根據(jù)市調(diào)機構(gòu)In-Stat年初所公布的報告指出，USB 3.0的外圍應(yīng)用出貨量在2011年大約為7000萬部，到了2014年將蓬勃發(fā)展并飆破10億部。同時他們也預(yù)估在2015年時，筆記本電腦將成為USB 3.0接口的最大載具，屆時將約有50億個外圍應(yīng)用可搭載不同形式的USB接口，包含電腦、手機、主機外殼、消費性電子以及影音多媒體等產(chǎn)品。換言之，隨著消費性電子產(chǎn)品的功能特性不斷升級，市場規(guī)模也隨之起舞與擴張，越來越多應(yīng)用都需要高帶寬的傳輸速度來滿足消費者的使用情境與體驗，而USB 3.0即是目前所提出的最佳解決方案之一。除了數(shù)據(jù)傳輸速度比USB 2.0快上10倍外，更向下兼容目前已廣泛被使用的傳統(tǒng)USB產(chǎn)品，進階后的電源管理系統(tǒng)不但能提高80%的供電率以提升充電效能外，更能以低功耗的狀態(tài)執(zhí)行作業(yè)以延長電池的使用時間。In-Stat更指出，Intel推出的Ivy Bridge處理器將首次內(nèi)建并原生支持USB 3.0功能，再搭配Microsoft新一代操作系統(tǒng)Windows 8的推出，將成為普及USB 3.0的一大動力，也意味著USB 3.0未來全面滲透市場的無限可能。

不可否認地，USB技術(shù)已然成為鏈接個人電腦/手機與外部設(shè)備的規(guī)范標準。為了滿足不斷成長的數(shù)據(jù)帶寬傳輸速度與需求，USB-IF在2008年正式公布了USB 3.0的技術(shù)規(guī)格，同時也帶來新的設(shè)計/測試的挑戰(zhàn);在經(jīng)過4年時間的市場探索與技術(shù)磨合，越來越多支持USB3.0產(chǎn)品上市，大家都期許能有更高速、更節(jié)能的USB產(chǎn)品。而為了達成這項技術(shù)規(guī)格的質(zhì)量穩(wěn)定與效能保障，從促進規(guī)范的標準化入手，建立一套完整的測試解決方案絕對是各家廠商在驗證或推出USB 3.0應(yīng)用產(chǎn)品的必經(jīng)之路。因此，百佳泰特別針對在實際驗證USB 3.0兼容性測試時，比較常遇到的問題跟分析做一些分享，希望可以提供廠商在開發(fā)產(chǎn)品時一個參考準則。

USB 3.0的兼容性測試主要分為兩個類別，裝置端(device)與主機端(host)。在裝置端的部分，必須通過「互操作性測試」(xHCI Interoperability test)的檢驗，其主要是針對所有USB 3.0的產(chǎn)品架構(gòu)所作的裝置互操作性測試，讓各種USB 3.0產(chǎn)品能與其他裝置有效地互通并協(xié)同運作，不會因為軟、硬件版本的不同而失效。在主機端部分，除了作互操作性測試外，還得進行另一項名為「向后兼容測試」(xHCI Backwards compatibility test)的驗證，其測試標的除了整個USB產(chǎn)品架構(gòu)外，xHCI controller還必須與現(xiàn)不同的USB產(chǎn)品(known good device)作測試，以確保不同的USB產(chǎn)品在這個主機端上能夠正常的運作。我們可以發(fā)現(xiàn)，USB 3.0的推出除了代表速度與效能的技術(shù)提升外，為了確保與前代技術(shù)與裝置的兼容性，類似的互操作性與向后兼容測試勢必非常重要，才能讓原本的USB技術(shù)維持零落差的技術(shù)條件與使用情境。與USB 2.0測試不同的是，某些測試上的問題肇因是單單發(fā)生在USB 3.0測試當中，這也意味著即使USB 2.0已高普及化，但在實際驗證USB 3.0時還是會遇到許多新的難題，值得廠商與我們?nèi)ヒ灰豢朔鸵呻y解答。

