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[導讀]隨著觸摸屏變得越來越復雜,使用它們進行設(shè)計變得更具挑戰(zhàn)性。幸運的是,良好設(shè)計的規(guī)則沒有改變,并且有許多解決方案可以幫助您應(yīng)對挑戰(zhàn)。人機界面(HMI)在過去幾年中經(jīng)歷了

隨著觸摸屏變得越來越復雜,使用它們進行設(shè)計變得更具挑戰(zhàn)性。幸運的是,良好設(shè)計的規(guī)則沒有改變,并且有許多解決方案可以幫助您應(yīng)對挑戰(zhàn)。

人機界面(HMI)在過去幾年中經(jīng)歷了一場革命。機械QWERTY鍵盤及其相關(guān)鼠標不再受到光滑觸摸屏取代的青睞。人們只需要考慮移動手機的發(fā)展,看看制造商如何在放棄鍵盤時急于推出具有更大和更好觸摸屏的產(chǎn)品。

觸摸控制多年來一直用于不那么迷人的應(yīng)用。例如,支持觸摸的鍵盤在許多家用電器(如微波爐和洗碗機)中很流行,取代了昂貴且不可靠的機械鍵盤。觸摸屏已廣泛應(yīng)用于工業(yè)控制設(shè)置中,因為它們非常適合通常遇到的惡劣操作環(huán)境。除了這些優(yōu)點之外,觸摸屏采用的主要動機之一是機械部件磨損和損壞使用。例如,雖然鍵盤和鼠標已被證明是計算機系統(tǒng)相對耐用的HMI,但它們最終會破壞。骯臟,多塵或潮濕的環(huán)境增加了早期失效的可能性,因為顆粒和水分會進入機械部件并加速磨損。最后,鍵盤和開關(guān)幾乎不是最衛(wèi)生的設(shè)備。雖然這對于工業(yè)或家庭環(huán)境來說可能不是一個大問題,但它肯定是醫(yī)療應(yīng)用中的一個主要問題。

本文將介紹電容式觸摸傳感,這是目前使用的最流行的觸摸屏技術(shù),以及將描述通過改善響應(yīng)和最小化錯誤觸摸來改善用戶體驗的設(shè)計技術(shù),其中設(shè)備對靠近傳感器按鈕的手指作出反應(yīng)而不是用戶的刻意觸摸。

電容式觸摸控制基礎(chǔ)知識

設(shè)計人員可以使用多種技術(shù)進行觸摸控制,包括電感,電阻和電容。每個都有其優(yōu)點,特別是消除易磨損的機械部件,但電容式觸摸技術(shù)已被證明是近年來最受歡迎的。這是因為它提供了來自傳感器下方顯示器的更高光傳輸 - 與電阻技術(shù)的80%相比超過90% - 這對于具有明亮,高分辨率屏幕的智能手機等設(shè)備尤其重要。

其他優(yōu)勢包括更快響應(yīng),通過“低壓”觸摸(例如,手指而不是手寫筆)激活,處理多個觸摸的能力,更大的活動區(qū)域以及更少的磨損易感性。

有幾種類型的電容式觸摸傳感器技術(shù),包括表面電容和投射電容,但都是基于手指的應(yīng)用改變局部區(qū)域的電容這一事實,使系統(tǒng)的電子設(shè)備能夠檢測觸摸并確定其在屏幕上的位置。圖1a和1b說明了原理。

 

 

圖1a:在電容式觸摸屏系統(tǒng)中,傳感器和銅接地之間產(chǎn)生電容(CP)。 “邊緣”電場也穿過覆蓋層。 (賽普拉斯半導體提供)。

 

 

圖1b:沒有手指存在,傳感器的測量電容(CX)基本上等于CP。當手指存在時,CX是CP和CF的總和。 (賽普拉斯半導體公司提供)。

材料和PCB設(shè)計的選擇對CP和CF的值有重大影響。我們將看看CP后來如何受到影響。 CF的值可以通過以下公式確定:

CF =(ε0εrA)/D

其中:

ε0=自由空間介電常數(shù)

εr=疊加的介電常數(shù)

A =手指和傳感器焊盤重疊的面積

D =疊加厚度

從公式中可以看出,選擇具有較高介電常數(shù)的覆蓋材料,減小覆蓋層厚度,增加按鈕直徑將提高CF的值并增加系統(tǒng)的靈敏度。

取決于設(shè)計,CP通常測量在10到300 pF之間。相比之下,CF更小,可能在0.1到10 pF之間。為了使設(shè)計人員的生活更加困難,CP(也稱為寄生電容)隨環(huán)境條件(如溫度和濕度)的變化而變化。因此,設(shè)計人員面臨的挑戰(zhàn)是,在應(yīng)用手指時,盡可能增加整體傳感器電容的百分比 - 換句話說,最大化信噪比(SNR) - 以確保系統(tǒng)能夠準確地識別虛假觸摸的真實觸感。

