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[導讀]運算放大器技術指標

運算放大器的靜態(tài)技術指標

1.輸入失調電壓VIO(input offset voltage) :輸入電壓為零時,將輸出電壓除以電壓增益,即為折算到輸入端的失調電壓。VIO是表征運放內部電路對稱性的指標。

2.輸入失調電流IIO(input offset current):在零輸入時,差分輸入級的差分對管基極電流之差,用于表征差分級輸入電流不對稱的程度。

3.輸入偏置電流IB(input bias current):運放兩個輸入端偏置電流的平均值,用于衡量差分放大對管輸入電流的大小。

4.輸入失調電壓溫漂:在規(guī)定工作溫度范圍內,輸入失調電壓隨溫度的變化量與溫度變化量之比值。

5.輸入失調電流溫漂:在規(guī)定工作溫度范圍內,輸入失調電流隨溫度的變化量與溫度變化量之比值。

6.最大差模輸入電壓 (maximum differential mode input voltage):運放兩輸入端能承受的最大差模輸入電壓,超過此電壓時,差分管將出現反向擊穿現象。

7.最大共模輸入電壓(maximum common mode input voltage):在保證運放正常工作條件下,共模輸入電壓的允許范圍。共模電壓超過此值時,輸入差分對管出現飽和,放大器失去共模抑制能力。

運算放大器的動態(tài)技術指標

1.開環(huán)差模電壓放大倍數(open loop voltage gain) :運放在無外加反饋條件下,輸出電壓與輸入電壓的變化量之比。

2.差模輸入電阻(input resistance) :輸入差模信號時,運放的輸入電阻。

3.共模抑制比(common mode rejection ratio) :與差分放大電路中的定義相同,是差模電壓增益 與共模電壓增益 之比,常用分貝數來表示。 KCMR=20lg(Avd / Avc ) (dB)

4.-3dB帶寬(—3dB band width) :運算放大器的差模電壓放大倍數 在高頻段下降3dB所定義的帶寬 。

5.單位增益帶寬(BW?G)(unit gain band width): 下降到1時所對應的頻率,定義為單位增益帶寬 。

6.轉換速率(壓擺率)(slew rate):反映運放對于快速變化的輸入信號的響應能力。

7.等效輸入噪聲電壓Vn(equivalent input noise voltage):輸入端短路時,輸出端的噪聲電壓折算到輸入端的數值。這一數值往往與一定的頻帶相對應。

集成運算放大器指標測試

集成運算放大器是一種線性集成電路,和其它半導體器件一樣,它是用一些性能指標來衡量其質量的優(yōu)劣。為了正確使用集成運放,就必須了解它的主要參數指標。集成運放組件的各項指標通常是由專用儀器進行測試的,這里介紹的是一種簡易測試方法。

本實驗采用的集成運放型號為μA741(或F007),引腳排列如圖7-1所示,它是八腳雙列直插式組件,②腳和③腳為反相和同相輸入端,⑥腳為輸出端,⑦腳和④腳為正、負電源端,①腳和⑤腳為失調調零端,①⑤腳之間可接入一只幾十KΩ的電位器并將滑動觸頭接到負電源端。 ⑧腳為空腳。

1、 μA741主要指標測試

 

 

圖7-1 μA741管腳圖 圖7-2 U0S、I0S測試電路

1)輸入失調電壓U0S

理想運放組件,當輸入信號為零時,其輸出也為零。但是即使是最優(yōu)質的集成組件,由于運放內部差動輸入級參數的不完全對稱,輸出電壓往往不為零。這種零輸入時輸出不為零的現象稱為集成運放的失調。

輸入失調電壓U0S 是指輸入信號為零時,輸出端出現的電壓折算到同相輸入端的數值。

失調電壓測試電路如圖7-2所示。閉合開關K1及K2,使電阻RB短接,測量此時的輸出電壓U01 即為輸出失調電壓,則輸入失調電壓

 

 

實際測出的U01可能為正,也可能為負,一般在1~5mV,對于高質量的運放U0S在1mV以下。

測試中應注意:a、將運放調零端開路。

b、要求電阻R1和R2,R3和RF的參數嚴格對稱。

2)輸入失調電流I0S

輸入失調電流I0S 是指當輸入信號為零時,運放的兩個輸入端的基極偏置電流之差,

 

 