問題分享一：最低SSC延展幅度不符合規(guī)范(±300 PPM)。

在Electrical Test的部分，由于USB 3.0的傳輸速率高于USB 2.0有十倍之多， EMI(Electromagnetic interference)的影響也相對嚴重;因此，在USB 3.0的規(guī)范中加入了SSC(Space Spectrum Clock)技術(shù)規(guī)范，其目的即是透過SSC來降低EMI所帶來的效應(yīng)，以確保USB 3.0的訊號質(zhì)量不會受到影響。在USB 2.0時期，由于屬較低的傳輸速率，受到EMI的干擾也較輕，因而未將SSC技術(shù)納入規(guī)范;然而，隨著USB 3.0的高速傳輸能力上升，間接地越容易受到EMI的干擾。因此，在USB 3.0的測試規(guī)范中，也特別去測試其SSC此技術(shù)來驗證電子訊號的質(zhì)量。

根據(jù)SSC技術(shù)規(guī)范的標準指出，其量測出的triangle訊號圖，其上下展幅為: ±300 ppm(Min);-3700 ~ -5300 ppm(Max)。我們可以從圖一的案例發(fā)現(xiàn)，其最低的展幅為333 ppm，并不在正常規(guī)范內(nèi)。緊接著，我們著手進行疑難解答的動作，發(fā)現(xiàn)在這個情境中的問題肇因即為不正確的負載電容振蕩電路的輸出頻率偏移，進而造成SSC展幅偏移。因此，透過改變負載電容來調(diào)整輸出頻率，從16pF調(diào)成20pF(表一)，其最低的展頻幅度為204 ppm(圖二)，已符合SSC技術(shù)規(guī)范要求。換言之，其問題肇因即是晶體振蕩電路的電容負載值。

問題分享二：LFPS低頻周期信號的振幅不符合規(guī)范(800 mV<= X <=1.200mV)。

在驗證USB 3.0的過程中，另一項重要的測試LFPS(Low Frequency Periodic Signaling)信號，目的為驗證LFPS在經(jīng)過一定的傳輸信號長度后，其衰減值是否仍在規(guī)范之內(nèi)，以確保USB 3.0的傳輸速度與質(zhì)量。

首先，根據(jù)USB 3.0的規(guī)范指出，其LFPS差分訊號的正常范圍應(yīng)屬800 mV至1200mV之間。在測試我們選用的USB3.0產(chǎn)品時發(fā)現(xiàn)，其差分訊號測得604.4mV，并不符合協(xié)會規(guī)范。因此，我們從訊號的衰減因素著手進行解決方案，發(fā)現(xiàn)原因是由訊號復元組件也就是Repeater(Redriver)所造成，現(xiàn)今許多裝置為了方便消費者使用，外嵌許多USB接口，但不是每個接口都直接建置在主機版上，為了讓更多的USB接口可以延伸到各個位置，需要透過額外加的Cable來延長，這時訊號的傳遞就可能受到Chip與接口傳輸距離過長造成訊號質(zhì)量嚴重衰減。此時透過Repeater可讓原始訊號在經(jīng)過延長后的傳輸距離后作一個重整與還原的動作，使訊號維持一定的強度。但Repeater的參數(shù)(EX: Gain)若調(diào)整不正確，將會造成錯誤的行為及振幅，而在我們重新更換過Repeater之后，立即發(fā)現(xiàn)如圖四的結(jié)果，其差分訊號下降至1080.4mV并符合協(xié)會規(guī)范。[!--empirenews.page--]

這項問題肇因即可說明，如果USB 3.0主機芯片和連接器之間的距離太長，就會出現(xiàn)訊號幅度明顯衰減的狀況。若為了改善此情況而加入Repeater，其參數(shù)必須調(diào)整至一個最適當?shù)闹怠epeater所重整還原出來的訊號不一定符合系統(tǒng)或規(guī)范要求，有時候訊號經(jīng)過Repeater的重整還原之后，雖然訊號強度得到了補償;但因參數(shù)調(diào)整不正確，使其訊號振幅過大超出規(guī)范，所以Repeater的使用需要經(jīng)過精密的設(shè)定與驗證，才能得到最正線的傳輸訊號的穩(wěn)定質(zhì)量。