設(shè)計觸摸屏PCB

幸運的是,有一些硬件和軟件設(shè)計技術(shù)可以幫助設(shè)計工程師提高觸摸屏控制設(shè)計的SNR。

讓我們開始吧通過考慮PCB。典型的觸摸屏設(shè)計采用雙層電路板(電路板厚度范圍為0.5至1.6 mm),傳感器焊盤和陰影接地平面位于頂部,其他所有位于底部(參見圖2)。當板面積必須最小化時,可以使用四層板。

 

 

圖2:典型的觸摸屏設(shè)計,傳感器位于雙層板頂部,組件位于底部。 (賽普拉斯半導體公司提供)。

使用短而窄的走線可以最大限度地減少寄生電容。痕跡長度應(yīng)小于300毫米,寬度應(yīng)在0.17至0.20毫米之間。最好將傳感器走線布置在PCB的底層,并使用通孔將每個傳感器走線連接到相關(guān)的傳感器墊。應(yīng)將通孔放置在焊盤上,以使傳感器走線長度最小化(參見圖3)。采用這種布線方法,當應(yīng)用手指時,它只會與傳感器墊相互作用,而不會與跡線相互作用。

設(shè)計人員不應(yīng)將跡線直接布置在任何傳感器墊下,除非跡線連接到該特定傳感器。此外,電容式傳感跡線不應(yīng)與高頻通信線路緊密接觸或平行。如果無法避免與傳感器走線交叉通信線路,請確保交叉點處于直角

 

 

圖3:通過傳感器板上的位置,使傳感器走線長度最小化(底層上的跡線,頂層上的傳感器墊)。 (賽普拉斯半導體公司提供)。

觸摸傳感器設(shè)計需要接地填充,以最大限度地降低EMI對電容式傳感系統(tǒng)的影響。然而,需要權(quán)衡,因為當接地填充與傳感器焊盤相鄰時,會增加系統(tǒng)的寄生電容,降低其靈敏度。一個很好的折衷方案是在頂層使用陰影線15%的地面填充(例如,0.18 mm線,1.14 mm間距)和底層10%(例如,0.18 mm線,1.78 mm間距)。

使用帶陰影的接地填充時,傳感器板和接地層之間的間隙會影響相關(guān)按鈕的靈敏度。具體而言,傳感器寄生電容的大小與按鍵和接地層之間產(chǎn)生的電場有關(guān)(見圖1a)。事實證明,當按鈕周圍的間隙增大時,寄生電容會減小。圖4說明了這種關(guān)系。在該圖中,板材為FR4,厚度為1.57mm,丙烯酸覆蓋層的厚度為2mm。每個圖包含三個按鈕尺寸(直徑5,10和15 mm)的數(shù)據(jù)。

 

 

圖4:作為按鈕離地間隙和按鈕直徑的函數(shù)的寄生電容(CP)。 (賽普拉斯半導體公司提供)。

按鈕旨在感知手指的存在。形狀和大小會影響觸摸傳感器的靈敏度。角度小于90度的形狀(如三角形)效果不佳,正方形更好,實心圓最佳。較大的按鈕通常比較小的按鈕更好。嘗試使按鈕大小與指尖區(qū)域相匹配是一個好主意,該區(qū)域?qū)⑴c傳感器接觸。圖5繪制了不同尺寸按鈕的手指電容(CF)占傳感器電容(CSENSOR)的百分比。

 

 

圖5:不同尺寸實心圓形按鈕的CF/CSENSOR比率。 (賽普拉斯半導體公司提供)

消除錯誤觸摸

觸摸屏電路在沒有手指(啟動電容)的情況下會產(chǎn)生固有的寄生電容。如果起始電容大,則來自手指觸摸的電容的增加引起相對較小的變化,因此更難以檢測。換句話說,降低啟動電容會增加電容式觸摸傳感器的動態(tài)范圍。

前面討論的PCB設(shè)計技術(shù)將有助于增加系統(tǒng)的動態(tài)范圍,但還有更多工作要做,尤其是當它消除“虛假觸摸” - 傳感器注冊的觸摸但用戶不打算接觸。

屏幕尺寸越小,挑戰(zhàn)越嚴峻。例如,與移動手機觸摸屏上的特征相比,手指的尖端相對較大,因此與例如計算機監(jiān)視器相比,確定哪個按鈕實際被選擇變得更加困難。

問題是當多個鍵靠近時,因為靠近傳感器但實際上沒有接觸的手指仍會產(chǎn)生可測量的電容增加并產(chǎn)生錯誤的讀數(shù)(見圖6)。

 

