在電子工程領(lǐng)域,JTAG(Joint Test Action Group)技術(shù)已成為芯片測(cè)試、系統(tǒng)編程和嵌入式調(diào)試的基石。隨著集成電路復(fù)雜度的提升,傳統(tǒng)測(cè)試方法已無(wú)法滿足需求,JTAG憑借其標(biāo)準(zhǔn)化和高效性成為行業(yè)主流解決方案。
在電子工程領(lǐng)域,JTAG(Joint Test Action Group)技術(shù)已成為芯片測(cè)試和系統(tǒng)調(diào)試的核心工具。從1980年代為解決PCB制造問(wèn)題而誕生,到如今廣泛應(yīng)用于FPGA配置、嵌入式系統(tǒng)調(diào)試和芯片級(jí)編程,JTAG技術(shù)經(jīng)歷了從測(cè)試專(zhuān)用接口到多功能開(kāi)發(fā)工具的演變。
在電子工程領(lǐng)域,JTAG(Joint Test Action Group)技術(shù)已成為芯片測(cè)試和系統(tǒng)調(diào)試的核心工具。從1980年代為解決PCB制造問(wèn)題而誕生,到如今廣泛應(yīng)用于FPGA配置、嵌入式系統(tǒng)調(diào)試和芯片級(jí)編程,JTAG技術(shù)經(jīng)歷了從測(cè)試專(zhuān)用接口到多功能開(kāi)發(fā)工具的演變。
在SWD和JTAG之類(lèi)的協(xié)議出現(xiàn)之前,調(diào)試器及其協(xié)議一片混亂,每個(gè)MCU制造商都提出了自己的專(zhuān)有方法,將代碼加載到他們的MCU上。
數(shù)字信號(hào)處理(DSP)系統(tǒng)開(kāi)發(fā),仿真調(diào)試是確保算法正確性與硬件可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。隨著DSP芯片功能復(fù)雜度的提升,傳統(tǒng)調(diào)試手段已難以滿足需求,而JTAG接口與邏輯分析儀的協(xié)同使用,通過(guò)硬件級(jí)調(diào)試與信號(hào)級(jí)分析的結(jié)合,為開(kāi)發(fā)者提供了高效、精準(zhǔn)的調(diào)試解決方案。
JTAG和SWD是兩種常用的STM32程序下載模式,它們分別代表不同的接口和調(diào)試方式。下面分別介紹這兩種模式:
JTAG是20世紀(jì)80年代開(kāi)發(fā)的IEEE標(biāo)準(zhǔn)(1149.1),用來(lái)解決電路板的生產(chǎn)制造檢修問(wèn)題?,F(xiàn)在JTAG還可以用來(lái)燒程序、調(diào)試以及檢測(cè)端口狀態(tài)。本文主要介紹JTAG的基本功能,邊界掃描。
在這篇文章中,小編將為大家?guī)?lái)JTAG接口與Flash的相關(guān)報(bào)道。如果你對(duì)本文即將要講解的內(nèi)容存在一定興趣,不妨繼續(xù)往下閱讀哦。
在這篇文章中,小編將對(duì)JTAG接口的相關(guān)內(nèi)容和情況加以介紹以幫助大家增進(jìn)對(duì)JTAG接口的了解程度,和小編一起來(lái)閱讀以下內(nèi)容吧。
一直以來(lái),JTAG接口都是大家的關(guān)注焦點(diǎn)之一。因此針對(duì)大家的興趣點(diǎn)所在,小編將為大家?guī)?lái)JTAG接口的相關(guān)介紹,詳細(xì)內(nèi)容請(qǐng)看下文。
摘 要:以ARM Core Sight Architecture Specification規(guī)范和ARM Debug Interface Architecture Specification規(guī)范為出發(fā)點(diǎn),分析了ARM CoreSight調(diào)試與追蹤體系在ARM Cortex M3內(nèi)核中的實(shí)現(xiàn)過(guò)程。同時(shí),對(duì)比分析了新的Serial WireDebug調(diào)試技術(shù)和經(jīng)典的JTAG調(diào)試技術(shù)的異同。
在FPGA研發(fā)及學(xué)習(xí)過(guò)程中,有一個(gè)關(guān)鍵步驟就是下板實(shí)現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來(lái)說(shuō)用JTAG口比較常見(jiàn)一些,因此相信肯定有些大俠遇到過(guò)JTAG口失靈或者損壞無(wú)法使用的事情。
在FPGA研發(fā)及學(xué)習(xí)過(guò)程中,有一個(gè)關(guān)鍵步驟就是下板實(shí)現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來(lái)說(shuō)用JTAG口比較常見(jiàn)一些,因此相信肯定有些大俠遇到過(guò)JTAG口失靈或者損壞無(wú)法使用的事情。
在FPGA研發(fā)及學(xué)習(xí)過(guò)程中,有一個(gè)關(guān)鍵步驟就是下板實(shí)現(xiàn),做硬件“硬現(xiàn)”很重要,一般來(lái)說(shuō)用JTAG口比較常見(jiàn)一些,因此相信肯定有些大俠遇到過(guò)JTAG口失靈或者損壞無(wú)法使用的事情。
JTAG(JointTest ActionGroup)是一個(gè)接口,為了這個(gè)接口成立了一個(gè)小組叫JTAG小組,它成立于1985年。
JTAG(Joint Test AcTIon Group,聯(lián)合測(cè)試行動(dòng)組)是一種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試協(xié)議(IEEE 1149.1兼容)。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線——TMS、T
JTAG最初是用來(lái)對(duì)芯片進(jìn)行測(cè)試的,基本原理是在器件內(nèi)部定義一個(gè)TAP(Test Access Port?測(cè)試訪問(wèn)口)通過(guò)專(zhuān)用的JTAG測(cè)試工具對(duì)進(jìn)行內(nèi)部節(jié)點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試。JTAG測(cè)試允許多個(gè)器
? ? ? ??感謝原著作者對(duì)人類(lèi)文化的傳播做出的努力!以下內(nèi)容直譯為主,意譯為輔,同時(shí)筆者可能會(huì)加入個(gè)人觀點(diǎn)以方便理解。如有翻譯不當(dāng)?shù)牡胤较M魑煌史e極指出,如有必要的話請(qǐng)做出引證,以助于筆者翻譯
JTAG(Joint Test Action Group)是一個(gè)接口,為了這個(gè)接口成立了一個(gè)小組叫JTAG小組,它成立于1985年,比推丸菌的年齡還大。在1990年IEEE覺(jué)得一切妥當(dāng),于是發(fā)布了 IEEE Standard 1149.1-1990,并命名為 Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture,這就是大名鼎鼎的JTAG了。
JTAG接口主要包括以下四個(gè)引腳:TMS TCK TDI和TCO及一個(gè)可選配的引腳TRST,用于驅(qū)動(dòng)電路模塊和控制執(zhí)行規(guī)定的操作。各引腳的功能如下: TCK:JTAG測(cè)試時(shí)鐘,為T(mén)AP控