統(tǒng)指標(biāo)的默認(rèn)參考指標(biāo)或行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)。

　　測試工作不受項(xiàng)目開發(fā)組態(tài)度與思路及其他干擾測試過程因素的影響，獨(dú)立按照測試流程進(jìn)行。

　　對(duì)于樣機(jī)階段的模塊測試（模塊的優(yōu)化測試?yán)猓?，首先進(jìn)行環(huán)路的測試，環(huán)路測試不合格，測試結(jié)束，模塊退回項(xiàng)目組修改以后，重新提交測試申請(qǐng)，轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。

　　樣機(jī)測試中，如果因測試問題較嚴(yán)重，已影響模塊測試工作的順利進(jìn)行，需停止測試，方允許在受測試系統(tǒng)上進(jìn)行修改，項(xiàng)目開發(fā)組對(duì)問題進(jìn)行修改并完成自測試后，重新提交測試申請(qǐng)，轉(zhuǎn)入下一循環(huán)的測試。其余情況下，測試問題只能在第二套樣機(jī)上進(jìn)行修改及測試，并進(jìn)行記錄。在下一測試階段，對(duì)修改后的測試問題進(jìn)行系統(tǒng)驗(yàn)證并進(jìn)行其他項(xiàng)目測試。

　　中試測試著重設(shè)計(jì)產(chǎn)品的復(fù)制結(jié)果——復(fù)制品性能、指標(biāo)的達(dá)標(biāo)情況。

　　2 技術(shù)指標(biāo)說明

　　開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的指標(biāo)低于業(yè)界相關(guān)的規(guī)定時(shí)，需修改開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，否則依據(jù)業(yè)界標(biāo)準(zhǔn)判定開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)不合格，并提請(qǐng)總體辦重新對(duì)開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行評(píng)審。

　?。?）指標(biāo)界定

　　部標(biāo)為最低標(biāo)準(zhǔn)，當(dāng)開發(fā)規(guī)格書優(yōu)于部標(biāo)、國標(biāo)或國際標(biāo)準(zhǔn)時(shí)，以開發(fā)規(guī)格書和企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)為準(zhǔn)：未作特殊說明的指標(biāo)為開發(fā)規(guī)格書、項(xiàng)目任務(wù)書及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)中界定的指標(biāo)要求，是產(chǎn)品必須具備的基本指標(biāo)。

　?。?）牽引指標(biāo)

　　遵照“以測試技術(shù)牽引開發(fā)技術(shù)”的原則，向國際標(biāo)準(zhǔn)靠攏，用以牽引公司產(chǎn)品技術(shù)的發(fā)展類指標(biāo)。

　　3 不合格測試項(xiàng)目分類原則

　　3.1 A類問題（致命問題）：

　　威脅用戶人身或財(cái)產(chǎn)安全的所以項(xiàng)目；

　　引起產(chǎn)品不能正常工作或性能嚴(yán)重劣化的所以項(xiàng)目。

　　3.2 B類問題（嚴(yán)重問題）：

　　技術(shù)指標(biāo)未能達(dá)到產(chǎn)品開發(fā)規(guī)格書或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的項(xiàng)目；

　　各種非破壞性極限情形下（如極限瞬態(tài)等）可能導(dǎo)致產(chǎn)品損壞的項(xiàng)目；

　　環(huán)路測試裕量不足。

　　3.3 C類問題（一般問題）：

　　不影響產(chǎn)品功能與性能之項(xiàng)目，如：產(chǎn)品外觀及標(biāo)志未合格項(xiàng)目、測試規(guī)范沒有界定的測量點(diǎn)的局部溫升等項(xiàng)目；

　　技術(shù)指標(biāo)未達(dá)到牽引指標(biāo)之項(xiàng)目；

　　裕量測試不足之測試項(xiàng)目（環(huán)路裕量測試不足屬嚴(yán)重問題）?！　?.4 D類問題（討論問題）：

　　研究性測試未合格項(xiàng)目；

　　開發(fā)規(guī)格書（或企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)）及測試規(guī)范中均未明確界定的項(xiàng)目；

　　對(duì)于測試項(xiàng)目不合格結(jié)束，送測方與測試方存在分歧且無判定參考依據(jù)的測試項(xiàng)目；

　　測試中發(fā)現(xiàn)的問題對(duì)于用戶影響不能確認(rèn)的。

　　4產(chǎn)品判斷準(zhǔn)則

　　4.1 合格判定

　　無A、B不合格項(xiàng)，C類不合格向不大于3項(xiàng)，判定模塊合格。

　　4.2 不合格判定

　　A、B類問題，一項(xiàng)不合格，即判定模塊不合格；

　　C類問題，三項(xiàng)（不含三項(xiàng)）以上不合格，即判定模塊不合格。

　　4.3 D類問題判定

　　由總體組和專家組，參照技術(shù)、市場、生產(chǎn)、成本等等限制條件確定其對(duì)系統(tǒng)合格與否的影響。

　　對(duì)D類問題的判定結(jié)果，由總體組和專家組負(fù)責(zé)，不記如測試部的評(píng)定指標(biāo)范圍。