引言 RFID(Radio Frequency Identification),中文稱為無(wú)線射頻身份識(shí)別是一種非接觸式IC卡技術(shù)。它通過(guò)射頻信號(hào)自動(dòng)識(shí)別目標(biāo)對(duì)象并獲取相關(guān)數(shù)據(jù),識(shí)別工作無(wú)須人工干預(yù)。RFID技術(shù)具有很多突出的優(yōu)點(diǎn):防水、防磁
Allegro 推出具有 I2C 串行接口的新款語(yǔ)音線圈電動(dòng)機(jī) (VCM) 驅(qū)動(dòng)器,該產(chǎn)品設(shè)計(jì)用于相機(jī)鏡頭自動(dòng)對(duì)焦及變焦應(yīng)用。該新型器件的工作電壓范圍為 2.3 V 至 5.5 V,最大輸出電流為 102 mA,工作溫度范圍為 -40°C 至 +85
使用手機(jī)的人都有過(guò)這樣的經(jīng)歷:外出時(shí)手機(jī)電池突然沒(méi)有電了,因充電器不在身邊或找不到可以充電的地方,影響了手機(jī)的正常使用。為了解決這一問(wèn)題,本文介紹一種太陽(yáng)能手機(jī)充電器,它使用太陽(yáng)能電池板,經(jīng)電路進(jìn)
使用手機(jī)的人都有過(guò)這樣的經(jīng)歷:外出時(shí)手機(jī)電池突然沒(méi)有電了,因充電器不在身邊或找不到可以充電的地方,影響了手機(jī)的正常使用。為了解決這一問(wèn)題,本文介紹一種太陽(yáng)能手機(jī)充電器,它使用太陽(yáng)能電池板,經(jīng)電路進(jìn)
射頻卡具有高度安全性和高度可靠性,目前應(yīng)用越來(lái)越廣。文中的射頻卡系統(tǒng)主要由射頻卡和閱讀器兩部分組成。射頻卡是基于MSP430設(shè)計(jì)的,閱讀器是基于AT89C51設(shè)計(jì)的。文中首先說(shuō)明了射頻卡和閱讀器的工作原理和設(shè)計(jì)方法,然后給出具體的硬件設(shè)計(jì)和軟件設(shè)計(jì)流程。
電磁爐越來(lái)越受到大眾家庭的關(guān)注,由于電磁爐小巧、方便等特點(diǎn)已經(jīng)逐漸走進(jìn)了普通家庭中去,它已經(jīng)成為現(xiàn)代家庭烹飪食物的先進(jìn)電子炊具。它使用起來(lái)非常方便,可用來(lái)進(jìn)行煮、炸、煎、蒸、炒等各種烹調(diào)操作。雖然
原本大型磁場(chǎng)線圈才能“綁”住的原子,現(xiàn)在僅用100微米寬的光刻線圈,就能讓其“定身”。最近,記者從中科院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所獲悉,該所量子光學(xué)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室一研究小組實(shí)現(xiàn)了我國(guó)第一個(gè)原子芯片上的玻色-愛(ài)因斯
在核磁共振(MR)系統(tǒng)中,需要應(yīng)用微波射頻開(kāi)關(guān)進(jìn)行接收線圈通道的切換選擇。應(yīng)用pin diodes設(shè)計(jì)電路,可靠性得到很大提高,解決了一般開(kāi)關(guān)器件可靠性差、容易損壞的問(wèn)題。由于設(shè)計(jì)的合理性,此微波射頻開(kāi)關(guān)的反射系數(shù)、傳輸系數(shù)、隔離度都非常理想。本設(shè)計(jì)高度模塊化,使得電路故障的檢測(cè)變得容易。另外,本設(shè)計(jì)的應(yīng)用非常靈活,4輸入2輸出可以利用一定的組合邏輯得到我們想要的輸入輸出組合,在核磁共振系統(tǒng)中,16輸入2輸出得到廣泛應(yīng)用。
如圖所示為高頻產(chǎn)生點(diǎn)燈器電路。它是以8V~14V的蓄電池作為能源,經(jīng)振蕩升壓后再點(diǎn)亮6W~12W的熒光燈。晶體三極管VT可采用3DD12A、D3D4D、3DD5C、3DDl5A等低頻大功率三極管,組裝時(shí)應(yīng)為其安裝70mm×40mm×2mm的鋁板制
在一些場(chǎng)合(如召開(kāi)電話會(huì)議)需要將電話里的聲音加以放大供多人收聽(tīng),不僅如此,有時(shí)還需要對(duì)電話里的內(nèi)容進(jìn)行錄音。本電路能同時(shí)滿足這兩種要求,制作時(shí)不需改動(dòng)電話機(jī),使用時(shí)只要放在電話機(jī)旁即可。當(dāng)話音電流在電
金屬探測(cè)器電路如圖所示。探測(cè)線圈組成LC振蕩電路,當(dāng)線圈靠近金屬時(shí),金屬體內(nèi)產(chǎn)生渦流,使線圈電感量變化,致使探測(cè)器電路中的振蕩頻率也發(fā)生變化。圖(a)是本探測(cè)器的原理框圖;圖(b)為檢測(cè)電路圖。