 

圖6:當手指接近傳感器墊而沒有實際接觸時,可能會發(fā)生誤觸摸。 (賽普拉斯半導體公司提供)。

每個傳感器走線都成為它所連接的電容式傳感器的擴展,因此不良的布線可以將電容從一個傳感器耦合到另一個傳感器 - 特別是如果跡線指向附近的傳感器 - 并增加虛假觸摸的可能性緊密分組的按鈕是一個特別的問題,因為手指可能會使相鄰按鈕與要按壓的按鈕重疊。將具有接地環(huán)的組中的每個傳感器包圍在一起可以幫助隔離每個傳感器。然而,使用接地環(huán)是一種權(quán)衡,因為如前所述,靠近觸摸傳感器的跡線會增加寄生電容并降低傳感器靈敏度。

半導體供應(yīng)商的幫助

除了PCB設(shè)計變更外,觸摸控制技術(shù)提供商還可以提供一些創(chuàng)新技術(shù),以盡量減少錯誤觸摸的可能性。例如,賽普拉斯半導體公司的CapSense®技術(shù)允許設(shè)計工程師調(diào)整電路,以實現(xiàn)最佳信噪比(SNR),以確保觸摸檢測并濾除誤觸摸。

系統(tǒng)基于公司的CY8C20XX6A技術(shù)可在手指不存在時持續(xù)測量寄生電容。該測量值被轉(zhuǎn)換為數(shù)字計數(shù),以便通過確定設(shè)定時間內(nèi)的平均計數(shù)數(shù)來設(shè)置噪聲基線。這種寄生電容的不斷更新意味著如果電容由于環(huán)境因素(例如熱量和濕度的增加)而發(fā)生變化,系統(tǒng)可以“重置”基線。

當手指存在時,系統(tǒng)會繼續(xù)頻繁地測量電容的順序建立“觸摸”信號的平均值。圖7顯示了基于CapSense的系統(tǒng)的實際傳感器數(shù)據(jù)樣本。注意,從許多寄生電容測量建立的噪聲基線被轉(zhuǎn)換成數(shù)字計數(shù)。類似地,當存在手指以確定信號閾值時執(zhí)行許多計數(shù)。在這種情況下,SNR為5:1。

 

 

圖7:賽普拉斯半導體CapSense®系統(tǒng)的輸出。

在制造環(huán)境中,“相同”設(shè)計將展示一系列CP ,CF和CX值會影響系統(tǒng)靈敏度。通過分析CapSense輸出,裝配技術(shù)人員可以根據(jù)設(shè)計工程師設(shè)置的SNR閾值(例如,4.75:1)來傳遞或拒絕產(chǎn)品。

就其本身而言,STMicroelectronics提供其S-Touch™產(chǎn)品,例如STMPE16M31QTR用于電容式觸摸屏。 S-Touch技術(shù)基于兩個RC網(wǎng)絡(luò),均由相同的信號驅(qū)動。其中一個網(wǎng)絡(luò)是參考,而另一個網(wǎng)絡(luò)連接到傳感器。當手指觸摸焊盤時,電容增加,延長了RC網(wǎng)絡(luò)與參考電壓相比的時間常數(shù)。根據(jù)延遲的長度,S-Touch可以確定它是故意觸摸,誤觸摸還是噪聲(見圖8)。

 

 

圖8:STMicroelectronics的S-Touch™技術(shù)(無觸摸延遲ZREF - ZIN = A,觸摸延遲ZREF-ZIN = B,如果BA》閾值則觸摸被注冊)。

S-Touch技術(shù)利用連接到校準單元的數(shù)據(jù)檢測引擎持續(xù)運行校準程序,以考慮環(huán)境影響的變化,如溫度和濕度。最后,數(shù)據(jù)過濾塊應(yīng)用兩個濾波器,一個用于消除噪聲,另一個用于抑制與被觸摸的傳感器相鄰的傳感器的信號,以消除誤觸摸。

觸摸屏技術(shù)繼續(xù)快速發(fā)展。制造商已經(jīng)在推廣先進技術(shù),包括允許同時檢測多個手指觸摸的技術(shù)和投射電容,即使用戶甚至不必直接觸摸屏幕。簡單地移動手指足以觸發(fā)響應(yīng)。

確??焖?,準確響應(yīng)而不會出現(xiàn)錯誤觸摸的基本設(shè)計規(guī)則保持不變。旨在實現(xiàn)高靈敏度,使控制電子設(shè)備可以輕松區(qū)分噪聲,誤觸摸和預期觸摸,并建立校準,以便系統(tǒng)可以應(yīng)對環(huán)境條件的變化。

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