輸入失調電流的大小反映了運放內部差動輸入級兩個晶體管β的失配度,由于IB1 ,IB2 本身的數值已很小(微安級),因此它們的差值通常不是直接測量的,測試電路如圖7-2所示,測試分兩步進行

a、 閉合開關K1及K2,在低輸入電阻下,測出輸出電壓U01 , 如前所述,這是由輸入失調電壓U0S 所引起的輸出電壓。

b、斷開K1及K2,兩個輸入電阻RB接入,由于RB 阻值較大,流經它們的輸入電流的差異,將變成輸入電壓的差異,因此,也會影響輸出電壓的大小,可見測出兩個電阻RB接入時的輸出電壓U02 ,若從中扣除輸入失調電壓U0S 的影響,則輸入失調電流I0S 為

 

 

一般,I0S 約為幾十~幾百nA(10-9A),高質量運放IOS低于1nA。

測試中應注意: a、將運放調零端開路。

b、兩輸入端電阻RB必須精確配對。

3)開環(huán)差模放大倍數Aud

集成運放在沒有外部反饋時的直流差模放大倍數稱為開環(huán)差模電壓放大倍數,用Aud 表示。它定義為開環(huán)輸出電壓U0與兩個差分輸入端之間所加信號電壓Uid 之比。

 

 

按定義Aud 應是信號頻率為零時的直流放大倍數,但為了測試方便,通常采用低頻(幾十赫芝以下)正弦交流信號進行測量。由于集成運放的開環(huán)電壓放大倍數很高,難以直接進行測量,故一般采用閉環(huán)測量方法。 Aud的測試方法很多,現采用交、直流同時閉環(huán)的測試方法,如圖7-3所示。

 

 

圖7-3 Aud測試電路

被測運放一方面通過RF、R1、R2完成直流閉環(huán),以抑制輸出電壓漂移,另一方面通過RF和RS實現交流閉環(huán),外加信號uS經R1、R2分壓,使uid 足夠小,以保證運放工作在線性區(qū),同相輸入端電阻R3應與反相輸入端電阻R2相匹配,以減小輸入偏置電流的影響,電容C 為隔直電容。被測運放的開環(huán)電壓放大倍數為

 

 

通常低增益運放Aud約為60~70db,中增益運放約為80db,高增益在100db以上,可達120~140db。

測試中應注意:a、測試前電路應首先消振及調零。

b、被測運放要工作在線性區(qū)。

c、輸入信號頻率應較低,一般用50~100HZ ,輸出信號幅度應較小,且無明顯失真。

4)共模抑制比CMRR

集成運放的差模電壓放大倍數Ad與共模電壓放大倍數AC之比稱為共模抑制比

 

 

共模抑制比在應用中是一個很重要的參數,理想運放對輸入的共模信號其輸出為零,但在實際的集成運放中,其輸出不可能沒有共模信號的成分,輸出端共模信號愈小,說明電路對稱性愈好,也就是說運放對共模干擾信號的抑制能力愈強,即CMRR愈大。CMRR的測試電路如圖7-4所示。

集成運放工作在閉環(huán)狀態(tài)下的差模電壓放大倍數為

 

 

當接入共模輸入信號Uic時,測得U0C,則共模電壓放大倍數為

 

 

得共模抑制比

 

 

 

 

圖7-4 CMRR測試電路

測試中應注意:a、消振與調零

b、R1與R2、R3與RF之間阻值嚴格對稱

c、輸入信號Uic 幅度必須小于集成運放的最大共模輸入電壓范圍 Uicm

5) 共模輸入電壓范圍Uicm

集成運放所能承受的最大共模電壓稱為共模輸入電壓范圍,超出這個范圍,運放的CMRR會大大下降,輸出波形產生失真,有些運放還會出現“自鎖”現象以及永久性的損壞。

Uicm的測試電路如圖7-5所示。

被測運放接成電壓跟隨器形式,輸出端接示波器,觀察最大不失真輸出波形,從而確定Uicm值。

6) 輸出電壓最大動態(tài)范圍UOPP

集成運放的動態(tài)范圍與電源電壓、外接負載及信號源頻率有關。測試電路如圖7-6所示。

改變uS幅度,觀察u0削頂失真開始時刻,從而確定u0的不失真范圍,這就是運放在某一定電源電壓下可能輸出的電壓峰峰值UOPP。

 

 