問題分享三：從hybrid sleep恢復后，系統(tǒng)會發(fā)生重置動作或USB裝置無法續(xù)傳。

不同于前兩項屬于electrical或硬件端的問題，我們觀察到也有因為軟件設(shè)定而導致測試失敗。這次我們用USB協(xié)會定義使用的三項USB產(chǎn)品(known good device)來作主機軟件端的兼容性測試時發(fā)現(xiàn)，其中一項產(chǎn)品在從睡眠模式(hybrid sleep)中恢復后，會產(chǎn)生系統(tǒng)reset或USB傳輸中斷的狀況。根據(jù)協(xié)會規(guī)范，當USB正在傳輸檔案時，即使進入睡眠模式后再重新啟動，應(yīng)要做續(xù)傳的動作，如果發(fā)生停止或reset的狀況即為測試失敗。

因此，我們從這個問題肇因可以發(fā)現(xiàn)USB傳輸效能與系統(tǒng)供電的關(guān)聯(lián)性。其他兩項USB產(chǎn)品皆是屬于Self -Power的產(chǎn)品，因此在系統(tǒng)進入hybrid sleep后在重新復蘇啟動OS時，由于產(chǎn)品自我供電的特性，使產(chǎn)品不會因為所連接的Host中斷V_BUS供電而在回到操作系統(tǒng)時做reset的動作，使原本的傳輸中斷。反之，在這個測試出現(xiàn)失敗的產(chǎn)品中，因為是屬Bus-Power產(chǎn)品，其供電接來自于所連接的Host，因此從hybrid sleep蘇醒時，其產(chǎn)品會因Host供應(yīng)的V_BUS不足(或中斷)導致來不及在回到操作系統(tǒng)前完成resume的動作，造成reset或中斷傳輸?shù)膭幼?。基本上，我們推測其為產(chǎn)品BIOS的問題，因此在我們更換過產(chǎn)品的BIOS后，即可解決此供電狀況的問題(如圖五和圖六)。特別的是，我們發(fā)現(xiàn)現(xiàn)今許多USB產(chǎn)品為了主打省電的功能，各家的BIOS都不盡相同;但為符合協(xié)會規(guī)范，其最低要求是系統(tǒng)從hybrid sleep的狀態(tài)恢復時，至少要能來得及反應(yīng)并啟動OS，才不會造成其他裝置動作出現(xiàn)中斷或系統(tǒng)發(fā)生reset的情況。

問題分析四：USB 3.0兼容性測試時最常遇到的問題之一，韌體不兼容造成藍屏(BOSD，Blue Screen of Death)狀況。

在了解整個問題肇因前，我們得先知道在作USB 3.0測試時，必須手動開啟「Driver Verifier」此指令，目的為讓這個指令去監(jiān)視所有g(shù)old tree上裝置的運作狀態(tài)，這也是協(xié)會規(guī)范所指定的動作之一。再者，我們在作USB 3.0兼容性測試時，只要出現(xiàn)藍屏(BSOD)便會判定為測試失敗。根據(jù)上述，這個階段的問題肇因即是發(fā)生在當待測物裝置在某廠商芯片組的USB 3.0筆記本電腦上時，接著我們再作整個gold tree的兼容性測試時，會不定時的發(fā)生藍屏狀況。為了解決此問題，我們發(fā)現(xiàn)在開啟Driver Verifier后會有一個預(yù)設(shè)旗標值(flags)，其默認值為「0x7F」，這會讓USB裝置上的driver與系統(tǒng)controller driver產(chǎn)生沖突情形，因此造成藍屏的現(xiàn)象。而根據(jù)與USB協(xié)會及AMD討論出來的解決方式，即是把旗標職從「0x7F」改成「0x9ab」，藍屏問題集獲得改善。

一般來說，獲得越多環(huán)境資源的driver理當能正常運作，因此建構(gòu)這個最低需求環(huán)境的Driver Verifier指令，為的就是讓gold tree上所有的device 及controller driver最嚴苛的環(huán)境之下，還能夠正常的運作。相反地，如果driver在這個環(huán)境條件下測試會造成藍屏，就代表這個裝置不符合規(guī)范;能通過這個最低資源、環(huán)境條件的測試，才能確保各產(chǎn)品兼容的完整性。