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[導讀]微處理器集成電路的檢測 微處理器集成電路的關鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線輸入、輸出端。 在路測量這些關鍵腳對地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關維修資料中查出)相同。

(一)常用的檢測方法

集成電路常用的檢測方法有在線測量法、非在線測量法和代換法。

1.非在線測量 非在線測量潮在集成電路未焊入電路時,通過測量其各引腳之間的直流電阻值與已知正常同型號集成電路各引腳之間的直流電阻值進行對比,以確定其是否正常。

2.在線測量 在線測量法是利用電壓測量法、電阻測量法及電流測量法等,通過在電路上測量集成電路的各引腳電壓值、電阻值和電流值是否正常,來判斷該集成電路是否損壞。

3.代換法 代換法是用已知完好的同型號、同規(guī)格集成電路來代換被測集成電路,可以判斷出該集成電路是否損壞。

(二)常用集成電路的檢測

1.微處理器集成電路的檢測 微處理器集成電路的關鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線輸入、輸出端。 在路測量這些關鍵腳對地的電阻值和電壓值,看是否與正常值(可從產(chǎn)品電路圖或有關維修資料中查出)相同。 不同型號微處理器的RESET復位電壓也不相同,有的是低電平復位,即在開機瞬間為低電平,復位后維持高電平;有的是高電平復位,即在開關瞬間為高電平,復位后維持低電平。

2.開關電源集成電路的檢測 開關電源集成電路的關鍵腳電壓是電源端(VCC)、激勵脈沖輸出端、電壓檢測輸入端、電流檢測輸入端。測量各引腳對地的電壓值和電阻值,若與正常值相差較大,在其外圍元器件正常的情況下,可以確定是該集成電路已損壞。 內(nèi)置大功率開關管的厚膜集成電路,還可通過測量開關管C、B、E極之間的正、反向電阻值,來判斷開關管是否正常。

3.音頻功放集成電路的檢測 檢查音頻功放集成電路時,應先檢測其電源端(正電源端和負電源端)、音頻輸入端、音頻輸出端及反饋端對地的電壓值和電阻值。若測得各引腳的數(shù)據(jù)值與正常值相差較大,其外圍元件與正常,則是該集成電路內(nèi)部損壞。 對引起無聲故障的音頻功放集成電路,測量其電源電壓正常時,可用信號干擾法來檢查。測量時,萬用表應置于R×1檔,將紅表筆接地,用黑表筆點觸音頻輸入端,正常時揚聲器中應有較強的“喀喀”聲。

4.運算放大器集成電路的檢測 用萬用表直流電壓檔,測量運算放大器輸出端與負電源端之間的電壓值(在靜態(tài)時電壓值較高)。用手持金屬鑷子依次點觸運算放大器的兩個輸入端(加入干擾信號),若萬用表表針有較大幅度的擺動,則說明該運算放大器完好;若萬用表表針不動,則說明運算放大器已損壞。

5.時基集成電路的檢測 時基集成電路內(nèi)含數(shù)字電路和模擬電路,用萬用表很難直接測出其好壞。可以用如圖9-13所示的測試電路來檢測時基集成電路的好壞。測試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開關S和8腳IC插座組成。將時基集成電路(例如NE555)插信IC插座后,按下電源開關S,若被測時基集成電路正常,則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光;若LED不亮或一直亮,則說明被測時基集成電路性能不良。

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