圖7-5 Uicm測試電路 圖7-6 UOPP測試電路

2、集成運放在使用時應考慮的一些問題

1) 輸入信號選用交、直流量均可, 但在選取信號的頻率和幅度時,應考慮運放的頻響特性和輸出幅度的限制。

2) 調零。為提高運算精度,在運算前, 應首先對直流輸出電位進行調零,即保證輸入為零時,輸出也為零。當運放有外接調零端子時,可按組件要求接入調零電位器RW,調零時,將輸入端接地,調零端接入電位器RW,用直流電壓表測量輸出電壓U0,細心調節(jié)RW,使U0為零(即失調電壓為零)。如運放沒有調零端子,若要調零,可按圖7-7所示電路進行調零。

一個運放如不能調零,大致有如下原因:① 組件正常,接線有錯誤。② 組件正常,但負反饋不夠強(RF/R1 太大),為此可將RF短路,觀察是否能調零。③ 組件正常,但由于它所允許的共模輸入電壓太低,可能出現自鎖現象,因而不能調零。為此可將電源斷開后,再重新接通,如能恢復正常,則屬于這種情況。④組件正常,但電路有自激現象,應進行消振。⑤組件內部損壞,應更換好的集成塊。

 

 

(a) (b)

圖7-7 調零電路

3) 消振。一個集成運放自激時,表現為即使輸入信號為零, 亦會有輸出,使各種運算功能無法實現,嚴重時還會損壞器件。在實驗中,可用示波器監(jiān)視輸出波形。為消除運放的自激,常采用如下措施

①若運放有相位補償端子,可利用外接RC補償電路,產品手冊中有補償電路及元件參數提供。②電路布線、元、器件布局應盡量減少分布電容。③在正、負電源進線與地之間接上幾十μF的電解電容和0.01~0.1μF 的陶瓷電容相并聯以減小電源引線的影響。

什么是 PSRR

PSRR,就是 Power Supply Rejection Ratio 的縮寫,中文含意為“電源抑制比”。也就是說, PSRR 表示把輸入與電源視為兩個獨立的信號源時,所得到的兩個電壓增益的比值?;居嬎愎綖椋?/p>

 

 

PSRR 的單位為分貝(dB),采用對數比值,此處V1是輸入電壓的改變,而V2是輸出電壓的改變。

從上面的式子可以看出,影響輸出信號的因素除了電路本身之外,還受到了供電電源的影響。PSRR 是一個用來描述輸出信號受電源影響的量,PSRR 越大,輸出信號受到電源的影響越小。 這個等式的計算結果一般是零。如果看到有電源供應商標明PSRR是正值,不要驚訝,這只是因為他們使用的是V2與V1而不是V1與V2的比值。只要取PSRR的絕對值,就能避免一切迷惑了。設計者們都希望PSRR的絕對值越高越好,因為PSRR絕對值越高就意味著輸出上的噪音/波紋越低。比如,80 dB 的PSRR絕對值(輸出紋波比輸入波紋小1萬倍)就比20dB的絕對值(輸出波紋比輸入波紋小10倍)要好。

還可得出,輸出電壓 Vout 是 Vin 與電源電壓 VCC 的函數。如果輸入信號 Vin 變化了 ⊿Vin,輸出信號的變化量 ⊿Vout 是由輸入到輸出的電壓增益 Av 乘以輸入電壓的變化量 ⊿Vin。如果把電源電壓變化 ⊿VCC 看作一個很小信號,由于電源電壓變化導致的輸出電壓的變化量 ⊿Vout 則為電源電壓到輸出的電壓增益 Avo 乘以電源電壓變化量 ⊿VCC。

不穩(wěn)定的供電電壓勢必會影響輸出信號的波形,影響的幅度取決于 PSRR。所以需要側重于運放等的去耦設計和電源的設計(通常較多用 LDO 線性電源給運放供電)。PSRR 是在單位閉環(huán)增益情況下得到的,因此在負反饋應用中引起的輸出變化需乘以閉環(huán)增益。

一般地,PSRR 有 3個具體參數:+PSRR,-PSRR,+/-PSRR。表示從某個電源端或兩個電源端分別或同時異向低頻變化,在運放差分輸入端引入的傳輸或影響量值。如上所分析的:⊿Vps=1V 的電源變化,在 PRSS="80dB" 運放輸入端,導致 ⊿Vdi=100uV 的變化(PSRR=20log⊿Vps/⊿Vdi)。于是運放輸出電壓產生的變化:⊿Vo=⊿Vdi(1+Rf/Ri);Rf--反饋電阻,Ri--輸入電阻。

擴展閱讀:運放設計原理

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